Einkristallebene

Für die Einkristallebene gibt es insgesamt 22 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Einkristallebene die folgenden Kategorien: Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend, Einrichtungen im Gebäude, Prüfung von Metallmaterialien, Halbleitermaterial, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Chemikalien.

Group Standards of the People's Republic of China, Einkristallebene

T/ZZB 1372-2019 Einseitige einseitige Doppelglas-Photovoltaikmodule (PV) aus kristallinem Silizium
T/ZZB 0497-2018 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten
T/CECA 69-2022 Einkristalline Dünnschichtsubstrate für SAW-Geräte

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Einkristallebene

GB/T 41751-2022 Prüfverfahren für den Krümmungsradius der Kristallebene in GaN-Einkristall-Substratwafern
GB/T 32189-2015 Rasterkraftmikroskopische Untersuchung der Oberflächenrauheit von Galliumnitrid-Einkristallsubstraten
GB/T 30118-2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden

Professional Standard - Electron, Einkristallebene

SJ/T 11504-2015 Prüfverfahren zur Messung der Oberflächenqualität von poliertem monokristallinem Siliziumkarbid
SJ/T 11503-2015 Testmethoden zur Messung der Oberflächenrauheit von polierten monokristallinen Siliziumkarbid-Wafern

Defense Logistics Agency, Einkristallebene

DLA MIL-S-19500/425 VALID NOTICE 2-2004 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, PN, SILIKON, UNIJUNCTION JAN2N5431 UND JANTX2N5431
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, MINIATUR, OBERFLÄCHENMONTAGE
DLA MIL-PRF-19500/75 B NOTICE 1-1999 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOREN, PN, SILIKON-UNIJUNCTION-TYPEN 2N2417A BIS 2N2422A UND TX2N2417A BIS TX2N2422A

American Society for Testing and Materials (ASTM), Einkristallebene

ASTM D3942-03(2008) Standardtestmethode zur Bestimmung der Elementarzellendimension eines Zeolithen vom Faujasit-Typ
ASTM F847-94(1999) Standardtestmethoden zur Messung der kristallographischen Ausrichtung von Flächen auf einkristallinen Siliziumwafern durch Röntgentechniken
ASTM D3942-03 Standardtestmethode zur Bestimmung der Elementarzellendimension eines Zeolithen vom Faujasit-Typ
ASTM D3942-97 Standardtestmethode zur Bestimmung der Elementarzellendimension eines Zeolithen vom Faujasit-Typ
ASTM D3942-03(2013) Standardtestmethode zur Bestimmung der Elementarzellendimension eines Zeolithen vom Faujasit-Typ

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Einkristallebene

CNS 11364-1985 Methode zur Bestimmung der Elementarzellendimension eines Zeolithen vom Faujasit-Typ

Association Francaise de Normalisation, Einkristallebene

NF EN 61747-3:2007 Flüssigkristallanzeigegeräte – Teil 3: Flüssigkristallanzeigezellen (LCD) – Zwischenspezifikation
NF C93-616:2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden
NF C93-616:2006 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW) – Spezifikationen und Messmethoden.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Einkristallebene

JIS C 6760:2014 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden

British Standards Institution (BSI), Einkristallebene

14/30277702 DC BS EN 61747-3. Flüssigkristallanzeigegeräte. Teil 3. Flüssigkristallanzeigezellen (LCD). Abschnittsspezifikation