2.功能: ①半导体器件结温测量; ②半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量; ③半导体器件热阻和热容测量,给出器件的热阻热容结构(RC 网络结构); ④半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数; ⑤半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断,帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构; ⑥材料热特性测量(导热系数和比热容); ⑦接触热阻测量,包括导热胶...
这一缺陷主要是封装的结至外壳和结至PCB的热阻过高以及无芯片封装电阻(DFPR)过大造成的。 解决方法之一就是从器件顶部而不是通过PCB把热量吸走。InternationalRectifier公司的DirectFET封装就提供了这一能力。在DirectFET封装中,芯片被包裹在一个铜质外壳中,以方便热量从作为散热器的器件顶部散发掉。...
2、混合集成电路的失效混合集成电路工艺:IC工艺:氧化、扩散、镀膜、光刻等厚膜工艺:基板加工、制版、丝网印刷、烧结、激光调阻、分离元器件组装等薄膜工艺:基板加工、制版、薄膜制备、光刻、电镀等失效原因:元器件失效:31%互连失效:23%,引线键合失效、芯片粘结不良等沾污失效:21%关于混合集成电路:按制作工艺,可将集成电路分为:(1)半导体集成电路(基片:半导体) 即:单片集成电路(固体电路...
集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术,主要体现在加工设备,加工工艺,封装测试,批量生产及设计创新的能力上。...
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