EN

RU

ES

x光仪器

本专题涉及x光仪器的标准有25条。

国际标准分类中,x光仪器涉及到无损检测、分析化学、运输、辐射测量、耐火材料、非金属矿、煤、光学和光学测量。

在中国标准分类中,x光仪器涉及到X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、光学测试仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、辐射防护仪器、基础标准与通用方法、耐火材料综合、化学、冶金辅助原料矿、电子光学与其他物理光学仪器。


AENOR,关于x光仪器的标准

德国标准化学会,关于x光仪器的标准

  • DIN EN 16424:2015-03 废物表征 便携式X射线荧光仪器元素成分筛选方法
  • DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
  • DIN IEC 62523:2011 辐射防护仪器.货物/车辆X光检查系统(IEC 62523-2010)

未注明发布机构,关于x光仪器的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于x光仪器的标准

法国标准化协会,关于x光仪器的标准

  • NF X21-008:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格

国际标准化组织,关于x光仪器的标准

  • ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述

韩国科技标准局,关于x光仪器的标准

  • KS D ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS E ISO 10086-1:2007 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).仪器、试剂和分解及重量分析二氧化硅的测定

英国标准学会,关于x光仪器的标准

  • BS EN ISO 21587-1:2007 硅酸铝耐熔制品的化学分析(可选择X射线荧光法).仪器、试剂、硅石的分解和重量测定
  • BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS EN ISO 10058-1:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法) 仪器、试剂和分解及重量分析二氧化硅的测定
  • BS EN ISO 10058-1:2008 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).仪器、试剂和分解及重量分析二氧化硅的测定

澳大利亚标准协会,关于x光仪器的标准

  • AS ISO 15470:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.选定仪器性能参数的描述

日本工业标准调查会,关于x光仪器的标准

  • JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述

国家质检总局,关于x光仪器的标准

  • GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述

BE-NBN,关于x光仪器的标准

  • NBN C 74-208-1990 电疗仪器.第2部分:关于X光疗法的放射群的特殊安全规定

行业标准-机械,关于x光仪器的标准





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号