Halbleiter allgemein

Für die Halbleiter allgemein gibt es insgesamt 47 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleiter allgemein die folgenden Kategorien: Diskrete Halbleitergeräte, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Teile für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Telekommunikationssystem, Optoelektronik, Lasergeräte, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen.

British Standards Institution (BSI), Halbleiter allgemein

BS EN IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente. Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung
BS EN 62779-1:2016 Halbleiterbauelemente. Halbleiterschnittstelle für die Kommunikation mit dem menschlichen Körper. Allgemeine Anforderungen

RU-GOST R, Halbleiter allgemein

GOST 11630-1984 Halbleiterbauelemente. Generelle Spezifikation

Defense Logistics Agency, Halbleiter allgemein

DLA QML-19500-QPD-2010 Halbleiterbauelemente, Allgemeine Spezifikation für
DLA QML-19500-QPD-2011 Halbleiterbauelemente, Allgemeine Spezifikation für
DLA QML-19500-2011 Halbleiterbauelemente, Allgemeine Spezifikation für
DLA QML-19500-QPD-2012 Halbleiterbauelemente, Allgemeine Spezifikation für
DLA QML-19500-2012 Halbleiterbauelemente, Allgemeine Spezifikation für
DLA QML-19500-2013 Halbleiterbauelemente, Allgemeine Spezifikation für
DLA SMD-5962-96890 REV A-2003 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, NIEDERSPANNUNGS-CMOS, 18-BIT-GTL/LVT-UNIVERSAL-BUS-TRANSCEIVER MIT DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON

Danish Standards Foundation, Halbleiter allgemein

DS/EN IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung

Association Francaise de Normalisation, Halbleiter allgemein

NF C96-287-1*NF EN IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung
NF EN IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifikation – Teil 1: Qualifizierungsrichtlinien für die Zuverlässigkeit integrierter Schaltkreise
NF C96-779-3*NF EN 62779-3:2016 Halbleiterbauelemente – Halbleiterschnittstelle für die Kommunikation mit dem menschlichen Körper – Teil 3: Funktionstyp und seine Betriebsbedingungen

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Halbleiter allgemein

EN IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung
EN 62779-1:2016 Halbleiterbauelemente – Halbleiterschnittstelle für die Kommunikation mit dem menschlichen Körper – Teil 1: Allgemeine Anforderungen
EN 62779-3:2016 Halbleiterbauelemente – Halbleiterschnittstelle für die Kommunikation mit dem menschlichen Körper – Teil 3: Funktionstyp und seine Betriebsbedingungen

International Electrotechnical Commission (IEC), Halbleiter allgemein

IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung
IEC 62779-4:2020 Halbleiterbauelemente – Halbleiterschnittstelle für die Kommunikation mit dem menschlichen Körper – Teil 4: Kapselendoskop
IEC 62779-3:2016 Halbleiterbauelemente – Halbleiterschnittstelle für die Kommunikation mit dem menschlichen Körper – Teil 3: Funktionstyp und seine Betriebsbedingungen

ES-UNE, Halbleiter allgemein

UNE-EN IEC 63287-1:2021 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifizierung (gebilligt von der Asociación Española de Normalización im November 2021.)

German Institute for Standardization, Halbleiter allgemein

DIN EN IEC 63287-1:2020-06 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifizierung – Teil 1: Richtlinien für die Zuverlässigkeitsqualifizierung von LSI (IEC 47/2614/CDV:2020); Deutsche und englische Version prEN IEC 63287-1:2020 / Hinweis: Ausgabedatum 08.05.2020*Als Ersatz gedacht...
DIN EN IEC 63287-1:2023-09 Halbleiterbauelemente – Allgemeine Richtlinien zur Halbleiterqualifikation – Teil 1: Richtlinien für die IC-Zuverlässigkeitsqualifikation (IEC 63287-1:2021); Deutsche Fassung EN IEC 63287-1:2021 / Hinweis: DIN EN 60749-43 (2018-05) bleibt neben dieser Norm weiterhin gültig ...

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Halbleiter allgemein

GB/T 14548-1993 Allgemeine Spezifikation für Marine-Halbleiterwandler
GB/T 43366-2023 Allgemeine Spezifikation für diskrete Halbleiterbauelemente für Luft- und Raumfahrtanwendungen
GB 7423.1-1987 Allgemeine technische Anforderungen an Kühlkörper für Halbleiterbauelemente
GB/T 29299-2012 Allgemeine Spezifikation des Halbleiterlaser-Entfernungsmessers
GB/T 13973-2012 Allgemeine Spezifikationstestmethoden für Kurvenverfolgungsgeräte für Halbleiterbauelemente

Professional Standard - Aerospace, Halbleiter allgemein

QJ 10006-2008 Allgemeine Spezifikation für integrierte Halbleiterschaltungen für die Luft- und Raumfahrt
QJ 10007-2008 Allgemeine Spezifikation für diskrete Halbleiterbauelemente für die Luft- und Raumfahrt

Professional Standard - Machinery, Halbleiter allgemein

JB/T 7064-1993 Allgemeine Spezifikationen für Halbleiter-Wechselrichter

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Halbleiter allgemein

GB/T 38345-2019 Allgemeine Designanforderungen an integrierte Halbleiterschaltungen für Raumfahrtanwendungen

YU-JUS, Halbleiter allgemein

JUS N.R1.350-1979 Buchstabensymbole für Halbleiterbauelemente. Allgemeines Symboh.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Halbleiter allgemein

GJB 8121-2013 Allgemeine Spezifikation für die optoelektronische Halbleiterbaugruppe
GJB 8120-2013 Allgemeine Spezifikation für optoelektronische Halbleitermodule
GJB 597B-2012 Allgemeine Spezifikation für integrierte Halbleiterschaltungen
GJB 33B-2021 Allgemeine Spezifikation für diskrete Halbleiterbauelemente
GJB 8190-2015 Allgemeine Spezifikation für Halbleiter-Festkörperlichtquellen für die Außenbeleuchtung von Flugzeugen
GJB 7400-2011 Allgemeine Spezifikation für integrierte Halbleiterschaltungen mit qualifizierter Herstellerzertifizierung
GJB 8119-2013 Allgemeine Spezifikation für optoelektronische Halbleitergeräte
GJB 1420B-2011 Allgemeine Spezifikation für Gehäuse integrierter Halbleiterschaltungen
GJB 923A-2004 Allgemeine Spezifikation für Gehäuse diskreter Halbleiterbauelemente
GJB 923B-2021 Allgemeine Spezifikation für Gehäuse für diskrete Halbleitergeräte

RO-ASRO, Halbleiter allgemein

STAS 10954-1977 HALBLEITER-GLEICHRICHTER Allgemeine technische Anforderungen an die Qualität

Professional Standard - Post and Telecommunication, Halbleiter allgemein

YD 576-1992 Halbleitergleichrichterausrüstungen für die Telekommunikation

SE-SIS, Halbleiter allgemein

SIS SS CECC 50001-1981 Vordruck für Bauartspezifikation: Allzweck-Halbleiterdioden. Vordruck für Bauartspezi fika tion: Allzweck – Halbleiterdioden

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Halbleiter allgemein

DB61/T 1250-2019 Allgemeine Spezifikation für diskrete Halbleiterbauelemente aus Sic-Material (Siliziumkarbid).