半导体元器件
本专题涉及半导体元器件的标准有96条。
国际标准分类中，半导体元器件涉及到半导体分立器件、电子元器件综合、光电子学、激光设备、集成电路、微电子学、造船和海上构筑物综合。
在中国标准分类中，半导体元器件涉及到半导体整流器件、半导体集成电路、半导体分立器件综合、半导体光敏器件、电子元件综合、技术管理、标准化管理与一般规定、电力半导体器件、部件、半导体分立器件、微电路综合、基础标准与通用方法。
AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc.，关于半导体元器件的标准
- NAS4119-2011 散热器 电子元件 半导体器件 压接型（Rev 1）
- NAS4122-1996 散热器 电气-电子元件 半导体器件 挤压
- NAS4121-1996 散热器@电气电子元件@半导体器件@成型
- NAS4124-1996 散热器 电气电子元件 半导体器件 双链路
- NAS4119-1996 散热器 电气-电子元件 半导体器件 压接型
- NAS4120-1996 散热片 电气-电子元件 半导体器件 封装型 TO-5
- NAS4122-2013 散热器 电气-电子元件 半导体器件 挤压（修订版 1）
- NAS4121-2012 散热片 电气 电子元件 半导体器件 成型（修订版 1）
- NAS4124-2012 散热器 电气/电子元件 半导体器件 双链路（修订版 1）
- NAS4118-2012 散热器 电气 电子元件 半导体器件 固定夹类型（修订版 1）
- NAS4123-1995 双列直插式封装（DIP）的散热器 电气电子元件 半导体器件
- NAS4120-2012 散热器 电气 电子元件 半导体器件 封装类型 TO-5（修订版 1）
- NAS4123-2012 双列直插式封装（DIP）的散热器 电气-电子元件 半导体器件 （修订版 1）
欧洲电工标准化委员会，关于半导体元器件的标准
- EN 60749-39:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第39部分:半导体元器件用有机材料湿气扩散率和水溶率的测试 IEC 60749-39-2006
- EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存
- EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：总则
- EN IEC 62435-3:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第3部分：数据
- EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机理
- EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第9部分：特殊情况
- EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第7部分：微型机电器件
- EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
- EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分：管芯和晶圆器件
- EN IEC 62435-6:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
法国标准化协会，关于半导体元器件的标准
- NF C96-001:1984 电子元件 半导体器件 分立元件和集成电路 第1部分：总则
- NF C96-002:1984 电子元件.半导体器件.分立元件和集成电路.第2部分:整流二极管
- NF C96-011:1989 电子元件半导体器件第11部分：分立器件分规范
- NF C86-010:1986 半导体器件.电子器件质量评估协调体系电子元件.半导体分立器件.一般规范
- NF C86-505:1986 半导体器件.电子元器件质量评估协调体系.光电二极管、光电二极管排列.空白详细规范 CECC 20 005
- NF C86-503:1986 半导体器件.电子元器件统一质量评审体系.光电晶体管、光电复合晶体管和光电半导体电路.空白详细规范CESS 20 003
- NF C96-006:1984 电子元件.半导体器件.分立器件和集成电路.第6部分:闸流晶体管
- NF EN IEC 62435-4:2018 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第4部分：储存
- NF EN 62435-1:2017 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第 1 部分：总则
- NF EN IEC 62435-3:2020 电子元件 半导体电子器件的长期存储 第3部分：数据
- NF C96-010:1989 电子元件半导体器件第10部分：分立器件和集成电路的通用规范
- NF EN IEC 62435-7:2021 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第7部分：微机电器件
- NF EN 62435-2:2017 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第2部分：劣化机制
- NF EN IEC 62435-9:2021 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第9部分：特殊情况
- NF C96-435-3*NF EN IEC 62435-3:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第3部分：数据
- NF C96-435-1*NF EN 62435-1:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第1部分：总则
- NF C96-435-4*NF EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第4部分：储存
- NF EN IEC 62435-8:2020 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
- NF EN IEC 62435-6:2018 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
- NF EN 62435-5:2017 电子元件 半导体电子器件的长期储存 第 5 部分 芯片器件和晶圆
- NF C96-435-2*NF EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第2部分：劣化机制
- NF C96-435-9*NF EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第9部分：特殊情况
- NF C96-435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第7部分：微型机电器件
- NF C96-435-8*NF EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第8部分：无源电子器件
- NF C96-435-5*NF EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第5部分 芯片和晶圆器件
- NF C96-005-5*NF EN 60747-5-5:2012 半导体器件 分立元件 第5-5部分：光电器件 光电耦合器
美国航空工业协会，关于半导体元器件的标准
- AIA NAS 4122-1996 散热片，电气电子元件，半导体器件，挤压
- AIA NAS 4124-1996 散热器、电气-电子元件、半导体器件、双链路
- AIA NAS 4119-1996 散热片、电气-电子元件、半导体器件、压接型
- AIA NAS 4121-1996 散热片、电气电子元件、半导体器件、成型 FSC 5999
- AIA NAS 4120-1996 散热器、电气-电子元件、半导体器件、封装型、TO-5
英国标准学会，关于半导体元器件的标准
- BS IEC 60747-14-2:2001 分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件
- BS IEC 60747-14-2:2000 分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件
- BS EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期存储 存储
- BS EN IEC 62435-9:2021 电子元件 电子半导体器件的长期存储 特殊情况
- BS EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期存储 微机电装置
- BS EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储第2部分：变质机制
美国国家标准学会，关于半导体元器件的标准
- ANSI/EIA 321-C:1987 半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元名称
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于半导体元器件的标准
- JEDEC EIA-323-1966 半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元命名
- JEDEC EIA-321-C-1987 半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元名称和牌号
美国航空工业协会/国家航天工业标准，关于半导体元器件的标准
- AIA/NAS NAS4120-2012 散热片，电气，电子元件，半导体器件，封装型，TO-5
- AIA/NAS NAS4121-2012 散热片、电气、电子元件、半导体器件、成型（修订版 1）
- AIA/NAS NAS4118-2012 散热器、电气、电子元件、半导体器件、固定夹类型（Rev 1）
- AIA/NAS NAS4123-2012 双列直插式封装（DIP）的散热器、电气电子元件、半导体器件
国际电工委员会，关于半导体元器件的标准
- IEC 62435-1:2017 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第1部分:一般
- IEC 62435-9:2021 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第9部分:特殊情况
- IEC 62435-7:2020 电子元件.电子半导体器件的长期储存.第7部分:微机电装置
- IEC 62435-6:2018 电子元件 电子半导体器件的长期储存 第6部分：封装或成品器件
PH-BPS，关于半导体元器件的标准
- PNS IEC 62435-1:2021 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第1部分：总则
- PNS IEC 62435-3:2021 电子元件.电子半导体器件的长期存储.第3部分：数据
- PNS IEC 62435-7:2021 电子元件.电子半导体器件的长期贮存.第7部分：微机电器件
- PNS IEC 62435-5:2021 电子元件.电子半导体器件的长期存储.第5部分：芯片和晶圆器件
ES-UNE，关于半导体元器件的标准
- UNE-EN IEC 62435-4:2018 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第4部分：存储
- UNE-EN IEC 62435-7:2021 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第7部分：微机电器件
- UNE-EN 62435-2:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第2部分：劣化机制
- UNE-EN IEC 62435-8:2020 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第8部分：无源电子器件
- UNE-EN IEC 62435-6:2018 电子元件 - 电子半导体器件的长期储存 - 第 6 部分：包装或成品器件
- UNE-EN 9145:2018 电子元件 - 电子半导体器件的长期储存 - 第 6 部分：包装或成品器件
- UNE-EN 62435-5:2017 电子元件 电子半导体器件的长期存储 第5部分：芯片和晶圆器件
韩国科技标准局，关于半导体元器件的标准
- KS C 6563-1996 半导体压力传感器元器件主要测定方法
- KS C 6562-1996 半导体压力传感器元器件的额定和特性
- KS C 6563-1996(2016) 主要测量方法的半导体压力传感器元件
- KS C 6563-1996(2021) 半导体压力传感器元件的主要测量方法
- KS C 6562-1996(2021) 半导体压力传感器元件的基本额定值和特性
- KS C 6562-1996(2016) 基本额定值和特性对于半导体压力传感器元件
- KS V 8209-1999(2004) 船舶电气设备 - 的部分304:元件-半导体转换器
德国标准化学会，关于半导体元器件的标准
- DIN EN IEC 62435-9:2022-09 电子元件-电子半导体器件的长期储存-第9部分：特殊情况
国家质检总局，关于半导体元器件的标准
- GB/T 42706.1-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分：总则
- GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分：退化机理
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于半导体元器件的标准
- IEEE PC62.35/D1-2018 硅雪崩半导体电涌保护器元件测试方法标准草案
CZ-CSN，关于半导体元器件的标准
- CSN 35 8797 Cast.11 IEC 747-11 ZA2:1997 半导体器件．第11部分：分立元件的标准
- CSN 35 8797 Cast.11 IEC 747-11 Z1:1993 半导体器件．第11部分：分立元件的标准
行业标准-电子，关于半导体元器件的标准
- SJ/T 10149-1991 电子元器件图形库.半导体分立器件图形
