GB/T 32282-2015
氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
Measurement of Dislocation Density in Gallium Nitride Single Crystal by Cathodoluminescence Microscopy
GBT32282-2015, GB32282-2015
GB/T 32282-2015 发布历史
GB/T 32282-2015由国家质检总局 CN-GB 发布于 2016-11-01，并于 2016-11-01 实施。
GB/T 32282-2015 发布之时，引用了标准
- GB/T 14264 半导体材料术语
- GB/T 1554 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
- GB/T 27788 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则*， 2020-06-02 更新
* 在 GB/T 32282-2015 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
GB/T 32282-2015的历代版本如下：
- 2016年 GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
- 标准号
- GB/T 32282-2015
- 别名
- GBT32282-2015
GB32282-2015 - 发布
- 2016年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 32282-2015
- 引用标准
- GB/T 14264 GB/T 1554 GB/T 27788
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