KS I 0051-1999
扫描电子显微镜试验方法通则

General rules for scanning electron microscopy


KS I 0051-1999 中,可能用到以下仪器设备

 

牛津仪器快速扫描电容显微镜(SCM)

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牛津仪器(上海)有限公司

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-IT300HR 扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜 SEM3200

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北京国仪精测技术有限公司

 

国仪量子扫描电子显微镜SEM3000标准型

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

国仪量子钨灯丝扫描电子显微镜 SEM3200

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

SEM3000S 扫描电子显微镜

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI “Quanta系列”环境扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Apreo 2 SEM场发射扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JCM-7000系列NeoScope 台式扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

SEM3100扫描电子显微镜

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

Prisma E SEM扫描电子显微镜

Prisma E SEM扫描电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JSM-7610F 热场发射扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Inspect S50 扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

FEI Inspect F50 场发射扫描电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

日本电子JSM-IT100 InTouchScope扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-IT500 InTouchScope扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

国仪量子 钨灯丝扫描电镜 SEM2000

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

国仪量子场发射扫描电镜SEM5000

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

Scios DualBeam 电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

赛默飞(原FEI)Axia ChemiSEM 智能型钨灯丝扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

钨灯丝扫描电镜 TESCAN VEGA COMPACT

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

赛默飞(原FEI)Quattro扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta 650 FEG环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

钨灯丝扫描电镜 SEM3300

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国仪量子(合肥)技术有限公司

 

FEI Magellan 400L XHR 场发射扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(LMH/LMU)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(GMH/GMU)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(XMU/XMH)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜(LM)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

TESCAN MIRA3场发射定制版扫描电镜(AMU)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

标准号
KS I 0051-1999
发布
1999年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS I 0051-1999(2019)
当前最新
KS I 0051-1999(2019)
 
 
被代替标准
M0044
이 규격은 주사 전자 현미경을 사용하고 주로 2차 전자에 의한 시료 표면의 미소한 부분의

KS I 0051-1999相似标准


KS I 0051-1999 中可能用到的仪器设备





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