Piezoelektrische Kristallmaterialien

Für die Piezoelektrische Kristallmaterialien gibt es insgesamt 148 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Piezoelektrische Kristallmaterialien die folgenden Kategorien: Wortschatz, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Komponenten elektrischer Geräte, Keramik, magnetische Materialien, Halbleitermaterial, Kernenergietechnik, Strahlungsmessung, Verbundverstärkte Materialien, Anorganische Chemie, Glas, Physik Chemie, Diskrete Halbleitergeräte, Isolierflüssigkeit, Elektrische und elektronische Prüfung, Plastik, Bodenbelag ohne Stoff, Drahtlose Kommunikation, analytische Chemie, Solartechnik, Anwendungen der Informationstechnologie, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Isoliermaterialien.

British Standards Institution (BSI), Piezoelektrische Kristallmaterialien

BS DD IEC/TS 61994-4-1:2008 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall
PD IEC TS 61994-4-1:2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, -auswahl und -erkennung. Glossar. Piezoelektrische Materialien. Synthetischer Quarzkristall
PD IEC TS 61994-4-4:2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, -auswahl und -erkennung. Glossar. Piezoelektrische Materialien. Einkristallwafer für Oberflächenwellengeräte (SAW).
BS EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
BS IEC 62860:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien
BS EN 61621:1997 Trockene, feste Dämmstoffe. Widerstandsprüfung gegenüber Hochspannungs- und Schwachstrom-Bogenentladungen
BS EN 61621:1998 Trockene, feste Isolierstoffe – Prüfung der Beständigkeit gegen Bogenentladungen mit hoher Spannung und geringem Strom

International Electrotechnical Commission (IEC), Piezoelektrische Kristallmaterialien

IEC TS 61994-4-1:2001 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien; Synthetischer Quarzkristall
IEC TS 61994-4-1:2007 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall
IEC TS 61994-4-1:2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, -auswahl und -erkennung – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall
IEC TS 61994-4-1:2018 RLV Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, -auswahl und -erkennung – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall
IEC 60293:1968 Versorgungsspannungen für Transistor-Nuklearinstrumente
IEC 62860:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien
IEC 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
IEC TS 61994-4-4:2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, -auswahl und -erkennung – Glossar – Teil 4-4: Piezoelektrische Materialien – Einkristallwafer für s
IEC TS 61994-4-4:2018 RLV Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, -auswahl und -erkennung – Glossar – Teil 4-4: Piezoelektrische Materialien – Einkristallwafer für s

IEC - International Electrotechnical Commission, Piezoelektrische Kristallmaterialien

TS 61994-4-1-2007 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall (Ausgabe 2.0)
TS 61994-4-1 (REDLINE + STANDARD)-2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, Auswahl und Erkennung – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall (Ausgabe 3.0)
TS 61994-4-1-2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, Auswahl und Erkennung – Glossar – Teil 4-1: Piezoelektrische Materialien – Synthetischer Quarzkristall (Ausgabe 3.0)
TS 61994-4-4-2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, Auswahl und Erkennung – Glossar – Teil 4-4: Piezoelektrische Materialien – Einkristallwafer für Oberflächenwellen-Geräte (SAW) (Ausgabe 3.0)
TS 61994-4-4 (REDLINE + STANDARD)-2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Geräte und zugehörige Materialien zur Frequenzsteuerung, Auswahl und Erkennung – Glossar – Teil 4-4: Piezoelektrische Materialien – Einkristallwafer für Oberflächenwellen-Geräte (SAW) (Ausgabe 3.0)

工业和信息化部, Piezoelektrische Kristallmaterialien

JC/T 2416-2017 Relaxor ferroelektrische Kristallmaterialien
SJ/T 11199-2016 Piezoelektrische Quarzkristallplatte
JC/T 2417-2017 Piezoelektrisches Einkristallmaterial aus Lithiumtetraborat
SJ/T 2268-2018 Gyromagnetische polykristalline Ferritmaterialserie
YB/T 4587-2017 Heizelement aus Kohlenstoff/Kohlenstoff-Verbundwerkstoff für Einkristallöfen

Professional Standard - Building Materials, Piezoelektrische Kristallmaterialien

JC/T 2025-2010 Piezoelektrische Einkristalle aus Bleimagnesiumniobattitanat (PMNT).
JC/T 2148-2012 Piezoelektrischer Langasit-Kristall

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Piezoelektrische Kristallmaterialien

GB/T 9532-2012 Bezeichnungen für piezoelektrische Kristalle
GB/T 43612-2023 Karte der Materialdefekte von Siliziumkarbidkristallen
GB/T 2413-1980 Piezoelektrische Keramikmaterialien – Messmethoden zur Bestimmung der Volumendichte
GB/T 2413-1981 Piezoelektrische Keramikmaterialien – Messmethoden zur Bestimmung von Volumen und Dichte
GB 2413-1981 Messmethode der Schüttdichte piezoelektrischer Keramikmaterialien
GB 2413-1980 Messmethode der Schüttdichte piezoelektrischer Keramikmaterialien
GB/T 13387-1992 Testverfahren zur Messung der flachen Länge an Scheiben aus elektronischen Materialien
GB/T 15250-1994 Testverfahren zur Dämpfung akustischer Volumenwellen von piezoelektrischen Lithiumniobat-Kristallen
GB/T 1411-2002/IEC 61621-1997 Trockene, feste Isoliermaterialien – Beständigkeitsprüfung gegen Hochspannungs- und Schwachstrom-Bogenentladungen
GB/T 1411-2002/IEC 61621:1997 Trockene, feste Isoliermaterialien – Beständigkeitsprüfung gegen Hochspannungs- und Schwachstrom-Bogenentladungen
GB/T 1411-2002 Trockene, feste Isoliermaterialien – Beständigkeitsprüfung gegen Hochspannungs- und Schwachstrom-Bogenentladungen

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Piezoelektrische Kristallmaterialien

IEEE 176-1949 NORMEN FÜR PIEZOELEKTRISCHE KRISTALLE
IEEE 180-1962 NORMEN FÜR PIEZOELEKTRISCHE UND FERROELEKTRISCHE KRISTALLE: DEFINITIONEN DER BEGRIFFE FERROELEKTRISCHER KRISTALLE 1962 (62 IRE 14.S1)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Piezoelektrische Kristallmaterialien

GB/T 39131-2020 Begriffe und Definitionen synthetischer Kristallmaterialien
GB/T 36648-2018 Spezifikation für TFT-Flüssigkristallmonomere
GB/T 36647-2018 Spezifikation für Flüssigkristallmonomere
GB/T 40381-2021 Spezifikation der Saphirplatte für Laserfenster
GB/T 37983-2019 Prüfverfahren der Röntgenbeugung zur Bestimmung der Orientierung von Kristallmaterialien durch Rotation

Professional Standard - Electron, Piezoelektrische Kristallmaterialien

SJ/T 11199-1999 Rohlinge aus piezoelektrischem Quarzkristall
SJ 2268-1983 Serie gyromagnetischer Mehrkristallmaterialien aus magnetischen Oxiden
SJ/T 11743.4.1-2019 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 4-1: Materialien – Synthetischer Quarzkristall（IEC/TS 61994-4-1:2007，Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glanz...
SJ 3249.1-1989 Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands von halbisolierendem Galliumarsenid- und Indiumphosphid-Einkristallmaterial
SJ 20858-2002 Messmethoden für elektrische Parameter von Siliziumkarbid-Einkristallmaterial

CZ-CSN, Piezoelektrische Kristallmaterialien

CSN 01 5111-1974 Probenahme von losen und körnigen Materialien
CSN 35 8936-1960 Halter von piezoelektrischen Kristallresonatoren
CSN 35 8738-1964 Transistor. Messung von Sperrspannungen
CSN 35 8930-1960 Halter von piezoelektrischen Kristallresonatoren
CSN 35 8744-1964 Transistor. Messung von Gleichströmen und Spannungen
CSN 35 8740-1973 Halbleitergeräte. Transistor. Messung der Sättigungsspannung
CSN 35 8740-1985 Transistoren. Methoden zur Messung der Sättigungsspannung
CSN 35 8741-1964 Transistor. Messung der Kollektor-Emitter-Restspannung
CSN 35 8490-1965 Piezoelektrische Kristalleinheiten für Oszillatoren und Filter
CSN 35 8490 Z1-1996 Piezoelektrische Kristalleinheiten für Oszillatoren und Filter
CSN 35 8757 Cast.8-1985 Transistoren. Messmethoden der Basis-Emitter-Spannung

Group Standards of the People's Republic of China, Piezoelektrische Kristallmaterialien

T/CECA 72-2022 Gyromagnetische polykristalline Ferritmaterialien

IN-BIS, Piezoelektrische Kristallmaterialien

IS 7020-1973 Kristalline und dielektrische Materialien, die in der Instrumentenindustrie verwendet werden

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Piezoelektrische Kristallmaterialien

IEEE Std 176-1949*ANSI C83.3-1951 IEEE-Standards für piezoelektrische Kristalle, 1949
IEEE Std 179-1961*ANSI C83.24-1962 IEEE-Standards für piezoelektrische Kristalle: Messungen piezoelektrischer Keramik – 1961
IEEE Std 1620-2004 Standard für Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien
IEEE Std 1620-2008 IEEE-Standard für Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien

Association Francaise de Normalisation, Piezoelektrische Kristallmaterialien

NF C93-601/AM1:1976 KOMPONENTEN FÜR ELEKTRONISCHE GERÄTE. PIEZOELEKTRISCHE GERÄTE. KRISTALLHALTER.
NF UTE C93-613:1979 Piezoelektrische Geräte – Piezoelektrische Filter – Anleitung zur Verwendung von piezoelektrischen Kristallfiltern.
NF T51-223:1985 Kunststoffe. Halbkristalline Materialien. Bestimmung der konventionellen Schmelztemperatur durch thermische Analyse.
NF EN 61621:1998 Trockene feste Isoliermaterialien – Prüfung der Lichtbogenentladungsbeständigkeit bei hoher Spannung und niedrigem Strom.
NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
UTE C93-613U*UTE C93-613:1979 Komponenten für elektrische Geräte. Piezoelektrische Geräte. Piezoelektrische Filter. Leitfaden zur Verwendung von Kristallfiltern.
NF C93-613:1979 Komponenten für elektrische Geräte Piezoelektrische Geräte Piezoelektrische Filter Leitfaden zur Verwendung von Kristallfiltern

YU-JUS, Piezoelektrische Kristallmaterialien

JUS N.R9.071-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei weitere Kristallhalter im Umriss, Typ 18
JUS N.R9.070-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweistiftiger Kristallhalter, Typ 09
JUS N.R9.073-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristall-Einheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 17
JUS N.R9.069-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei Piri-Kristall-Halter-Umrisse, Typ 07
JUS N.R9.064-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss des Kristallhalters mit zwei Drähten. Typen 11, 14 und 15
JUS N.R9.074-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 19
JUS N.R9.072-1986 Piezo-/Elektrovibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss zweier WFR-Krystafhalter, Typ 16
JUS N.R9.077-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 20
JUS N.R9.076-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweipoliger Kristallwärmerausgang, Typ 08
JUS N.R9.075-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss eines Kristallhalters mit zwei Stiften, Typ 10
JUS N.R9.078-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss des Turo-Drahtkristallhalters, Typ 21

PL-PKN, Piezoelektrische Kristallmaterialien

PN T01504-04-1987 Transistoren Messmethoden Durchbruchspannungen U(BR) CBO und U(BR) ebo
PN T01504-02-1987 Transistoren Messmethoden Kollektor-Emitter-Sättigungsspannung ?/C?-sat und Basis-Emitter-Sättigungsspannung UBEat
PN E04441-1974 Feste Isolierstoffe Prüfung der Lichtbogenbeständigkeit bei Hochspannung und Schwachstrom
PN T01505 ArkusZ02-1974 Feldeffekttransistoren Messmethode Ga?e-Source-Schwellenspannung Ugs (TO)
PN T01505 ArkusZ11-1974 Feldeffekttransistoren Messmethode Drain-Source-Zusammenbruch-Yol?age U
PN T01504-01-1987 Transistoren Messmethoden Statischer Wert des Durchlassstromübertragungsverhältnisses hus und der Basis-Emitter-Spannung Ube

German Institute for Standardization, Piezoelektrische Kristallmaterialien

DIN 51911:2020 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstands nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN 51911:2020-12 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstands nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN 51919:1999 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode; feste Materialien
DIN 51919:2013 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN 51919:2013-05 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN 50431:1988 Prüfung von Halbleitermaterialien; Messung des spezifischen Widerstands von Silizium- oder Germanium-Einkristallen mittels der Vier-Sonden-/Gleichstrommethode mit kollinearem Array
DIN EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007
DIN 51911:1997 Prüfung von Kohlenstoffmaterialien - Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstands nach der Strom-Spannungs-Methode - Feststoffe
DIN EN 60444-9:2007-12 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007

未注明发布机构, Piezoelektrische Kristallmaterialien

DIN 51911 E:2020-06 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des spezifischen elektrischen Widerstands nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN 51919 E:2012-06 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien

RO-ASRO, Piezoelektrische Kristallmaterialien

STAS 10289-1982 Feste elektroisolierende Materialien, wärmehärtbare, laminierte Materialien. Prüfmethoden
STAS 11381/10-1980 Grafische Symbole für elektrische Diagramme PIEZOELEKTRISCHE KRISTALLE ELEKTRET
STAS 6415/1-1990 Feste elektrische Isoliermaterialien. Bestimmung der Niederspannungslichtbogenfestigkeit bei Gleichstrom

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Piezoelektrische Kristallmaterialien

GJB 3933-2000 Spezifikation für hochreine Aluminiumoxid-Pulvermaterialien für Laserkristalle
GJB/Z 45.2-1993 Militärischer Spektrum-Kristalloszillator der piezoelektrischen Geräteserie
GJB/Z 45.1-1993 Quarzkristallkomponenten für militärische piezoelektrische Geräteserien

RU-GOST R, Piezoelektrische Kristallmaterialien

GOST 9553-1974 Quarzglas- und Glaskristallmaterialien. Bestimmung der Dichte
GOST 20398.7-1974 Feldeffekttransistoren. Technik zur Messung der Schwellen- und Abschaltspannung
GOST 10134.2-1982 Anorganische Glas- und Glaskristallmaterialien. Methode zur Bestimmung der Säurebeständigkeit
GOST 11103-1985 Anorganische Glas- und Glaskristallmaterialien. Methode zur Bestimmung der thermischen Stabilität

GOSTR, Piezoelektrische Kristallmaterialien

GOST 9553-2017 Glas und Glasprodukte. Methode zur Dichtebestimmung
GOST 18604.19-1988 Bipolartransistoren. Methode zur Messung der Schwellenspannung
GOST 11103-2018 Anorganische Glas- und Glaskeramikmaterialien. Methode zur Bestimmung der Hitzebeständigkeit

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Piezoelektrische Kristallmaterialien

KS C IEC 62860:2018 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien
KS C 2105-2003 Prüfverfahren für die Spannungsfestigkeit fester Isolierstoffe
KS C 2127-1996(2021) Prüfverfahren zur Prüfspannungsprüfung dünner, fester elektrischer Isoliermaterialien
KS C 2105-1982 Prüfverfahren für die Spannungsfestigkeit fester Isolierstoffe
KS C IEC 60444-9:2016 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung der Störresonanz von piezoelektrischen Kristalleinheiten
KS C IEC 60444-9-2016(2021) Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung der Störresonanz von piezoelektrischen Kristalleinheiten
KS C 2130-1996 Prüfverfahren für die Hochspannungs-, Schwachstrom- und Trockenlichtbogenbeständigkeit fester elektrischer Isolierungen
KS C IEC 61621:2014 Trockene, feste Isolierstoffe – Widerstandsprüfung gegenüber Hochspannungs- und Schwachstrom-Bogenentladungen
KS C 2130-1996(2016) Prüfverfahren für die Hochspannungs-, Schwachstrom- und Trockenlichtbogenbeständigkeit fester elektrischer Isolierungen
KS C 2131-1996 Prüfverfahren für die Durchschlagsspannung und Durchschlagsfestigkeit fester elektrischer Isolierstoffe
KS C 2131-1996(2016) Prüfverfahren für die Durchschlagsspannung und Durchschlagsfestigkeit fester elektrischer Isolierstoffe

KR-KS, Piezoelektrische Kristallmaterialien

KS C IEC 62860-2018 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien
KS C IEC 62860-2018(2023) Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien

Professional Standard-Ships, Piezoelektrische Kristallmaterialien

CB/Z 166-1979 Messmethode für den spezifischen Volumenwiderstand ρv von piezoelektrischen Keramikmaterialien

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Piezoelektrische Kristallmaterialien

CNS 8105-1981 Testmethode für Transistor-Kollektor – Emitter-Sättigungsspannung

ES-AENOR, Piezoelektrische Kristallmaterialien

UNE 20 349 Leitereingangsverschraubung aus Kunststoff in einer Verpackung für Niederspannungs-Elektromaterial
UNE 53 040 Bestimmung der Lichtbogenspannung und Widerstandsbildung fester Isolierstoffe bei mittleren Spannungsintensitäten

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Piezoelektrische Kristallmaterialien

EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten

American National Standards Institute （ANSI), Piezoelektrische Kristallmaterialien

ANSI/IEEE 1620:2008 Standard für Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistoren und Materialien

European Committee for Standardization (CEN), Piezoelektrische Kristallmaterialien

EN 1815:2016 Elastische und Laminat-Bodenbeläge – Beurteilung der statischen elektrischen Neigung

United States Navy, Piezoelektrische Kristallmaterialien

NAVY MIL-T-82308 A-1969 TRAININGSHILFE, TRANSISTORISIERTES FUNK-KIT MIT ELEKTRONISCHER SCHALTUNG

WRC - Welding Research Council, Piezoelektrische Kristallmaterialien

BULLETIN 122-1967 EIN ÜBERBLICK ÜBER EINIGE MIKROSTRUKTURELLE ASPEKTE DES BRUCHS IN KRISTALLINEN MATERIALIEN

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Piezoelektrische Kristallmaterialien

DB61/T 514-2011 Prüfregeln für Rohstoffe für bodengebundene Photovoltaikmodule aus kristallinem Silizium

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Piezoelektrische Kristallmaterialien

DB65/T 3683-2014 Technische Spezifikationen der Rohstoffe für bodengebundene Photovoltaikmodule aus kristallinem Silizium

American Welding Society (AWS), Piezoelektrische Kristallmaterialien

WRC 122:1967(1976) Ein Überblick über einige mikrostrukturelle Aspekte des Bruchs in kristallinen Materialien

U.S. Military Regulations and Norms, Piezoelektrische Kristallmaterialien

ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS

Danish Standards Foundation, Piezoelektrische Kristallmaterialien

DS/EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten

ESD - ESD ASSOCIATION, Piezoelektrische Kristallmaterialien

STM97.2-1999 Spannungsmessung von Bodenmaterialien und Schuhen in Kombination mit einer Person

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Piezoelektrische Kristallmaterialien

JEDEC JESD52-1995 Beschreibung von TTL-kompatiblen CMOS-Logikgeräten mit niedriger Spannung

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Piezoelektrische Kristallmaterialien

YS/T 557-2006 Testverfahren zur Schallwellendämpfung eines piezoelektrischen Lithiumniobat-Einkristalls

Defense Logistics Agency, Piezoelektrische Kristallmaterialien

DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, NIEDRIGER LEISTUNGSSCHOTTKY, TTL, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR, MONOLITHISCHES SILIZIUM

American Society for Testing and Materials (ASTM), Piezoelektrische Kristallmaterialien

ASTM D1389-97a Standardprüfverfahren zur Prüfspannungsprüfung dünner, fester elektrischer Isoliermaterialien