IEC 61967-2:2005
集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
IEC 61967-2:2005 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- IEC 61967-2:2005
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 61967-2:2005
- 引用标准
- IEC -60050-161:1990 IEC 60050-131:2002 IEC 61967-1
- 被代替标准
- IEC 47A/722/FDIS:2005
- 该测试程序定义了一种测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。被评估的 IC 安装在 IC 测试印刷电路板 (PCB) 上，该印刷电路板夹在横向电磁 (TEM) 或宽带千兆赫 TEM (GTEM) 顶部或底部切割的配合端口（称为墙壁端口）上。 ） 细胞。测试板不像常规使用那样位于电池内部，而是成为电池壁的一部分。该方法适用于任何经过改造以合并壁端口的 TEM ...
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