低气压
本专题涉及低气压的标准有242条。
国际标准分类中，低气压涉及到电灯及有关装置、环境试验、光学设备、试验条件和规程综合、半导体分立器件、货物的包装和调运综合、电工和电子试验、光学和光学测量、热力学和温度测量、试验、航空器和航天器综合、电子电信设备用机电元件、造船和海上构筑物综合、橡胶和塑料制品、流体存储装置、电气工程综合、消防、防爆、电击防护、阀门、航空航天制造用材料、电工器件、厨房设备、航空航天用电气设备和系统、紧固件、机上设备和仪器、制冷技术、光纤通信、电子元器件综合、采矿设备、水果、蔬菜及其制品、电学、磁学、电和磁的测量、轮胎。
在中国标准分类中，低气压涉及到电光源产品、基础标准和通用方法、光学仪器综合、实验室基础设备、基础标准与通用方法、半导体分立器件综合、基础标准与通用方法、包装方法、标志、包装、运输、贮存综合、环境条件与通用试验方法、、连接器、舱面属具、压力容器、防火技术、火工产品、阀门、航空与航天用金属铸锻材料、基础标准与通用方法、电力半导体器件、部件、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、家用电热器具、电子元器件、航空器及其附件综合、紧固件、制冷设备、光通信设备、电气装置用结构件、运输、吊装与加注设备、地质勘探设备综合、电气系统与设备、电子试验用仪器设备、体外循环、人工脏器、假体装置、混凝土、集料、灰浆、砂浆、航天器总体、轮胎、技术管理、学校专用设备。
国家质检总局，关于低气压的标准
- GB/T 19258.1-2022 杀菌用紫外辐射源 第1部分:低气压汞蒸气放电灯
- GB/T 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
- GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验
- GB/T 11159-2010 低气压试验箱技术条件
- GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验.Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合
- GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Z/BM:高温/低气压综合试验
- GB/T 2424.15-2008 电工电子产品环境试验.温度/低气压综合试验导则
- GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验M:低气压
- GB/T 2423.25-2008 电工电子产品 环境试验.第2部分:试验方法.试验Z/AM:低温/低气压综合试验
- GB/T 5170.10-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法.高低温低气压试验设备
- GB/T 2423.102-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合
- GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
- GB/T 10591-2006 高温/低气压试验箱技术条件
- GB/T 10590-2006 高低温/低气压试验箱技术条件
- GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
- GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验
- GB/T 4857.13-2005 包装 运输包装件基本试验 第13部分;低气压试验方法
- GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 高低温低气压试验设备
- GB/T 2424.24-1995 电工电子产品环境试验 温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验导则
- GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法
- GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验规程 温度/低气压综合试验导则
- GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验
- GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验
- GB/T 4857.13-1992 包装 运输包装件 低气压试验方法
- GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M:低气压试验方法
- GB/T 12085.5-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压
- GB/T 11159-1989 低气压试验箱技术条件
- GB/T 10591-1989 高温/低气压试验箱技术条件
- GB/T 10590-1989 低温/低气压试验箱技术条件
- GB/T 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备 基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
- GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于低气压的标准
- GB/T 2423.63-2019 环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合
，关于低气压的标准
- IRAM 11 511-1962 低气压液体所用的带有检查盖的石棉水泥管
法国标准化协会，关于低气压的标准
- NF C20-713-2021 环境试验. 第2-13部分: 试验方法. M试验: 低气压
- NF C93-400-14-5-2006 电子设备连接器.试验和测量.第14-5部分:密封试验.试验14e:低气压下浸渍
- NF C96-022-2-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- NF L54-002-117-2002 航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第6314部分:光学元件.低气压下的浸渍
- NF C93-400-11-11-2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-11部分:气候试验.试验 11k:低气压
- NF C93-400-11-2-2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验 11b:混合低温/顺序低温、低气压和湿热
- NF C20-741-2000 环境试验.第2部分:试验.Z/BM 试验:干热/低气压混合试验
- NF C20-740-2000 环境试验.第2部分:试验.Z/AM 试验:低温/低气压混合试验
- NF C20-713-1999 环境试验.第2部分:试验方法.M 试验:低气压
- NF C20-403-2-1999 环境试验.第3部分:背景信息.第2节:组合温度/低气压试验
- NF C20-739-1999 环境试验.第2部分:试验.Z/AMD 试验:组合式连续低温、低气压和湿热试验
- NF L54-002-030-1998 航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第311部分:低气压
- NF C93-902-29-1998 光纤互连装置和无源元件.基本试验和测量程序.第2-29部分:试验.低气压
- NF C20-713-1987 气侯的基本试验和机械坚固耐用的试验.试验方法.m试验.低气压
国际电工委员会，关于低气压的标准
- IEC 60068-2-13-2021 环境测试 - 第2-13部分:测试 - 测试M:低气压
- IEC 60068-2-39-2015 环境测试 - 第2-39部分:测试 - 测试和指导:组合温度或温度和湿度低气压试验
- IEC 60068-2-39:2015 环境测试 - 第2-39部分:测试 - 测试和指导:组合温度或温度和湿度低气压试验
- IEC 60512-14-5-2006 电子设备连接器 - 测试和测量 - 第14-5部分:密封测试 - 测试14e:在低气压下浸没
- IEC 60749-2 Corrigendum 1:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- IEC 60749-2-2002 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第2部分:低气压
- IEC 60749-2:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- IEC 60512-11-11-2002 电子设备连接器 - 测试和测量 - 第11-11部分:气候测试 - 测试11k:低气压
- IEC 60512-11-2-2002 电子设备连接器 - 测试和测量 - 第11-2部分:气候测试 - 测试11b:组合/顺序冷 低气压和潮湿热
- IEC 60512-11-11:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-11部分:气候试验.试验11k:低气压
- IEC 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
- IEC 61300-2-29-1995 光纤互连设备和被动元件 - 基本测试和测量程序 - 第2-29部分:测试:低气压
- IEC 61300-2-29:1995 纤维光学互连器件和无源元件 基本试验和测量程序 第2-29部分:试验 低气压
- IEC 60068-2-41-1976/AMD1-1983 修改件1.基本环境试验程序.第2-41部分:试验.试验Z/BM:干热/低气压组合试验
- IEC 60068-2-40:1976/AMD1:1983 修改件1.基本环境试验程序.第2-40部分:试验.试验Z/AM:冷/低气压组合试验
- IEC 60068-2-41:1976/AMD1:1983 修改件1.基本环境试验程序.第2-41部分:试验.试验Z/BM:干热/低气压组合试验
- IEC 60068-2-40-1976/AMD1-1983 修改件1.基本环境试验程序.第2-40部分:试验.试验Z/AM:冷/低气压组合试验
- IEC 60068-2-13-1983 基本环境测试程序 - 第2-13部分:测试 - 测试M:低气压
- IEC 60068-2-41 AMD 1:1983 基本环境试验规程 第2-41部分:试验 试验Z/BM:干热/低气压组合试验 修改1
- IEC 60068-2-13:1983 环境试验 第2-13部分:试验 试验M:低气压
- IEC 60068-2-40 AMD 1:1983 基本环境试验规程 第2-40部分:试验 试验Z/AM:低温/低气压组合试验 修改1
- IEC 60068-2-39-1976 基本环境测试程序 - 第2-39部分:测试 - 测试Z/AMD:组合顺序冷 低气压和潮湿热测试
- IEC 60068-2-41-1976 基本环境测试程序 - 第2-41部分:测试 - 测试Z/BM:组合干热/低气压测试
- IEC 60068-3-2:1976 基本环境试验规程 第3部分:背景资料 第2节:温度/低气压组合试验
- IEC 60068-2-40:1976 基本环境试验规程 第2-40部分:试验 试验Z/AM:低温/低气压组合试验
- IEC 60068-2-39:1976 基本环境试验规程 第2-39部分:试验 试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
- IEC 60068-2-41:1976 基本环境试验规程 第2-41部分:试验 试验Z/BM:干热/低气压组合试验
中国团体标准，关于低气压的标准
- T/SZUAVIA 009.3-2019 多旋翼无人机系统实验室环境试验方法 第 3 部分：低气压试验
德国标准化学会，关于低气压的标准
- DIN EN 60068-2-39-2016 环境试验.试验.第2-39部分:试验和指南: 通过低气压试验获得的结合温度或者温度和湿度(IEC 60068-2-39-2015).德文版本EN 60068-2-39-2016
- DIN EN 60512-14-5-2006 电子设备连接器.试验和测量.第14-5部分:密封试验.试验14e:低气压下浸渍(IEC 60512-14-5:2006)
- DIN EN 2591-6314-2003 航空航天系列.光电连接件.试验方法.第6314部分:光学元件.低气压浸渍试验
- DIN EN 60749-2-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- DIN EN 60512-11-11-2003 电子设备连接器.试验和测量.第11-11部分:气候试验.试验11k:低气压 (IEC 60512-11-11:2002); 德文版本 EN 60512-11-11:2002
- DIN EN 60512-11-2-2003 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/按顺序的低温、低气压和湿热 (IEC 60512-11-2:2002); 德文版本 EN 60512-11-2:2002
- DIN EN 60068-2-40-2000 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AM:低温/低气压综合试验
- DIN EN 60068-2-41-2000 环境试验.第2部分:试验.试验Z/BM:干热/低气压组合试验
- DIN EN 60068-2-39-2000 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
- DIN EN 60068-2-13-2000 环境试验.第2部分:试验.试验M:低气压
- DIN EN 60068-3-2-2000 环境试验.第3部分:背景资料.第2节:温度/低气压组合试验
- DIN EN 61300-2-29-1998 光纤互联装置和无源部件.基本试验和测量程序.第2-29部分:试验:低气压 (IEC 61300-2-29:1995); 德文版本 EN 61300-2-29:1997
- DIN EN 2591-311-1997 航空航天系列.光电连接件.试验方法.第311部分:低气压
日本工业标准调查会，关于低气压的标准
- JIS C5402-14-5-2016 电子设备连接器. 试验和测量. 第14-5部分: 密封试验. 试验14e: 低气压下浸渍
- JIS C5402-11-11-2005 电子设备连接器.试验和测量.第11-11部分:气候试验.试验11k:低气压
- JIS C5402-11-2-2005 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
- JIS C60068-2-39-2004 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AMD:低温、低气压和湿热组合顺序试验
- JIS C60068-3-2-2004 基本环境试验过程.第3部分:背景资料.第2节:温度和低气压组合试验
- JIS C0030-1995 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AM:低温/低气压组合试验
- JIS C60068-2-40-1995 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AM:低温/低气压组合试验
- JIS C60068-2-41-1995 环境试验.第2部分:试验、试验Z/BM:干热/低气压组合试验
- JIS C0031-1995 环境试验.第2部分:试验.试验Z/BM:干热/低气压组合试验
- JIS C60068-2-13-1989 基本环境试验过程.第2部分:试验.试验M:低气压
- JIS C0029-1989 基本环境试验程序.第2部分:试验.试验M:低气压试验
- JIS C5029-1975 电子元器件低气压试验方法
英国标准学会，关于低气压的标准
- BS EN 60068-2-39-2016 环境试验. 试验. 试验和指南: 通过低气压试验获得的结合温度或者温度和湿度
- BS ISO 11513:2011 气缸.重复充装焊接钢瓶包括低气压充气包装材料(不包括乙炔).设计,建设,试验,使用和定期检查
- BS EN 60512-14-5-2006 电子设备连接器.试验和测量.密封试验.试验14e.低气压下浸渍
- BS EN 60749-2-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.低气压
- BS EN 60512-11-11-2002 电子设备连接器.试验和测量.气候试验.试验11k.低气压
- BS EN 60512-11-2-2002 电子设备连接器.试验和测量.气候试验.试验11b.组合的/顺序的低温、低气压和湿热
- BS EN 2591-6314-2001 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.低气压条件下的浸泡试验
- BS EN 60068-2-40-2000 环境试验.试验方法.试验Z/AM.冷/低气压结合试验
- BS EN 60068-2-41-2000 环境试验.试验方法.试验Z/BM.干热/低气压结合试验
- BS EN 60068-2-39-1999 环境试验.试验方法..试验Z/AMD.低温、低气压和湿热综合连续试验
- BS EN 60068-2-13-1999 环境试验.试验方法.试验.试验M:低气压
- BS EN 60068-3-2-1999 环境试验.指南.组合温度/低气压试验
- BS EN 2591-314-1998 光电连接元件.试验方法.低气压下浸渍
- BS EN 2591-311-1998 光电连接元件.试验方法.低气压
- BS EN 61300-2-29-1997 光纤互联装置和无源部件.基本试验和测量规程.试验.低气压试验
- BS ISO 9022-5:1995 光学和光学仪器.环境试验方法.混合式低温和低气压
韩国标准，关于低气压的标准
- KS C IEC 60068-2-13:2014 环境试验.第2-13部分:试验.试验M:低气压
- KS C IEC 60749-2:2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压
- KS C IEC 60512-11-11:2004 电子设备连接器.试验和测量.第11-11部分:气候试验.试验11k:低气压
- KS C IEC 60068-3-2:2003 基本环境试验程序.第3部分:基本材料.第2节:温度/低气压综合试验
- KS C IEC 60512-11-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温、低气压和湿热
国际标准化组织，关于低气压的标准
- ISO 17357-2:2014 船舶和海洋技术. 浮动气动橡胶护舷. 第2部分: 低气压
美国国家消防协会，关于低气压的标准
- NFPA 99B-2010 低气压设备标准.生效日期:2009-06-15
美国国家标准学会，关于低气压的标准
- ANSI/NFPA 99B-2010 低气压设施标准
- ANSI/EIA/TIA 455-190-1992 光纤元件低气压(高海拔)试验
国家军用标准-国防科工委，关于低气压的标准
- GJB 5895.30-2006 反坦克导弹试验方法 第30部分:低气压(高度)试验
- GJB 5491.32-2005 末制导炮弹试验方法 第32部分:低气压（高度）试验
- GJB 5389.38-2005 炮射导弹试验方法 第38部分:低气压(高度)试验
美国国防后勤局，关于低气压的标准
- DLA MS28050 REV B-2005 低气压内螺纹检查阀门
- DLA QPL-5593-27-2005 低气压飞机软管
- DLA MS27152 REV B NOTICE 3-2005 60 PSI,SPST防水低气压压力预警开关
- DLA QPL-38726-14-2005 低气压可重用柔软管适配器组装
- DLA MIL-DTL-38726 A-2002 低气压软管的可重新使用的接头组件
- DLA AN6270 REV 8-2002 低气压可拆式旋转装置软管组装
- DLA MS27404 REV A-2002 低气压胶管可重复使用直线转接器
- DLA MS28884 REV E NOTICE 1-1998 燃料检查阀门低气压扩口管连接
- DLA MS28882 REV F NOTICE 1-1998 密封直螺纹连接垫片 低气压燃料检查阀门
- DLA MS27152 REV B VALID NOTICE 1-1991 60 PSI,SPST防水低气压压力预警开关
- DLA MS28884 REV E-1977 燃料检查阀门低气压扩口管连接
- DLA MS28882 REV F-1977 密封直螺纹连接垫片 低气压燃料检查阀门
- DLA MS27152 REV B-1968 60 PSI,SPST防水低气压压力预警开关
(美国)军事条例和规范，关于低气压的标准
- ARMY A-A-52405 A VALID NOTICE 1-2004 低气压软管丁字铁
- ARMY A-A-52405 A-1995 低气压软管丁字铁
- ARMY A-A-52403-1993 (低气压)软管报废板材
- ARMY MIL-S-52506 D-1992 自动润滑的低气压型机械轴密封件:一般用途离心式水泵
- ARMY A-A-1724-1981 低气压型轮胎气压的标准规格
美国采暖、制冷与空调工程师协会，关于低气压的标准
- ASHRAE 4712-2004 低气压家用热水器性能分析
澳大利亚标准协会，关于低气压的标准
- AS 60068.2.39-2003 环境试验．试验．Z/AMD试验：组合序贯式冷、低气压试验和湿热试验
- AS 60068.2.40-2003 环境测试．测试．测试 Z/AM：低温和低气压综合试验
- AS 60068.2.41-2003 环境试验．试验．Z/BM试验：组合干热/低气压试验
(美国)空军，关于低气压的标准
- AIR FORCE QPL-25531-20-2002 快速断开气动启动器,外部低气压耦合一半
欧洲电工标准化委员会，关于低气压的标准
- EN 60749-2-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第2部分:低气压 IEC 60749-2-2002;部分替代 EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001
- EN 60512-11-11-2002 电子设备用连接器.试验和测量.第11-11部分:气候试验.试验11k:低气压 IEC 60512-11-11:2002
- EN 60512-11-2-2002 电子设备用连接器.试验和测量.第11-2部分:气候试验.试验11b:组合的/顺序的低温,低气压和湿热 IEC 60512-11-2:2002
- EN 60068-2-39-1999 环境试验.第2部分:试验.试验Z/修改件:混合连续冷却,低气压和湿热试验［替代:CENELEC HD 323.2.39 S1］
- EN 60068-2-13-1999 环境试验.第2部分:试验.试验M:低气压
- EN 60068-3-2-1999 环境试验.第3部分:背景资料.第2节:温度/低气压综合试验［替代:CENELEC HD 323.3.2 S1］
- EN 60068-2-40-1999 环境试验.第2部分:试验.试验Z/AM:低温/低气压综合试验.替代HD 323.2.40 S1-1988;IEC 60068-2-40-1976 + A1-1983
- EN 60068-2-41-1999 环境试验.第2部分:试验.试验Z/BM:干热/低气压综合试验.替代HD 323.2.41 S1-1988;IEC 60068-2-41-1976+A1-1983
- EN 61300-2-29-1997 光纤互连器件和无源器件.基本试验和测量程序.第2-29部分:试验.低气压 IEC 61300-2-29-1995
- HD 219 S3-1990 低气压钠灯
- HD 323.2.41 S1-1988 环境试验基本规程:第2部分:试验.试验Z/BM:干热/低气压混合试验
- HD 323.2.40 S1-1988 基本环境试验规程.第2部分:试验.试验Z/AM:低温/低气压组合试验
- HD 323.2.13-1987 基本环境试验规程.第2部分:试验.试验M:低气压
美国空调与制冷学会（US-ARI改名为US-AHRI)，关于低气压的标准
- ARI 580-2001 低气压离心液体冷却不可压缩的气体清洗设备
欧洲标准化委员会，关于低气压的标准
- EN 2591-6314-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6314部分:光学元件.低气压的水浸试验
- EN 2591-311-1997 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第311部分:低气压
- HD 323.3.2 S1-1988 环境试验基本规程:第3部分:背景信息.第2节:温度/低气压混合试验
- HD 323.2.39 S1-1988 环境试验基本规程:第2部分:试验.试验Z/AMD:冷冻.低气压和湿热循序进行混合试验
- HD 323.2.13 S1-1987 环境试验基本规程:第2部分:试验.试验M:低气压
行业标准-航空，关于低气压的标准
- HB 5830.14-1996 机载设备环境条件及试验方法.低气压(高度)
- HB 6783.2-1993 军用机载设备气候环境试验箱（室）检定方法.低气压（高度）试验箱（室）
(美国)海军，关于低气压的标准
- NAVY MIL-R-7575 C NOTICE 2-1996 低气压层压聚酯纤维树脂
- NAVY MIL-R-9300 B NOTICE 2-1996 低气压层压聚酯纤维树脂
- NAVY MIL-P-25395 B NOTICE 1-1996 不饱和聚酯树脂玻璃纤维基地低气压层压耐热塑胶物料
- NAVY MIL-R-9300 B VALID NOTICE 1-1991 低气压层压聚酯纤维树脂
- NAVY MIL-R-7575 C VALID NOTICE 1-1991 低气压层压聚酯纤维树脂
- NAVY L-P-383 VALID NOTICE 1-1991 低气压叠层玻璃纤维基础塑胶材料不饱和聚酯树脂
- NAVY MIL-R-21607 E-1990 阻燃低气压胶膜聚酯纤维树脂
- NAVY MIL-R-24719-1989 低气压层压醋酸乙烯酯树脂
- NAVY MIL-V-24384 B-1988 低气压空气或氮气系统压力调节阀门
- NAVY MIL-P-25395 B-1986 不饱和聚酯树脂玻璃纤维基地低气压层压耐热塑胶物料
- NAVY MIL-R-7575 C (2)-1977 低气压层压聚酯纤维树脂
- NAVY L-P-383 (1)-1973 低气压叠层玻璃纤维基础不饱和聚酯树脂塑胶材料
- NAVY MIL-R-9300 B-1968 低气压层压聚酯纤维树脂
- NAVY L-P-383-1967 低气压叠层玻璃纤维基础不饱和聚酯树脂塑胶材料
- NAVY MIL-R-7575 C-1966 低气压层压聚酯纤维树脂
欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于低气压的标准
- ASD-STAN PREN 2591-FC14-1993 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第FC14部分:光学元件．低气压条件下的浸渍;第P1版
- ASD-STAN PREN 2591-C14-1992 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第C14部分:在低气压条件下的浸渍;第P1版
- ASD-STAN PREN 2591-C11-1992 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第C11部分:低气压;第P1版
行业标准-地质，关于低气压的标准
- DZ 0039.10-1992 地质仪器产品基本环境.试验条件及方法.低气压试验
- DZ 28.9-1984 地质仪器产品基本环境.试验条件及方法.低气压试验
欧洲航空工业协会，关于低气压的标准
- AECMA PREN 2591-C14-1992 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 C14部分:低气压下的浸入
行业标准-电子，关于低气压的标准
- SJ/T 10212-1991 Y60600-G高低温低气压试验设备
- SJ 2326-1983 高低温低气压试验设备通用技术条件
- SJ/Z 9001.8-1987 基本环境试验规程 第２部分：各种试验 试验Ｚ／ＡＭ：寒冷／低气压综合试验
- SJ/Z 9001.7-1987 基本环境试验规程 第２部分：各种试验 试验Ｍ：低气压
- SJ/Z 9001.11-1987 基本环境试验规程 第２部分：各种试验 试验Ｚ／ＡＭＤ：寒冷（低温）／低气压／湿热综合顺序
- SJ/Z 9001.45-1987 基本环境试验规程 第３部分：背景材料 第２节：温度／低气压综合试验
- SJ/Z 9001.9-1987 基本环境试验规程 第２部分：各种试验 试验Ｚ／ＢＭ：干热／低气压综合试验
台湾地方标准，关于低气压的标准
- CNS 12866-1991 环境试验法（电气、电子）–低温／低气压复合试验法
- CNS 12867-1991 环境试验法（电气、电子）–高温／低气压复合试验法
- CNS 11236-1991 环境试验法（电气、电子）–低气压试验法
行业标准-航天，关于低气压的标准
- QJ 1238.18-1990 导弹运载火箭上电缆试验方法 低气压试验
- QJ 1177.18-1987 地空、舰空导弹武器系统环境试验方法.温度.湿度.振动.低气压试验
- QJ 1177.17-1987 地空、舰空导弹武器系统环境试验方法.温度.低气压试验
- QJ 1177.2-1987 地空、舰空导弹武器系统环境试验方法.低气压试验
- QJ 1323.5-1987 电磁继电器试验方法 低气压试验
丹麦标准化协会，关于低气压的标准
- DS/IEC 68-2-41:1985 基本环境试验规程．第2部分：Z/BM 试验：干热/低气压组合试验（第1次修订（1983））
- DS/IEC 68-2-13:1985 基本环境试验规程.第2部分:试验.第13节:试验M:低气压
行业标准-教育，关于低气压的标准
- JY 186-1985 低气压放电管组技术条件
