EN
RU
ES
质谱 分离度
本专题涉及质谱 分离度的标准有12条。
国际标准分类中，质谱 分离度涉及到分析化学。
在中国标准分类中，质谱 分离度涉及到基础标准与通用方法。
日本工业标准调查会，关于质谱 分离度的标准
- JIS K 0164:2023 表面化学分析二次离子质谱硅中硼深度分析方法
- JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准
- JIS K 0158:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法
- JIS K 0155:2018 表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数时间飞行质量分析仪中强度刻度的线性度
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于质谱 分离度的标准
- GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
KR-KS，关于质谱 分离度的标准
- KS D ISO 17560-2003(2023) 表面化学分析-二次离子质谱分析-硅内硼深度分布测定场法
法国标准化协会，关于质谱 分离度的标准
- NF ISO 17560:2006 表面化学分析 二次离子质谱分析 通过厚度分析确定硅中硼的剂量
- NF ISO 23830:2009 表面化学分析 二次离子质谱 二次离子静态质谱中相对强度标度的重复性和稳定性
英国标准学会，关于质谱 分离度的标准
- BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
- BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
- BS ISO 20411:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数动态二次离子质谱饱和强度校正方法
国际标准化组织，关于质谱 分离度的标准
- ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
