金属界面效应

本专题涉及金属界面效应的标准有3条。

国际标准分类中，金属界面效应涉及到半导体分立器件。

在中国标准分类中，金属界面效应涉及到半导体三极管。

美国材料与试验协会，关于金属界面效应的标准

• ASTM F996-2010 利用亚阈值安伏特性分离由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移的标准试验方法
• ASTM F996-1998 利用亚阈值安伏特性测定由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移分量的标准试验方法
• ASTM F996-1998(2003) 利用亚阈值安伏特性测定由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移分量的标准试验方法

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