IEC 63287-1-2021 发布历史

This part of IEC 63287 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products. This document is not intended for military- and space-related applications.

IEC 63287-1-2021由IX-IEC(馆藏) 发布于 2021-08-01。

IEC 63287-1-2021在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

IEC 63287-1-2021的历代版本如下：

2021年08月01日 IEC 63287-1-2021

IEC 63287-1-2021 Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification 于 2017-06-15 变更为 IEC 60749-43-2017 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第43部分:Ic可靠性资格认证计划指南。

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标准号: IEC 63287-1-2021
发布日期: 2021年08月01日
实施日期
废止日期: 无
国际标准分类号: 31.080.01
发布单位: IX-IEC(馆藏)
代替标准: IEC 60749-43-2017 IEC 47/2703/FDIS-2021

适用范围: This part of IEC 63287 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products. This document is not intended for military- and space-related applications.