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透射电子显微镜图像分析
本专题涉及透射电子显微镜图像分析的标准有88条。
国际标准分类中，透射电子显微镜图像分析涉及到分析化学、教育、光学设备、光学和光学测量、金属材料试验、复合增强材料、空气质量、危险品防护、纸和纸板、医学科学和保健装置综合。
在中国标准分类中，透射电子显微镜图像分析涉及到基础标准与通用方法、教学专用仪器、电子光学与其他物理光学仪器、放大镜与显微镜、金相检验方法、化学试剂综合、电化学、热化学、光学式分析仪器、、物质成份分析仪器与环境监测仪器、光学仪器综合、环境卫生、卫生、安全、劳动保护、建材原料矿、造纸综合、纸。
国际标准化组织，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
- ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
- ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
- ISO 25498:2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析电子显微镜 透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
- ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO 19214:2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法
- ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
- ISO/TS 22292:2021 纳米技术.用透射电子显微镜重建棒支撑纳米物体的三维图像
- ISO/CD 20263:2023 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
- ISO 23729:2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
- ISO 29301:2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
- ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- ISO 21363:2020 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定粒度分布的方案
英国标准学会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
- BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
- BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
- BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
- PD ISO/TS 22292:2021 纳米技术 使用透射电子显微镜重建棒状纳米物体的 3D 图像
- BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法
- BS PD ISO/TS 22292:2021 纳米技术 利用透射电子显微镜重建杆支撑纳米物体的三维图像
- BS ISO 20263:2017 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
- BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
- BS ISO 29301:2017 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- BS ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
- BS EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 21363:2020 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
行业标准-教育，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
国家质检总局，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
- GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
- GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
- GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
- GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
工业和信息化部，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- YB/T 4676-2018 钢中析出相的分析 透射电子显微镜法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
韩国科技标准局，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－扫描电子显微镜－图像放大率校准指南
- KS D ISO TR 17270:2007 微束分析－分析透射电子显微术－电子能量损失谱学实验参数测定技术报告
法国标准化协会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 扫描电子显微镜 评价图像清晰度的方法
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 扫描电子显微镜 - 评估图像清晰度的方法
- NF T16-404:2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布
- NF EN ISO 21363:2022 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定颗粒尺寸和形状分布
日本工业标准调查会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
- JIS K 3850-3:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第3部分:间接传递透射电子显微镜法
- JIS K 3850-2:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第2部分:直接传递透射电子显微镜法
行业标准-机械，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- JB/T 5585-1991 透射电子显微镜分辨力测试方法
- JB/T 5586-1991 透射电子显微镜分类和基本参数
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
- GB/T 33838-2017 微束分析 扫描电子显微术 图像锐度评估方法
国际电工委员会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- ISO TS 22292:2021 纳米技术——使用透射电子显微镜对棒支撑的纳米物体进行3D图像重建
丹麦标准化协会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- DS/ISO/TS 22292:2021 纳米技术 使用透射电子显微镜对杆状支撑的纳米物体进行 3D 图像重建
中国团体标准，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法
PH-BPS，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- PNS ISO 21363:2021 纳米技术.用透射电子显微镜测量粒度和形状分布
欧洲标准化委员会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- EN ISO 21363:2022 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定粒度分布的方案
- prEN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
KR-KS，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- KS D ISO TR 17270-2007 微束分析－分析透射电子显微术－电子能量损失谱学实验参数测定技术报告
- KS C ISO 21363-2023 纳米技术——用透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
ES-UNE，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- UNE-EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
AT-ON，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- OENORM EN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
美国材料与试验协会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- ASTM D5756-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉质量浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5756-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉质量浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5756-02(2008) 用透射电子显微镜对尘埃中石棉块表面负荷作微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-03 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-09 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
- ASTM D6480-05(2010) 用透射电子显微镜对表面擦拭取样中石棉结构值浓度间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM D6480-05 用透射电子显微镜检查法对石棉结构数密度进行表面的擦拭取样、间接制备和分析的标准试验方法
- ASTM D8526-23 使用透射电子显微镜测定环境大气中碳纳米管和含碳纳米管颗粒浓度的分析程序的标准试验方法
未注明发布机构，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- DIN EN ISO 21363:2022 纳米技术 – 使用透射电子显微镜测量颗粒尺寸和颗粒形状分布
德国标准化学会，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- DIN EN ISO 21363:2022-03 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布 (ISO 21363:2020)
IX-IX-IEC，关于透射电子显微镜图像分析的标准
- IEC TS 62607-6-17:2023 纳米制造 关键控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 阶参数：X 射线衍射和透射电子显微镜
