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tem 量
本专题涉及tem 量的标准有25条。
国际标准分类中，tem 量涉及到电磁兼容性(EMC)、道路车辆装置、集成电路、微电子学、半导体分立器件。
在中国标准分类中，tem 量涉及到半导体集成电路、电子、电气设备、电磁兼容。
美国机动车工程师协会，关于tem 量的标准
- SAE J1752/3-2003 集成电路 TEM/宽带 TEM（GTEM）单元法的辐射发射测量； TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、宽带 TEM 小室（150 kHz 至 8 GHz）
- SAE J1752/3-1995 集成电路辐射发射的测量-Tem/宽带 Tem（Gtem）电池方法； Tem Cell（150 Khz 至 1 Ghz）、宽带 Tem Cell（150 Khz 至 8 Ghz）
- SAE J1752/3-2011 采用集成电路TEM /宽带TEM(GTEM)单元方式的辐射排放测量;TEM单元(150 kHz至1 GHz),宽带TEM单元(150 kHz至 8 GHz)
- SAE J1752/3-2017 集成电路辐射发射的测量 EM/Wideband TEM（GTEM）Cell Method； TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz）、宽带 TEM 小室（150 kHz 至 8 GHz）
英国标准学会，关于tem 量的标准
- BS EN 62132-2:2011 集成电路.电磁抗扰性的测量.辐射抗扰度的测量.TEM单元和宽带TEM单元方法
- BS EN 61967-2:2005 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放的测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法
法国标准化协会，关于tem 量的标准
- NF EN 62132-2:2011 集成电路 - 电磁抗扰度的测量 - 第 2 部分：辐射抗扰度的测量 - TEM 池方法和宽带 TEM 池
- NF EN 61967-2:2006 集成电路 - 电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：辐射发射测量 - TEM 室方法和宽带 TEM 室
- NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 集成电路.电磁抗扰性测定.第2部分:抗辐射干扰性测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法
- NF C96-260-2*NF EN 61967-2:2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第2部分:TEM辐射室和宽频TEM辐射室法的辐射测量
- NF EN IEC 61000-4-20:2022 电磁兼容性 (EMC) - 第 4-20 部分：测试和测量技术 - TEM 波导中的发射和抗扰度测试
- NF EN 61967-8:2012 集成电路 - 电磁发射测量 - 第 8 部分：辐射发射测量 - IC 带状线 TEM 方法
ES-UNE，关于tem 量的标准
- UNE-EN 62132-2:2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
- UNE-EN 61967-2:2005 集成电路 电磁辐射测量 150kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 室和宽带 TEM 室方法
丹麦标准化协会，关于tem 量的标准
- DS/EN 62132-2:2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室法
- DS/EN 61967-2:2006 集成电路 电磁发射的测量，150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射的测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室方法
欧洲电工标准化委员会，关于tem 量的标准
- EN 62132-2:2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室法
- EN 61967-2:2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005
国际电工委员会，关于tem 量的标准
- IEC 61967-2:2005 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
德国标准化学会，关于tem 量的标准
- DIN EN 61967-2:2006-03 集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：辐射发射测量 - TEM 室和宽带 TEM 室方法 (IEC 61967-2:2005)
- DIN EN 61967-2:2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
立陶宛标准局，关于tem 量的标准
- LST EN 62132-2-2011 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分：辐射抗扰度的测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室方法（IEC 62132-2:2010）
- LST EN 61967-2-2005 集成电路 电磁发射测量，150 kHz 至 1 GHz 第2部分：辐射发射测量 TEM 小室和宽带 TEM 小室方法（IEC 61967-2:2005）
行业标准-邮电通信，关于tem 量的标准
- YD/T 1690.2-2007 电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法（150kHz～1GHz）第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室方法
SAE - SAE International，关于tem 量的标准
- SAE J1752-3-2011 集成电路辐射发射的测量 EM/Wideband TEM（GTEM）Cell Method； TEM 小室（150 kHz 至 1 GHz） 宽带 TEM 小室（150 kHz 至 8 GHz）
