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电子显微镜图像分析依据

本专题涉及电子显微镜图像分析依据的标准有27条。

国际标准分类中,电子显微镜图像分析依据涉及到光学设备、分析化学。

在中国标准分类中,电子显微镜图像分析依据涉及到放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法。


韩国科技标准局,关于电子显微镜图像分析依据的标准

国际标准化组织,关于电子显微镜图像分析依据的标准

  • ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
  • ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
  • ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
  • ISO/CD 20263:2023 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
  • ISO 23729:2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
  • ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
  • ISO 29301:2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
  • ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法

法国标准化协会,关于电子显微镜图像分析依据的标准

英国标准学会,关于电子显微镜图像分析依据的标准

  • BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
  • BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
  • BS ISO 20263:2017 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
  • BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
  • BS ISO 29301:2017 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • BS ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法

日本工业标准调查会,关于电子显微镜图像分析依据的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于电子显微镜图像分析依据的标准

  • GB/T 33838-2017 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法
  • GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

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