DS/EN 61967-2-2006

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method

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标准号

DS/EN 61967-2-2006

发布日期

2006年02月27日

实施日期

2006年02月27日

废止日期

无

国际标准分类号

31.200

发布单位

DK-DS

适用范围

This test procedure defines a method for measuring the electromagnetic radiation from an integrated circuit (IC). The IC being evaluated is mounted on an IC test printed circuit board (PCB) that is clamped to a mating port (referred to as a wall port) cut in the top or bottom of a transverse electromagnetic (TEM) or wideband gigahertz TEM (GTEM) cell.

DS/EN 61967-2-2006系列标准