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반도체 일반

모두 47항목의 반도체 일반와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 일반와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 조선 및 해양 구조물 통합, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 항공우주 제조용 부품, 통신 시스템, 광전자공학, 레이저 장비, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정.

British Standards Institution (BSI), 반도체 일반

• BS EN IEC 63287-1:2021 반도체 소자에 대한 일반 반도체 자격 지침 IC 신뢰성 자격 지침
• BS EN 62779-1:2016 반도체 장치, 인체 통신을 위한 반도체 인터페이스, 일반 요구 사항

RU-GOST R, 반도체 일반

• GOST 11630-1984 반도체 장치 일반 사양

Defense Logistics Agency, 반도체 일반

• DLA QML-19500-QPD-2010 반도체 장치의 일반 사양
• DLA QML-19500-QPD-2011 반도체 장치의 일반 사양
• DLA QML-19500-2011 반도체 장치의 일반 사양
• DLA QML-19500-QPD-2012 반도체 장치의 일반 사양
• DLA QML-19500-2012 반도체 장치의 일반 사양
• DLA QML-19500-2013 반도체 장치의 일반 사양
• DLA SMD-5962-96890 REV A-2003 18비트 저전압 상보성 금속 산화물 반도체 범용 버스 3상태 출력 수신기 실리콘 모놀리식 회로 디지털 마이크로회로

Danish Standards Foundation, 반도체 일반

• DS/EN IEC 63287-1:2021 반도체 장치 "일반 반도체 인증 가이드" 1부: IC 신뢰성 인증 가이드

Association Francaise de Normalisation, 반도체 일반

• NF C96-287-1*NF EN IEC 63287-1:2021 반도체 장치에 대한 일반 반도체 자격 지침 1부: IC 신뢰성 자격 지침
• NF EN IEC 63287-1:2021 반도체 장치 - 일반 반도체 인증 가이드 - 1부: 집적 회로 신뢰성 인증 가이드
• NF C96-779-3*NF EN 62779-3:2016 반도체 장치 인체 통신을 위한 반도체 인터페이스 3부: 기능 유형 및 작동 조건

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 반도체 일반

• EN IEC 63287-1:2021 반도체 장치에 대한 일반 반도체 자격 지침 1부: IC 신뢰성 자격 지침
• EN 62779-1:2016 반도체 장치 - 인체 통신을 위한 반도체 인터페이스 - 1부: 일반 요구 사항
• EN 62779-3:2016 반도체 장치 인체 통신을 위한 반도체 인터페이스 3부: 기능 유형 및 작동 조건

International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 일반

• IEC 63287-1:2021 반도체 장치에 대한 일반 반도체 자격 지침 1부: IC 신뢰성 자격 지침
• IEC 62779-4:2020 반도체 장치 인체 통신을 위한 반도체 인터페이스 4부: 캡슐 내시경
• IEC 62779-3:2016 반도체 장치 - 인체 통신을 위한 반도체 인터페이스 - 3부: 기능 유형 및 작동 조건

ES-UNE, 반도체 일반

• UNE-EN IEC 63287-1:2021 반도체 장치에 대한 일반 반도체 자격 지침 1부: IC 신뢰성 자격 지침

German Institute for Standardization, 반도체 일반

• DIN EN IEC 63287-1:2020-06 반도체 장치에 대한 일반 반도체 자격 지침 제1부: LSI 신뢰성 자격 지침
• DIN EN IEC 63287-1:2023-09 반도체 장치에 대한 일반 반도체 자격 가이드 1부: IC 신뢰성 자격 가이드(IEC 63287-1:2021), 독일어 버전 EN IEC 63287-1:2021 / 참고: DIN EN 60749-43(2018-05) 및 이 표준은 여전히 유효합니다. 함께...

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 일반

• GB/T 14548-1993 해양용 반도체 컨버터의 일반 기술 조건
• GB/T 43366-2023 항공우주 응용 분야용 반도체 개별 장치의 일반 사양
• GB 7423.1-1987 반도체 장치 방열판의 일반 기술 조건
• GB/T 29299-2012 반도체 레이저 거리 측정기의 일반 기술 조건
• GB/T 13973-2012 반도체 튜브 특성에 대한 일반 사양 그래픽 장치

Professional Standard - Aerospace, 반도체 일반

• QJ 10006-2008 항공우주 응용 분야용 반도체 집적 회로의 일반 사양
• QJ 10007-2008 항공우주 응용 분야용 반도체 개별 장치의 일반 사양

Professional Standard - Machinery, 반도체 일반

• JB/T 7064-1993 반도체 인버터의 일반 기술 조건

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 반도체 일반

• GB/T 38345-2019 항공우주 반도체 집적 회로의 일반 설계 요구 사항

YU-JUS, 반도체 일반

• JUS N.R1.350-1979 반도체 알파벳 기호입니다. 유니버설 로고

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 반도체 일반

• GJB 8121-2013 반도체 광전자 부품에 대한 일반 사양
• GJB 8120-2013 반도체 광전자 모듈의 일반 사양
• GJB 597B-2012 반도체 집적 회로의 일반 사양
• GJB 33B-2021 반도체 디스크리트 장치의 일반 사양
• GJB 8190-2015 항공기 외부 조명용 반도체 고체 광원에 대한 일반 사양
• GJB 7400-2011 적격 제조업체 인증을 위한 반도체 집적 회로에 대한 일반 사양
• GJB 8119-2013 반도체 광전자 장치의 일반 사양
• GJB 1420B-2011 반도체 집적 회로 인클로저의 일반 사양
• GJB 923A-2004 반도체 개별 장치 인클로저에 대한 일반 사양
• GJB 923B-2021 반도체 개별 장치 인클로저에 대한 일반 사양

RO-ASRO, 반도체 일반

• STAS 10954-1977 반도체 정류기. 일반 품질 기술 요구 사항

Professional Standard - Post and Telecommunication, 반도체 일반

• YD 576-1992 통신용 반도체 정류장비

SE-SIS, 반도체 일반

• SIS SS CECC 50001-1981 자세한 사양은 공백입니다. 범용 반도체 다이오드

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 반도체 일반

• DB61/T 1250-2019 SiC(탄화규소) 재료 반도체 디스크리트 장치에 대한 일반 사양

기타:   반도체 레이저 거리 측정기의 일반 기술 조건, +++++반도체 레이저 거리 측정기의 일반 기술 조건, 보편적 기준선, 미사일의 범용, 범용 시약, 곡물 만능, GM, 범용 질소, 유니버설 너트, 범용 질소, 범용 시약, 일반 플라스틱, 공통 포트, 범용 프라이머, 범용 반도체 집적 회로 하우징, 일반 반도체 광전자 부품, 반도체 광전모듈 일반, 반도체 일반, 반도체 집적회로 일반, 항공우주용 범용 반도체 집적회로.