IEC 63287-1-2021

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification


哪些标准引用了IEC 63287-1-2021

 

找不到引用IEC 63287-1-2021 Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification 的标准

 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 IEC 63287-1-2021 前三页,或者稍后再访问。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 



标准号
IEC 63287-1-2021
发布日期
2021年08月01日
实施日期
废止日期
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
IX-IEC(馆藏)
代替标准
IEC 60749-43-2017 IEC 47/2703/FDIS-2021
适用范围
This part of IEC 63287 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products. This document is not intended for military- and space-related applications.




Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号