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集成电路 测量

本专题涉及集成电路 测量的标准有20条。

国际标准分类中，集成电路 测量涉及到词汇、电磁兼容性(EMC)、集成电路、微电子学。

在中国标准分类中，集成电路 测量涉及到。

PL-PKN，关于集成电路 测量的标准

• PN T01303-03-1991 半导体器件．集成电路．模拟集成电路．测量方法
• PN T01303-03-A1-1991 半导体器件．集成电路，模拟集成电路测量方法修订I

RO-ASRO，关于集成电路 测量的标准

• STAS 12161-1984 数字集成电路测量主要电气参数的方法
• STAS 11048-1978 线性集成电路测量持续电压调节器的参数的处方

IN-BIS，关于集成电路 测量的标准

• IS 12970 Pt.3/Sec.1-1992 半导体器件——集成电路 第3部分数字集成电路——测量方法 第1节：总则
• IS 12970 Pt.6/Sec.1-1992 半导体器件——集成电路 第6部分模拟集成电路 测量方法 第1节：总则
• IS 12970 Pt.3/Sec.3-1993 半导体器件——集成电路 第3部分数字集成电路——测量方法 第3节：动态测量
• IS 12970 Pt.6/Sec.3-1992 半导体器件——集成电路 第6部分模拟集成电路测量方法 第3节：稳压器
• IS 12970 Pt.3/Sec.2-1992 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 测量方法 第 2 节：静态特性
• IS 12970 Pt.6/Sec.2-1992 半导体器件——集成电路 第6部分模拟集成电路 测量方法 第2节：线性放大器

美国机动车工程师协会，关于集成电路 测量的标准

• SAE J1752/1-1997 集成电路电磁兼容性测量规程-集成电路EMC测量规程-总则和定义
• SAE J1752/1-2006 集成电路电磁兼容性测量程序-集成电路EMC测量程序-总则和定义
• SAE J1752-1-1997 集成电路的电磁兼容性测量程序 集成电路 EMC 测量程序 概述和定义
• SAE J1752-1-2021 集成电路的电磁兼容性测量程序集成电路EMC测量程序总则和定义
• SAE J1752/1-2016 集成电路的电磁兼容性测量程序 集成电路 EMC 测量程序 概述和定义
• SAE J1752/1-2021 集成电路的电磁兼容性测量程序 集成电路 EMC 测量程序 概述和定义
• SAE J1752-3-2017 集成电路的电磁兼容性测量程序集成电路EMC测量程序总则和定义

SAE - SAE International，关于集成电路 测量的标准

• SAE J1752-3-2003 集成电路的电磁兼容性测量程序集成电路EMC测量程序总则和定义
• SAE J1752-1-2016 集成电路的电磁兼容性测量程序集成电路EMC测量程序总则和定义

立陶宛标准局，关于集成电路 测量的标准

• LST EN 61967-6-2003 集成电路 测量 150 kHz 至 1 GHz 的电磁辐射 第6部分：传导发射的测量 磁性探针法（IEC 61967-6:2002）

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