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电容测试方法
本专题涉及电容测试方法的标准有24条。
国际标准分类中，电容测试方法涉及到电子管、集成电路、微电子学、半导体材料、光电子学、激光设备、文娱活动设备、电容器。
在中国标准分类中，电容测试方法涉及到微波管、微电路综合、半金属与半导体材料综合、半导体发光器件、电真空器件综合、电子元器件、其他电真空器件、半导体光敏器件、玩具、电容器、交直流电工仪器记录仪器。
国家质检总局，关于电容测试方法的标准
- GB/T 7274-2015 电子管极间电容测试方法
- GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法
PL-PKN，关于电容测试方法的标准
- PN E04160 ArkusZ77-1973 电缆．电容测试方法．通信电缆测试
- PN E04160 ArkusZ78-1973 电力电缆．电容测试方法．不平衡测试
CU-NC，关于电容测试方法的标准
- NC 66-30-1985 电子线路．可变陶瓷电容．测试方法
- NC 90-15-28-1984 计量保证．电容测试方法和手段．传动图
行业标准-电子，关于电容测试方法的标准
- SJ/T 10482-1994 半导体中深能级的瞬态电容.测试方法
- SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法.结电容的测试方法
- SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
- SJ/Z 9009-1987 电子管极间电容的测试方法
- SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
- SJ 455-1973 高压整流管静态极间电容的测试方法
- SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
- SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
- SJ/T 10300-1991 电容测量仪测试方法
- SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
CZ-CSN，关于电容测试方法的标准
- CSN 35 8542-1968 电子管极间电容的测试方法
行业标准-航天，关于电容测试方法的标准
- QJ 1323.23-1987 电磁继电器试验方法 电容测试
RO-ASRO，关于电容测试方法的标准
- STAS 9902/2-1974 用于电子设备的固定电容器．测试方法
YU-JUS，关于电容测试方法的标准
- JUS N.R2.602-1980 钽薄片电容器．测试方法选择及一般要求
国家质量监督检验检疫总局，关于电容测试方法的标准
- SN/T 4687-2016 电玩具的电磁兼容测试方法
工业和信息化部，关于电容测试方法的标准
- SJ/T 11582-2016 动力型超级电容器电性能测试方法
韩国科技标准局，关于电容测试方法的标准
- KS C 5103-1977 固定钽电解电容器的测试方法
国家军用标准-总装备部，关于电容测试方法的标准
- GJB 360.31-1987 电子及电气元件试验方法 电容量测试
