IEC 60147-0:1966
半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第0部分:总则和术语

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminology

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标准号: IEC 60147-0:1966
发布: 1966年
发布单位: 国际电工委员会
当前最新: IEC 60147-0:1966

代替标准: IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

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