KS L 1619-2013
电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

Testing methods for resistivity of conductive fine ceramic thin films with four point probe array

KS L 1619-2013 发布历史

이 표준은 파인 세라믹 박막의 저항률을 4탐침법에 의해 시험하는 방법에 관하여 규정한다. 적용 가능한 저항률의 범위는 1×10-5 Ωcm∼2×102 Ωcm로 하며, 막의 두께는 500 μm 이하로 한다.

KS L 1619-2013由韩国标准 KR-KATS 发布于 2013-10-26，并于 2013/10/26 实施。

KS L 1619-2013 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

KS L 1619-2013的历代版本如下：

• 2003年01月06日 KS L 1619-2003 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
• 2013年10月26日 KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS L 1619-2013 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

KS L 1619-2013

发布日期

2013年10月26日

实施日期

2013年10月26日

废止日期

无

中国标准分类号

Q32

国际标准分类号

29.045

发布单位

KR-KATS

被代替标准

KS L 1619-2003

适用范围

이 표준은 파인 세라믹 박막의 저항률을 4탐침법에 의해 시험하는 방법에 관하여 규정한다. 적용 가능한 저항률의 범위는 1×10-5 Ωcm∼2×102 Ωcm로 하며, 막의 두께는 500 μm 이하로 한다.