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光谱 半高 图
本专题涉及光谱 半高 图的标准有126条。
国际标准分类中，光谱 半高 图涉及到航天系统和操作装置、光学和光学测量、分析化学、有色金属、农业和林业、钢铁产品、印制技术、计算机图形技术、光电子学、激光设备、橡胶和塑料制品、肉、肉制品和其他动物类食品、地质学、气象学、水文学、非金属矿、电子元器件综合、信息技术应用、养蜂、半导体分立器件、电信综合、无机化学、热力学和温度测量、涂料和清漆、半导体材料、辐射测量、陶瓷、金属材料试验、信息技术(IT)综合、光纤通信、摄影技术、天文学、大地测量学、地理学、黑色金属、纺织产品、烟草、烟草制品和烟草工业设备、铁合金。
在中国标准分类中，光谱 半高 图涉及到电子计算机应用、航天器遥测遥感系统、、光学仪器综合、金相检验方法、计算机图形、半导体发光器件、日用塑料制品、基础标准与通用方法、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、畜、禽产品、气象学、航空与航天用非金属材料、药用植物与产品、电子技术专用材料、养蜂、养蚕、重金属及其合金、无机盐、印刷技术、温度与压力仪表、涂料、载波通信设备、稀有金属及其合金分析方法、特种陶瓷、贵金属及其合金分析方法、石墨材料、光通信设备、光电子器件综合、半金属与半导体材料综合、化学、摄影与遥感测绘、金属化学分析方法综合、钢铁与铁合金分析方法、烟草制品、冶金辅助原料矿、食品卫生。
空间数据系统咨询委员会，关于光谱 半高 图的标准
- CCSDS 123.0-B-1-2012 无损多光谱和高光谱图像压缩
- CCSDS 123.0-B-2 Technical Corrigendum 3-2021 低复杂度无损和近无损多光谱和高光谱图像压缩；技术勘误 3
国际标准化组织，关于光谱 半高 图的标准
- ISO 18381:2013 空间数据和信息传输系统.多光谱和高光谱图像无损压缩
- ISO 13655:1996 印刷技术 印刷图像的光谱测量和色度计算
- ISO 19618:2017 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 利用FTIR光谱仪参考黑体的法向光谱辐射率测量方法
- ISO 14605:2013 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).室内照明环境用测试半导体光电材料光源
- ISO 13655:2009 印刷技术.平面艺术图像的光谱测量和色度计算
- ISO 13655:2017 印刷技术.平面艺术图像的光谱测量和色度计算
英国标准学会，关于光谱 半高 图的标准
- BS ISO 18381:2013 空间数据和信息传输系统.多光谱和高光谱图像无损压缩
- 20/30391483 DC BS ISO 24121 空间数据和信息传输系统 用于多光谱和高光谱图像压缩的光谱预处理变换
- BS ISO 13655:2017 图形技术 图形艺术图像的光谱测量和色度计算
- BS ISO 10677:2011 精细陶瓷(高级陶瓷,高级技术陶瓷).半导体光催化材料测试用紫外光源
- BS ISO 19618:2017 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 利用FTIR光谱仪参考黑体的法向光谱辐射率测量方法
- BS IEC 60747-5-15:2022 半导体器件-光电器件 发光二极管 基于电反射光谱的平带电压测试方法
- BS ISO 13655:2010 印刷技术 平面艺术图像的光谱测量和色度计算
- BS ISO 13655:2009 印刷技术.平面艺术图像的光谱测量和色度计算
- BS IEC 60747-5-16:2023 半导体器件-光电器件 发光二极管 基于光电流谱的GaN基发光二极管平带电压测试方法
国家质检总局，关于光谱 半高 图的标准
- GB/T 42650-2023 空间数据与信息传输系统 多光谱和高光谱图像无损及近无损压缩
- GB/T 31010-2014 色散型高光谱遥感器实验室光谱定标
- GB/T 14999.5-1994 高温合金低倍、高倍组织标准评级图谱
- GB/T 29856-2013 半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
- GB/T 21548-2008 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
- GB/T 19437-2004 印刷技术 印刷图像的光谱测量和色度计算
- GB/T 36164-2018 高合金钢 多元素含量的测定 X射线荧光光谱法(常规法)
- GB/T 7731.2-2007 钨铁 锰含量的测定 高碘酸盐分光光度法和火焰原子吸收光谱法
台湾地方标准，关于光谱 半高 图的标准
- CNS 13805-1997 光电半导体晶圆之光激光谱量测法
中国团体标准，关于光谱 半高 图的标准
- T/HCCC 01-2022 罗定肉桂 高效液相色谱指纹图谱法
- T/YNBX 085-2023 天麻真伪鉴别 高效液相色谱指纹图谱法
- T/YNBX 084-2023 铁皮石斛真伪鉴别 高效液相色谱指纹图谱法
- T/QGCML 2041-2023 878 nm高功率半导体激光器芯片
- T/SHDSGY 031-2023 高分辨率光谱仪技术规范
- T/SDIOT 029-2022 高光谱智能监测水质系统技术规范
- T/CARSA 1.6-2022 基于低空无人机的高分卫星遥感产品 真实性检验 第6部分：多光谱、高光谱遥感影像数据与激光雷达数据预处理
- T/ZFB 0050-2023 纺织品 涤棉混纺织物定量分析 高光谱法
- T/CARSA 2-2022 微纳卫星高光谱影像数据基础产品规范
- T/CNIA 0107.1-2021 铜及铜合金显微组织及断口图谱 第1部分：高铜系列
RU-GOST R，关于光谱 半高 图的标准
- GOST 12550.2-1982 钯铱合金.光谱图分析法
- GOST 12559.2-1982 铂铱合金.光谱图分析法
- GOST 25567-1982 精选高岭土.光谱分析法
- GOST 19834.3-1976 半导体辐射器.辐射能量相对光谱分布和辐射光谱宽度测量方法
- GOST 27981.1-1988 高纯度铜.原子光谱分析法
- GOST 27981.1-2015 高纯铜. 原子光谱分析方法
- GOST 23116.2-1978 高纯度镉.汞的光谱测定法
- GOST 23116.4-1978 高纯度镉.锌的光谱测定法
- GOST 22518.4-1977 高纯度铅.汞含量光谱测定法
- GOST 23116.5-1978 高纯度镉.铊的化学光谱测定法
- GOST 24977.2-1981 高纯度碲.杂质含量光谱测定法
- GOST 27981.3-1988 高纯度铜 具有光谱光电记录的发射光谱分析方法/注：将由 GOST 31382（2009）替代
- GOST 20766-1975 电离辐射半导体光谱探测器.型式和基本参数
- GOST 21195-1984 高强度光辐射气体放电光谱源.一般技术条件
- GOST 24977.1-1981 高纯度碲.杂质含量化学光谱测定法
- GOST 22518.1-1977 高纯度铅.对杂质含量化学-光谱测定法
- GOST 23116.0-1983 高纯度镉.对光谱分析方法的一般要求
- GOST 23116.3-1978 高纯度镉.铁、铜、镍、锡和铅的光谱测定法
- GOST 24977.3-1981 高纯度碲.砷、锑汞和锡含量光谱测定法
广西壮族自治区标准，关于光谱 半高 图的标准
- DB45/T 869-2012 蛤蚧的鉴别 高效液相色谱指纹图谱法
- DB45/T 870-2012 红毛鸡的鉴别 高效液相色谱指纹图谱法
- DB45/T 868-2012 穿山甲甲片的鉴别 高效液相色谱指纹图谱法
韩国科技标准局，关于光谱 半高 图的标准
- KS X ISO 13655-2006(2016) 图形技术图形艺术图像的光谱测量和色度计算
- KS X ISO 13655:2021 图形技术.图形艺术图像的光谱测量和色度计算
- KS X ISO 13655-2006(2021) 图形技术——图形艺术图像的光谱测量和色度计算
- KS D 1683-2004 发射光谱是计量多远图片的方法
- KS X ISO 13655:2006 制图技术.制图艺术成象用光谱测量和比色的计算
- KS M ISO 16773-4:2013 涂料和清漆.高阻抗涂层样品的电化学阻抗频谱(EIS).第4部分:聚合体图层试块的光谱实例
- KS A ISO 5-3-2011(2016) 摄影和制图技术密度测量第3部分:光谱条件
- KS A ISO 5-3-2011(2021) 摄影和制图技术密度测量第3部分:光谱条件
- KS D 2717-2008 单层碳纳米管、金属/半导体成分比评估.吸收光谱法
- KS D ISO 17054:2018 通过X射线荧光光谱法（XRF）分析高合金钢的常规方法
- KS C IEC 61290-3-2:2005 光纤放大器.试验方法.第3-2部分:噪音图形参数.电气光谱分析法
美国国家标准学会，关于光谱 半高 图的标准
- ANSI CGATS.5-2009 图形技术.图形工艺图象的光谱测量和比色计算
KR-KS，关于光谱 半高 图的标准
- KS X ISO 13655-2021 图形技术.图形艺术图像的光谱测量和色度计算
- KS L ISO 10677-2023 精细陶瓷（高级陶瓷、高级工艺陶瓷）半导体光催化材料测试用紫外光源
- KS D ISO 17054-2018 通过X射线荧光光谱法（XRF）分析高合金钢的常规方法
- KS L ISO 14605-2023 精细陶瓷（高级陶瓷、高级工艺陶瓷）室内照明环境下半导体光催化材料测试用光源
行业标准-电子，关于光谱 半高 图的标准
- SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ/T 11401-2009 半导体发光二极管产品系列型谱
- SJ/Z 3206.13-1989 半导体材料发射光谱分析方法通则
- SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ 50033/35-1994 GH30型半导体高速光耦合器详细规范
- SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
海南省标准，关于光谱 半高 图的标准
- DB46/T 519-2020 全生物降解塑料制品 红外光谱/拉曼光谱指纹图谱快速检测法
行业标准-航空，关于光谱 半高 图的标准
- HB/Z 359-2005 荧光渗透检测典型显示图谱
- HB 5490-1991 航空非金属材料商品红外光谱标准谱图集
- HB 5220.46-1995 高温合金化学分析方法 半二甲酚橙吸光光度法测定铋含量
国家军用标准-总装备部，关于光谱 半高 图的标准
- GJB 4531-2002 监控化学品标准红外光谱图
- GJB/Z 41.3-1993 军用半导体分立器件系列型谱 半导体光电子器件
- GJB 9726-2020 星载高光谱成像仪规范
- GJB 9079-2017 高光谱侦察数据星地传输要求
农业农村部，关于光谱 半高 图的标准
- NY/T 3947-2021 畜禽肉中硒代胱氨酸、甲基硝代半胱氨酸和硒代蛋氨酸的测定 高效液相色谱-原子荧光光谱法
行业标准-气象，关于光谱 半高 图的标准
- QX/T 159-2012 地基傅立叶变换高光谱仪大气光谱观测规范
行业标准-供销合作社，关于光谱 半高 图的标准
- GH/T 1087-2013 蜂胶真实性鉴别方法 高效液相色谱指纹图谱法
国际照明委员会，关于光谱 半高 图的标准
- CIE 170-2-2015 带生理轴的基本色度图 第2部分：光谱发光效率函数和色度图
国际电信联盟，关于光谱 半高 图的标准
- ITU-R SM.856-1997 新的光谱高效技术和系统
德国标准化学会，关于光谱 半高 图的标准
- DIN 51866-1:2000 温度测量.第1部分:激光光谱学测量法的测量图
欧洲标准化委员会，关于光谱 半高 图的标准
- EN ISO 16773-4:2009 色漆和清漆.高阻抗涂层样品的电化学阻抗频谱(EIS).第4部分:聚合体图层试块的光谱实例
IN-BIS，关于光谱 半高 图的标准
- IS 12737-1988 半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱 半高 图的标准
- GB/T 21548-2021 光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
- GB/T 36301-2018 航天高光谱成像数据预处理产品分级
- GB/T 5195.11-2021 萤石 锰含量的测定 高碘酸盐分光光度法和火焰原子吸收光谱法
RO-ASRO，关于光谱 半高 图的标准
- STAS 10837/2-1977 硒、铁、硅、银、铜、镁、铅、锡、锑、砷杂质半定量光谱测定
行业标准-有色金属，关于光谱 半高 图的标准
- YS/T 230.2-1994 高纯铟中铁量的测定 化学光谱法
- YS/T 365-2006 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析
- YS/T 365-1994 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析
法国标准化协会，关于光谱 半高 图的标准
- NF B44-103*NF ISO 10677:2011 细瓷（高级陶瓷、高级工业陶瓷）测试半导体光催化材料所用的紫外光源
- NF C93-805-3-2*NF EN 61290-3-2:2009 光纤放大器 试验方法 第3-2部分：噪音图形参数 电光谱分析方法
行业标准-商品检验，关于光谱 半高 图的标准
- SN/T 3377-2012 色漆中铅含量的测定.能量色散X射线荧光光谱半定量筛选法
- SN/T 2724-2010 进出口高纯石墨中硫的测定 X射线荧光光谱法
- SN/T 2888-2011 出口食品接触材料 高分子材料 高密度聚乙烯中锑的测定 原子荧光光谱法
行业标准-邮电通信，关于光谱 半高 图的标准
- YD/T 1687.1-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gbit/s致冷型直接调制半导体激光器组件
- YD/T 1687.2-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分：2.5Gbit/s无致冷型直接调制半导体激光器组件
CZ-CSN，关于光谱 半高 图的标准
- CSN 42 0600 Cast.5-1975 高纯度的锑．化学分析和光谱分析方法．光谱法测定银；铋；铜；铁；镍；铅和锡
- CSN 42 0600 Cast.3-1975 高纯度锑．化学分析和光谱分析方法．光度法测定砷
美国材料与试验协会，关于光谱 半高 图的标准
- ASTM E307-72(1996)e1 升高温度时标准光谱发射的试验方法
- ASTM E307-72(2002) 升高温度时标准光谱发射的试验方法
- ASTM G177-03(2020) 参考太阳紫外光谱分布标准表:37°；倾斜表面半球形
- ASTM E307-72(2019) 高温下正常光谱发射率的标准试验方法
- ASTM E1329-00 化学光谱分析的控制图的检查和使用的标准规程
- ASTM E1329-00(2005) 化学光谱分析的控制图的检查和使用的标准规程
- ASTM G177-03(2012) 参考太阳紫外线光谱分布的标准表: 37度斜面上半球状
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，关于光谱 半高 图的标准
- SPA-M2-2-2007 使用振动光谱对沥青质进行高级表征
GB-REG，关于光谱 半高 图的标准
- REG NASA-LLIS-0903-2000 高能光谱成像仪测试事故的经验教训
重庆市地方标准，关于光谱 半高 图的标准
- DB50/T 1449-2023 茶园土壤有机质高光谱检测技术规程
(美国)福特汽车标准，关于光谱 半高 图的标准
- FORD WSS-M1H1161-A1-2014 织物，光谱图案，提花机织，未层压 ***用于福特 WSS-M99P1111-A***
工业和信息化部，关于光谱 半高 图的标准
- YB/T 4997-2022 光谱化学分析中的校验和质量控制图的使用规则
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于光谱 半高 图的标准
- IEEE 1131-1987 锗半导体伽马射线光谱仪的标准低温恒温器端盖尺寸
国家烟草专卖局，关于光谱 半高 图的标准
- YC/T 561-2018 烟草特征性成分 烟碱旋光异构体比例的测定 高效液相色谱法和超高效合相色谱-串联质谱法
