EN
RU
ES

晶体 取向

本专题涉及晶体 取向的标准有10条。

国际标准分类中，晶体 取向涉及到金属材料试验、黑色金属、半导体材料。

在中国标准分类中，晶体 取向涉及到金相检验方法、金属化学分析方法综合、基础标准与通用方法、元素半导体材料。

美国材料与试验协会，关于晶体 取向的标准

• ASTM E82-91(1996) 测定金属晶体取向的标准试验方法
• ASTM E82-91(2007) 测定金属晶体取向的标准试验方法
• ASTM E82/E82M-14(2019) 测定金属晶体取向的标准试验方法
• ASTM E82/E82M-14 测定金属晶体取向的标准试验方法
• ASTM E82-09 测定金属晶体取向的标准试验方法
• ASTM E975-00 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践

行业标准-航空，关于晶体 取向的标准

• HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

德国标准化学会，关于晶体 取向的标准

• DIN 50433-2:1976 无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向
• DIN 50433-3:1982 半导体工艺材料的检验.第3部分:采用劳埃反向散射法测定单晶体取向
• DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定

本站其他标准专题： 晶体 取向，晶体 取向 方法，取向，薄膜 取向，的取向，薄膜取向，膜取向 ，取向连接，取向 分析，取向分析，面 取向，随机取向，取向 面，晶粒 取向，结构取向，晶粒取向，取向以及，取向 纤维，晶体 晶体，晶体 晶体 衍射。

 

可能用到的仪器设备