EN
RU
ES
集成电路 测试
本专题涉及集成电路 测试的标准有33条。
国际标准分类中，集成电路 测试涉及到电学、磁学、电和磁的测量、半导体分立器件、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，集成电路 测试涉及到通用电子测量仪器设备及系统、计量综合、电磁计量、半导体集成电路、电子试验用仪器设备、技术管理、微电路综合。
国家计量检定规程，关于集成电路 测试的标准
- JJG(电子) 04021-1989 BJ3110型MOS集成电路测试仪检定规程
- JJG(电子) 04042-1991 GH3111/3111G型集成电路测试仪检定规程
- JJG 1015-2006 通用数字集成电路测试系统检定规程
- JJG(电子) 04032-1989 BJ3122（QL11）型逻辑集成电路测试仪检定规程
- JJG(电子) 04034-1989 GR1731M型模拟集成电路测试系统检定规程
- JJG(电子) 04035-1989 GR1732M型数字集成电路测试系统检定规程
- JJG(电子) 04029-1989 J273B型线性集成电路测试系统检定规程
- JJG(电子) 04031-1989 9200型大规模集成电路测试系统检定规程
- JJG(电子) 04033-1989 BJ3123型双极型逻辑集成电路测试仪检定规程
- JJG(船舶) 22-1998 SID大规模数字集成电路测试系统检定规程
- JJG(船舶) 23-1998 ITS9000系列超大规模集成电路测试系统检定规程
国家计量技术规范，关于集成电路 测试的标准
- JJF 1160-2006 中小规模数字集成电路测试设备校准规范
美国电气电子工程师学会，关于集成电路 测试的标准
- IEEE 1838-2019 三维堆叠集成电路测试访问架构的 IEEE 标准
- IEEE Std 1838-2019 三维堆叠集成电路测试访问架构的 IEEE 标准
- IEEE P1838_D1 January 2019 三维堆叠集成电路测试访问架构的 IEEE 标准草案
- IEEE P1838_D2.0, August 2019 三维堆叠集成电路测试访问架构的 IEEE 标准草案
- IEEE P1838_D3.00, September 2019 IEEE 批准的三维堆叠集成电路测试访问架构标准草案
国家军用标准-总装备部，关于集成电路 测试的标准
- GJB/J 3524-1999 S10型大规模数字集成电路测试系统检定规程
- GJB/J 3523-1999 S15型超大规模数字集成电路测试系统检定规程
韩国科技标准局，关于集成电路 测试的标准
- KS C 5113-1983(1998) MOS数字集成电路的测试方法
- KS C 5113-1983 MOS数字集成电路的测试方法
- KS C 6050-1985(2000) 双极数字集成电路的测试方法
- KS C 6050-1985 双极数字集成电路的测试方法
PL-PKN，关于集成电路 测试的标准
- PN T01302-03-1991 半导体器件数字集成电路测试方法[翻译出版IEC 748-2 （1985）．第IV，V章]
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于集成电路 测试的标准
- JEDEC JESD51-8-1999 集成电路热测试方法环境条件－Junction-to-Board
- JEDEC JESD51-6-1999 集成电路热测试方法环境条件 强制对流(流动空气)
- JEDEC JESD51-2A-2008 集成电路热测试方法环境条件 自然对流（静止空气）
行业标准-电子，关于集成电路 测试的标准
- SJ/T 10111-1991 GH3123型集成电路自动测试仪
- SJ 20237-1993 GH3123型集成电路自动测试仪检定规程
国家质检总局，关于集成电路 测试的标准
- GB 51122-2015 集成电路封装测试厂设计规范
行业标准-航天，关于集成电路 测试的标准
- QJ 257-1977 半导体TTL集成数字电路测试方法
- QJ/Z 33-1977 埸效应数字集成（P-MOS）电路测试方法
IET - Institution of Engineering and Technology，关于集成电路 测试的标准
- TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008 模拟 混合信号和射频集成电路的测试和诊断：片上系统方法
