JIS R1683-2014
用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy

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标准号

JIS R1683-2014

发布日期

2014年10月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

Q32

国际标准分类号

81.060.30

发布单位

JP-JISC

引用标准

JIS B0601 JIS B0633 JIS B0651 JIS Z8401

被代替标准

JIS R1683-2007