ISO 3497:1990
金属镀层.镀层厚度的测量.X射线光谱测定法
Metallic coatings; measurement of coating thickness; X-ray spectrometric methods
ISO 3497:1990 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- ISO 3497:1990
- 发布
- 1990年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 3497:2000
- 当前最新
- ISO 3497:2000
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镀层厚度测试检测方法
X-ray 方法：X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。...
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四、消除外界干扰，让测量水到渠成 在使用XRF测量浸锡厚度时，会出现两个主要的问题，即信号强度和背景噪声的问题。 1、因为信号强度非常低，导致测量精度下降。另外，仪器对锡的“K”系列X射线侦测不适合，因为金属厚度变化引起的信号变化很小。结果是厚度测量不精确，及对较小的镀层厚度变化不敏感。重复性和再现性的研究显示，不准确性达到50%或者更高。 ...
ISO 3497:1990 中可能用到的仪器设备
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