DIN 50433-2:1976
无机半导体材料的检验.第2部分:采用反射光影法测定单晶体取向
Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of optical reflection figure
- 标准号
- DIN 50433-2:1976
- 发布
- 1976年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN 50433-2:1976
- 适用范围
- 半导体无机材料测试；通过光学反射图确定单晶的取向测试矿物半导体材料；通过光学反射测定单晶的取向
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