JIS R 1683:2014
用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy

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标准号: JIS R 1683:2014
发布: 2014年
发布单位: 日本工业标准调查会
当前最新: JIS R 1683:2014

引用标准: JIS B 0601 JIS B 0633 JIS B 0651 JIS Z 8401
被代替标准: JIS R 1683:2007

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