DIN EN 60749-30:2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试前非密封表面安装设备预处理(IEC 60749-30-2005+A1-2011).德文版 EN 60749-30-2005+A1-2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011); German version EN 60749-30:2005 + A1:2011
- 标准号
- DIN EN 60749-30:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN EN 60749-30:2011
- 被代替标准
- DIN EN 60749-30:2005 DIN EN 60749-30/A1:2009
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