Полупроводниковый общий

Полупроводниковый общий, Всего: 55 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Полупроводниковый общий, являются: Полупроводниковые приборы, Судостроение и морские сооружения в целом, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Компоненты для аэрокосмического строительства, Телекоммуникационные системы, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения.

SCC, Полупроводниковый общий

BS IEC 60747-1:2006 Полупроводниковые приборы. Общий
CEI EN 62779-1:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 1. Общие требования.
CEI EN 62779-3:2017 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 3. Функциональный тип и условия его эксплуатации.
DIN EN IEC 63287-1 E:2020 Проект документа. Полупроводниковые устройства. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности БИС (IEC 47/2614/CDV:2020); Немецкая и английская версия prEN IEC 63287-1:2020.
BS 9970-0:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов. Полупроводниковые приборы. Общая спецификация

British Standards Institution (BSI), Полупроводниковый общий

BS EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников — Рекомендации по квалификации надежности ИС
BS EN 62779-1:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Общие требования
23/30478757 DC БС ЕН МЭК 63287-3. Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 3. Рекомендации по планам аттестации надежности силовых полупроводниковых модулей.

RU-GOST R, Полупроводниковый общий

GOST 11630-1984 Полупроводниковые приборы. Общая спецификация

Defense Logistics Agency, Полупроводниковый общий

DLA QML-19500-QPD-2010 Полупроводниковые приборы. Общие технические характеристики
DLA QML-19500-QPD-2011 Полупроводниковые приборы. Общие технические характеристики
DLA QML-19500-2011 Полупроводниковые приборы. Общие технические характеристики
DLA QML-19500-QPD-2012 Полупроводниковые приборы. Общие технические характеристики
DLA QML-19500-2012 Полупроводниковые приборы. Общие технические характеристики
DLA QML-19500-2013 Полупроводниковые приборы. Общие технические характеристики
DLA SMD-5962-96890 REV A-2003 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, НИЗКОВОЛЬТНЫЕ КМОП, 18-БИТНЫЙ УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ШИННЫЙ ТРАНСИВЕР GTL/LVT С ТРЕХСОСТОЯННЫМИ ВЫХОДАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ

Danish Standards Foundation, Полупроводниковый общий

DS/EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.

Association Francaise de Normalisation, Полупроводниковый общий

NF C96-287-1*NF EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.
NF EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности интегральных схем.
NF C96-779-3*NF EN 62779-3:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 3. Функциональный тип и условия его эксплуатации.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Полупроводниковый общий

EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.
EN 62779-1:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 1. Общие требования
EN 62779-3:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 3. Функциональный тип и условия его эксплуатации.

International Electrotechnical Commission (IEC), Полупроводниковый общий

IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.
IEC 62779-4:2020 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 4. Капсульный эндоскоп.
IEC 62779-3:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 3. Функциональный тип и условия его эксплуатации.

ES-UNE, Полупроводниковый общий

UNE-EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС (утверждены Испанской ассоциацией нормализации в ноябре 2021 г.).

German Institute for Standardization, Полупроводниковый общий

DIN EN IEC 63287-1:2020-06 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности БИС (IEC 47/2614/CDV:2020); Версия на немецком и английском языках согласно prEN IEC 63287-1:2020 / Примечание: Дата выпуска: 08.05.2020*Предназначено в качестве замены...
DIN EN IEC 63287-1:2023-09 Полупроводниковые устройства. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС (IEC 63287-1:2021); Немецкая версия EN IEC 63287-1:2021 / Примечание: DIN EN 60749-43 (2018-05) остается действительным наряду с этим стандартом...

GSO, Полупроводниковый общий

GSO IEC 63287-1:2024 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников. Часть 1. Рекомендации по квалификации надежности ИС.
GSO IEC 62779-3:2021 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 3. Функциональный тип и условия его эксплуатации.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Полупроводниковый общий

GB/T 14548-1993 Общие технические условия на морские полупроводниковые преобразователи
GB/T 43366-2023 Общие технические условия на полупроводниковые дискретные устройства аэрокосмического назначения.
GB 7423.1-1987 Общие технические требования к радиаторам полупроводниковых приборов.
GB/T 29299-2012 Общие характеристики полупроводникового лазерного дальномера
GB/T 13973-2012 Общие методы испытаний для индикаторов кривых полупроводниковых приборов

Professional Standard - Aerospace, Полупроводниковый общий

QJ 10006-2008 Общие спецификации полупроводниковых интегральных схем для аэрокосмической отрасли
QJ 10007-2008 Общие спецификации полупроводниковых дискретных устройств для аэрокосмической отрасли

Professional Standard - Machinery, Полупроводниковый общий

JB/T 7064-1993 Общие характеристики полупроводниковых инверторов

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Полупроводниковый общий

GB/T 38345-2019 Общие требования к проектированию полупроводниковых интегральных схем космического применения

YU-JUS, Полупроводниковый общий

JUS N.R1.350-1979 Буквенные обозначения полупроводниковых приборов. Общий симбох.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Полупроводниковый общий

GJB 8121-2013 Общие технические условия на полупроводниковые оптоэлектронные сборки
GJB 8120-2013 Общие технические условия на полупроводниковый оптоэлектронный модуль
GJB 597B-2012 Общие спецификации полупроводниковых интегральных схем
GJB 33B-2021 Общие спецификации полупроводниковых дискретных устройств
GJB 8190-2015 Общие технические условия на полупроводниковые твердотельные источники света для наружного освещения самолетов
GJB 7400-2011 Общие технические условия на полупроводниковые интегральные схемы, сертифицированные квалифицированным производителем
GJB 8119-2013 Общие технические условия на полупроводниковые оптоэлектронные устройства
GJB 1420B-2011 Общие технические условия на корпуса полупроводниковых интегральных схем
GJB 923A-2004 Общие технические условия на корпуса полупроводниковых дискретных приборов
GJB 923B-2021 Общие спецификации для корпусов полупроводниковых дискретных устройств

RO-ASRO, Полупроводниковый общий

STAS 10954-1977 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ВЫПРЯМИТЕЛИ Общие технические требования к качеству

Professional Standard - Post and Telecommunication, Полупроводниковый общий

YD 576-1992 Полупроводниковое выпрямительное оборудование Для телекоммуникаций

SE-SIS, Полупроводниковый общий

SIS SS CECC 50001-1981 Бланк спецификации: Полупроводниковые диоды общего назначения. Vordruck für Bauartspezifikation: Allzweck—Halbleiterdioden.

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Полупроводниковый общий

DB61/T 1250-2019 Общие спецификации для полупроводниковых дискретных устройств из материала Sic (карбид кремния)