tem的测量方法
本专题涉及tem的测量方法的标准有20条。
国际标准分类中，tem的测量方法涉及到集成电路、微电子学、电磁兼容性(EMC)、道路车辆装置、半导体分立器件。
在中国标准分类中，tem的测量方法涉及到半导体集成电路、电子、电气设备。
法国标准化协会，关于tem的测量方法的标准
- NF EN 62132-2:2011 集成电路 - 电磁抗扰度的测量 - 第 2 部分：辐射抗扰度的测量 - TEM 池方法和宽带 TEM 池
- NF EN IEC 61967-8:2023 集成电路 - 电磁发射的测量 - 第 8 部分：辐射发射的测量 - 集成电路的 TEM 带状线方法
- NF EN 61967-2:2006 集成电路 - 电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：辐射发射测量 - TEM 室方法和宽带 TEM 室
美国机动车工程师协会，关于tem的测量方法的标准
- SAE J1752/3-1995 集成电路辐射发射的测量-Tem/宽带 Tem（Gtem）电池方法； Tem Cell（150 Khz 至 1 Ghz）、宽带 Tem Cell（150 Khz 至 8 Ghz）
- SAE J1752/3-2003 集成电路 TEM/宽带 TEM（GTEM）单元法的辐射发射测量； TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、宽带 TEM 小室（150 kHz 至 8 GHz）
- SAE J1752/3-2011 采用集成电路TEM /宽带TEM(GTEM)单元方式的辐射排放测量;TEM单元(150 kHz至1 GHz),宽带TEM单元(150 kHz至 8 GHz)
ES-UNE，关于tem的测量方法的标准
- UNE-EN 62132-2:2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- UNE-EN 61967-2:2005 集成电路 电磁辐射测量 150kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
SCC，关于tem的测量方法的标准
- DANSK DS/EN 62132-2:2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- CEI EN 62132-2:2012 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- CEI EN 61967-2:2006 集成电路 电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量、TEM 室和宽带 TEM 室方法
- DANSK DS/EN 61967-2:2005 集成电路 电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
GSO，关于tem的测量方法的标准
- BH GSO IEC 62132-2:2016 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- GSO IEC 62132-2:2013 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- GSO IEC 61967-2:2015 集成电路 电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室方法和宽带 TEM 室
- BH GSO IEC 61967-2:2016 集成电路 电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- OS GSO IEC 61967-2:2015 集成电路 电磁辐射测量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
英国标准学会，关于tem的测量方法的标准
- BS EN 62132-2:2011 集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法
丹麦标准化协会，关于tem的测量方法的标准
- DS/EN 61967-2:2006 集成电路 电磁发射的测量，150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射的测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室方法
立陶宛标准局，关于tem的测量方法的标准
- LST EN 62132-2-2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室方法（IEC 62132-2:2010）
