ISO 15632:2012
微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
ISO 15632:2012 发布历史
ISO 15632:2012由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2012-08。
ISO 15632:2012 在中国标准分类中归属于: N53 电化学、热化学、光学式分析仪器，在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
ISO 15632:2012 发布之时，引用了标准
- ISO 23833 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇*， 2013-04-01 更新
* 在 ISO 15632:2012 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
ISO 15632:2012的历代版本如下：
- 2021年 ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- 2012年 ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- 2002年 ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
该国际标准定义了表征能量色散X射线光谱仪的最重要的量，该能量色散X射线光谱仪由半导体探测器、前置放大器和信号处理单元作为基本部件组成。 本国际标准仅适用于带有以固态电离原理工作的半导体探测器的光谱仪。 本国际标准规定了连接扫描电子显微镜（SEM）或电子探针微量分析仪（EPMA）的光谱仪的最低要求以及如何检查相关仪器性能参数。 ISO 22309[2] 和 ASTM E1508[3] 中概述了实际分析所用的程序，不属于本国际标准的范围。
- 标准号
- ISO 15632:2012
- 发布
- 2012年
- 中文版
- GB/T 20726-2015 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 15632:2021
- 当前最新
- ISO 15632:2021
- 引用标准
- ISO 23833
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