JIS R 1683:2014
用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy


JIS R 1683:2014 发布历史

JIS R 1683:2014由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2014-10-20。

JIS R 1683:2014 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷,在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。

JIS R 1683:2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法的最新版本是哪一版?

最新版本是 JIS R 1683:2014

JIS R 1683:2014 发布之时,引用了标准

  • JIS B 0601 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:剖面法.术语,定义和表面纹理参数
  • JIS B 0633 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.表面结构评定规则和程序
  • JIS B 0651 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.触针式仪器的标称特性
  • JIS Z 8401 数字四舍五入*2019-01-01 更新

* 在 JIS R 1683:2014 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

JIS R 1683:2014的历代版本如下:

  • 2014年 JIS R 1683:2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法
  • 2007年 JIS R 1683:2007 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

 

标准号
JIS R 1683:2014
发布
2014年
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS R 1683:2014
 
 
引用标准
JIS B 0601 JIS B 0633 JIS B 0651 JIS Z 8401
被代替标准
JIS R 1683:2007

JIS R 1683:2014相似标准


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