IEC 60147-0-1966
半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第0部分:总则和术语

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminology

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标准号
IEC 60147-0-1966
发布日期
1966
实施日期
废止日期
无
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
2370
发布单位
IX-IEC
代替标准
IEC 60747-2-1983 IEC 60747-1-1983 IEC 60747-6-1983

IEC 60147-0-1966系列标准

IEC 60147-0B-1969 第2次补充 IEC 60147-0C-1973 第3次补充 IEC 60147-0D-1974 第4次补充 IEC 60147-1-1972 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第1部分:基本额定值和特性 IEC 60147-1F-1973 第6次补充 IEC 60147-1G-1975 第7次补充 IEC 60147-1J-1981 第10次补充 IEC 60147-2-1963 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第2部分:测量方法的一般原则 IEC 60147-2B-1970 第2次补充 IEC 60147-2C-1970 第3次补充 IEC 60147-2F-1974 第6次补充 IEC 60147-2K-1978 第11次补充 IEC 60147-2M-1980 第13次补充 IEC 60147-3-1970 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第3部分:基准测量方法 IEC 60147-3A-1973 第1次补充 IEC 60147-4-1976 半导体器件的基本额定值和特性以及测量方法的一般原则.第4部分:验收和可靠性

谁引用了IEC 60147-0-1966 更多引用

GOST 28623-1990 半导体器件.第10部分.分立器件和集成微型电路的一般技术条件形式 GOST 28623-1990 半导体器件.第10部分.分立器件和集成微型电路的一般技术条件形式


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