另外,仪器对银的“K”系列X射线侦测不适合,因为金属厚度变化引起的信号变化很小。结果是厚度测量不精确,及对较小的镀层厚度变化不敏感。重复性和再现性的研究显示,不准确性达到50%或者更高。 2、源于环氧树脂板材料的高能量X射线散射,这个散射光将在浸银的光谱区域产生过多的背景噪声,进一步的降低了测量的精确性。这个背景噪声强度同样也随基材铜厚度的变化而变化。...
四、消除外界干扰,让测量水到渠成 在使用XRF测量浸锡厚度时,会出现两个主要的问题,即信号强度和背景噪声的问题。 1、因为信号强度非常低,导致测量精度下降。另外,仪器对锡的“K”系列X射线侦测不适合,因为金属厚度变化引起的信号变化很小。结果是厚度测量不精确,及对较小的镀层厚度变化不敏感。重复性和再现性的研究显示,不准确性达到50%或者更高。 ...
用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。 X-ray 方法: X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。...
X-ray 方法:X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。...
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