ASTM F773M-96(2003)
测量线性集成电路的剂量反应率的实施规范(米制)

Practice for Measuring Dose Rate Response of Linear Integrated Circuits [Metric]

被代替

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标准号

ASTM F773M-96(2003)

发布

1996年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F773M-10

当前最新

ASTM F773M-16

 

 

适用范围

1.1 本实践涵盖了在给定工作条件下线性集成电路对脉冲电离辐射响应的测量。该响应可能是瞬时的，也可能是更持久的，例如闩锁。辐射源是闪光X 射线机(FXR) 或电子直线加速器(LINAC)。
1.2 测量精度取决于辐射场的均匀性以及辐射剂量测定和记录仪器的精度。
1.3 如果总辐射剂量超过某个预先确定的水平或者如果部件锁住，则该测试对于进一步的测试或其他目的可以被认为是破坏性的。由于该水平取决于集成电路的类型和应用，因此测试各方必须就具体值达成一致。 （见 6.10。） 1.4 本实践中包括设置、校准和测试电路评估程序。
1.5 本实践中不包括批次鉴定和抽样程序。
1.6 由于响应随不同设备类型而变化，因此任何设备的剂量率范围都不同。本实践中没有给出具体的测试，但必须得到测试各方的同意。
1.7 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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