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能谱仪 半导体
本专题涉及能谱仪 半导体的标准有8条。
国际标准分类中，能谱仪 半导体涉及到辐射测量、核能工程。
在中国标准分类中，能谱仪 半导体涉及到通用核仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、核仪器与核探测器综合。
SE-SIS，关于能谱仪 半导体的标准
- SIS SS IEC 759:1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序
CZ-CSN，关于能谱仪 半导体的标准
- CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
韩国科技标准局，关于能谱仪 半导体的标准
- KS C IEC 60759:2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
国际电工委员会，关于能谱仪 半导体的标准
- IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
- IEC 60759:1983/AMD1:1991 半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1
美国电气电子工程师学会，关于能谱仪 半导体的标准
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序
国家质检总局，关于能谱仪 半导体的标准
- GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
