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xps和
本专题涉及xps和的标准有15条。
国际标准分类中，xps和涉及到分析化学。
在中国标准分类中，xps和涉及到基础标准与通用方法、化学。
英国标准学会，关于xps和的标准
- BS ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 16531:2020 表面化学分析 深度剖析 离子束对准方法以及 AES 和 XPS 中深度分析的电流或电流密度的相关测量方法
- 19/30399949 DC BS ISO 16531 表面化学分析 深度剖析 离子束对准方法以及 AES 和 XPS 中深度分析的电流或电流密度的相关测量方法
法国标准化协会，关于xps和的标准
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
国际标准化组织，关于xps和的标准
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深度分析 - 离子束对准方法和相关的电流或电流密度测量 用于AES和XPS中的深度分析
GSO，关于xps和的标准
- GSO ISO 16243:2015 表面化学分析 在 X 射线光电子能谱 (XPS) 中记录和报告数据
- OS GSO ISO 16243:2015 表面化学分析 在 X 射线光电子能谱 (XPS) 中记录和报告数据
- BH GSO ISO 16243:2017 表面化学分析 在 X 射线光电子能谱 (XPS) 中记录和报告数据
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于xps和的标准
- GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
SCC，关于xps和的标准
- 12/30241146 DC BS ISO 16531 表面化学分析 深度剖析 AES 和 XPS 深度剖析中离子束对准方法及相关电流或电流密度测量
- 10/30199175 DC BS ISO 16243 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据的记录和报告
RU-GOST R，关于xps和的标准
- GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
