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plano de cristal único
plano de cristal único, Total: 22 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en plano de cristal único son: Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Instalaciones en edificios, pruebas de metales, Materiales semiconductores, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Productos de la industria química..
Group Standards of the People's Republic of China, plano de cristal único
- T/ZZB 1372-2019 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino de un solo lado y doble vidrio
- T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
- T/CECA 69-2022 Sustratos de película delgada monocristalinos para dispositivos SAW
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, plano de cristal único
- GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
- GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
- GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
Professional Standard - Electron, plano de cristal único
- SJ/T 11504-2015 Método de prueba para medir la calidad de la superficie de carburo de silicio monocristalino pulido
- SJ/T 11503-2015 Métodos de prueba para medir la rugosidad de la superficie de obleas de carburo de silicio monocristalino pulidas
Defense Logistics Agency, plano de cristal único
- DLA MIL-S-19500/425 VALID NOTICE 2-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, PN, SILICIO, UNIJUNCIÓN JAN2N5431 Y JANTX2N5431
- DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN SUPERFICIE
- DLA MIL-PRF-19500/75 B NOTICE 1-1999 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTORES, PN, UNIJUNCIÓN DE SILICIO TIPOS 2N2417A HASTA 2N2422A, Y TX2N2417A HASTA TX2N2422A
American Society for Testing and Materials (ASTM), plano de cristal único
- ASTM D3942-03(2008) Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
- ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
- ASTM D3942-03 Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
- ASTM D3942-97 Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
- ASTM D3942-03(2013) Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, plano de cristal único
- CNS 11364-1985 Método para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
Association Francaise de Normalisation, plano de cristal único
- NF EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación intermedia.
- NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
- NF C93-616:2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), plano de cristal único
- JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
British Standards Institution (BSI), plano de cristal único
- 14/30277702 DC BS EN 61747-3. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional