IEC 60749-30 Edition 1.1-2011
半导体器件的机械和环境试验.第30部分:非密封表面安装设备可靠性测试前的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

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标准号

IEC 60749-30 Edition 1.1-2011

发布日期

2011年08月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

IEC 60749-30 Edition 1.1-2011 中可能用到的仪器设备