Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

Für die Dokumentation der Instrumentenlebensdauer gibt es insgesamt 141 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Dokumentation der Instrumentenlebensdauer die folgenden Kategorien: Technische Produktdokumentation, Chemische Ausrüstung, Ausrüstung für die Öl- und Gasindustrie, Mechanischer Test, Anwendungen der Informationstechnologie, Zerstörungsfreie Prüfung, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Optoelektronik, Lasergeräte, Längen- und Winkelmessungen, Elektrische Geräte und Systeme für die Luft- und Raumfahrt, Diskrete Halbleitergeräte, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Softwareentwicklung und Systemdokumentation, medizinische Ausrüstung, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Glasfaserkommunikation, Elektronische Anzeigegeräte, Bordausrüstung und Instrumente, Industrielles Automatisierungssystem, Astronomie, Geodäsie, Geographie, Klebstoffe und Klebeprodukte, Obst, Gemüse und deren Produkte, grafische Symbole, Bergbauausrüstung, Baugewerbe, Seilbahnausrüstung.

German Institute for Standardization, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

DIN 28000-2:2011 Chemische Apparate – Dokumentation im Lebenszyklus verfahrenstechnischer Anlagen – Teil 2: Inhalte der Dokumentation
DIN 28000-2:2002 Chemische Apparate – Arten von Dokumenten im Lebenszyklus von Prozessanlagen – Teil 2: Definitionen der Arten von Dokumenten
DIN EN 62304:2007 Medizingerätesoftware – Software-Lebenszyklusprozesse (IEC 62304:2006); Deutsche Fassung EN 62304:2006
DIN ISO 15226:2017 Technische Produktdokumentation – Lebenszyklusmodell und Dokumentenzuordnung (ISO 15226:1999)
DIN ISO 15226:1999 Technische Produktdokumentation – Lebenszyklusmodell und Dokumentenzuordnung (ISO 15226:1999)
DIN EN ISO 17526:2003-10 Optische und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern (ISO 17526:2003); Deutsche Fassung EN ISO 17526:2003
DIN 28000-1:2002 Chemische Apparate – Arten von Dokumenten im Lebenszyklus verfahrenstechnischer Anlagen – Teil 1: Erfassung der wesentlichen und ergänzenden Dokumentenarten
DIN 28000-1:2011 Chemische Apparate – Dokumentation im Lebenszyklus verfahrenstechnischer Anlagen – Teil 1: Erfassung der wesentlichen und ergänzenden Dokumentation
DIN 28000-3:2009 Chemische Apparate – Dokumentation im Lebenszyklus verfahrenstechnischer Anlagen – Teil 3: Fließdiagramme und Anlagenkennzeichnungen
DIN EN ISO 17526:2003 Optische und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Geräte – Lebensdauer von Lasern (ISO 17526:2003); Deutsche Fassung EN ISO 17526:2003
DIN EN 62304:2016 Software für medizinische Geräte – Software-Lebenszyklusprozesse (IEC 62304:2006 + A1:2015); Deutsche Fassung EN 62304:2006 + Cor.:2008 + A1:2015
DIN EN 2591-406:1998 Luft- und Raumfahrt - Elemente der elektrischen und optischen Verbindung; Prüfverfahren - Teil 406: Mechanische Lebensdauer; Deutsche Fassung EN 2591-406:1998
DIN 28000-1 Berichtigung 1:2012 Chemische Apparate - Dokumentation im Lebenszyklus verfahrenstechnischer Anlagen - Teil 1: Erfassung der wesentlichen und ergänzenden Dokumentation, Berichtigung zu DIN 28000-1:2011-01
DIN EN 60749-23:2011-07 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004 + A1:2011 / Hinweis: DIN EN 60749-23 (2004-10) bleibt neben dieser Norm bis... gültig.
DIN EN 62005-7:2004 Zuverlässigkeit von faseroptischen Verbindungsgeräten und passiven optischen Komponenten – Teil 7: Lebensbelastungsmodellierung (IEC 62005-7:2004); Deutsche Fassung EN 62005-7:2004
DIN EN 3745-410:2015 Luft- und Raumfahrt - Fasern und Kabel, optisch, für den Einsatz in Flugzeugen - Prüfverfahren - Teil 410: Thermische Lebensdauer; Deutsche und englische Fassung EN 3745-410:2015
DIN EN 3745-410:2016 Luft- und Raumfahrt - Fasern und Kabel, optisch, für den Einsatz in Flugzeugen - Prüfverfahren - Teil 410: Thermische Lebensdauer; Deutsche und englische Fassung EN 3745-410:2015
DIN EN 60749-23:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004 + A1:2011
DIN EN 302-7:2013 Klebstoffe für tragende Holzkonstruktionen – Prüfverfahren – Teil 7: Bestimmung der Nutzungsdauer unter Referenzbedingungen; Deutsche Fassung EN 302-7:2013
DIN EN 60749-5:2018-01 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit (IEC 60749-5:2017); Deutsche Fassung EN 60749-5:2017 / Hinweis: DIN EN 60749-5 (2003-09) bleibt neben dieser Norm bis 2020 gültig...
DIN EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauerprüfung (IEC 60749-5:2003); Deutsche Fassung EN 60749-5:2003
DIN 28000-4:2014 Chemische Apparate – Dokumentation im Lebenszyklus verfahrenstechnischer Anlagen – Teil 4: Grafische Symbole von Ventilen, Rohren und Antrieben
DIN CWA 16633:2013 Alterungsverhalten von Bauteilen im Hinblick auf die integrierte Lebensdauerbewertung und das anschließende Asset Management gebauter Anlagen; Englische Fassung CWA 16633:2013

Professional Standard - Petroleum, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

SY/T 6144-2008 Technische Spezifikationen des Neutronenlebensdauer-Protokollierungstools
SY/T 6144-1995 Technische Bedingungen des Neutronenlebensdauer-Protokollierungstools
SY 6144-2008 Technische Bedingungen des jährlichen Neutronenlebensdauer-Messgeräts

IN-BIS, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

IS 7412-1974 Lebensdauertest von Halbleiterbauelementen

Society of Automotive Engineers (SAE), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

SAE J2409-1998 Dateiformat für den Austausch von Dehnungs-Lebensermüdungsdaten

Association Francaise de Normalisation, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

NF C74-017*NF EN 62304:2006 Software für medizinische Geräte – Software-Lebenszyklusprozesse.
NF E04-810*NF ISO 15226:1999 Technische Produktdokumentation. Live-Cycle-Modell und Zuordnung von Dokumenten.
NF EN ISO 17526:2003 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Geräte – Lebensdauer von Lasern
NF S10-128*NF EN ISO 17526:2003 Optik und optische Instrumente - Laser und laserbezogene Geräte - Lebensdauer von Lasern.
NF C96-022-23*NF EN 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen.
NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen.
NF C93-913-7*NF EN 62005-7:2004 Zuverlässigkeit von faseroptischen Verbindungsgeräten und passiven optischen Komponenten – Teil 7: Lebensbelastungsmodellierung.
NF EN 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
NF EN 60749-23/A1:2012 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
NF C96-022-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest.
NF C96-022-5*NF EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest
NF EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Dauerlebensdauertest unter Temperatur und Luftfeuchtigkeit mit Vorspannung

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

GB/T 37929-2019 Instrumente zur zerstörungsfreien Prüfung – Methoden zur Prüfung der Lebensdauer von Röntgenröhren
GB/T 40214-2021 Dokumenttypen für Elektro- und Instrumentierungsprojekte in der Prozessindustrie

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

EN 62304:2006 Software für medizinische Geräte – Software-Lebenszyklusprozesse (einschließlich Korrigendum November 2008)
EN 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 23: Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (Enthält Änderung A1: 2011)
EN IEC 60749-5:2024 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

Professional Standard - Water Conservancy, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

SL/T 108-1995 Die Methoden der Modellnomenklatur für hydrologische Instrumente
SL 108-2006 Die Methoden des Modells und der Nomenklatur für hydrologische Instrumente und das automatische System der Wasserressourcen und Hydrologie
SL/T 244-1999 Allgemeine Spezifikationen für Geräte und Instrumente für hydrometrische Seilbahnmessungen

American National Standards Institute （ANSI), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

ANSI/AAMI/IEC 62304,Ed.1:2006 Software für medizinische Geräte – Software-Lebenszyklusprozesse

British Standards Institution (BSI), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

BS ISO/IEC 24789-1:2012 Identifikationskarten. Lebensdauer der Karte. Anwendungsprofile und Anforderungen
BS EN ISO 17526:2003 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
BS EN 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Testmethoden. Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
BS ISO/IEC/IEEE 26531:2015 System- und Software-Engineering. Content-Management für Produktlebenszyklus-, Benutzer- und Service-Management-Dokumentation
BS EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
BS EN 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

JJF 1203-2008 Kalibrierungsspezifikation für elektroakustische Produkte (Lautsprecher) und Geräte zur Messung der Leistungslebensdauer

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

KS B ISO 17526:2020 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
KS B ISO 17526:2015 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
KS B ISO 17526:2013 Optik und optische Instrumente ?; Laser und laserbezogene Ausrüstung?; Lebensdauer von Lasern
KS B ISO 17526:2008 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
KS C IEC 60749-23:2006 Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
KS C IEC 60749-23:2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
KS C IEC 60749-23-2006(2016) Halbleiterbauelemente – mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen

KR-KS, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

KS B ISO 17526-2020 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
KS C IEC 60749-23-2021 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen

Group Standards of the People's Republic of China, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

T/ZAQ 10113-2022 Geräte zur intermittierenden Lebensdauerprüfung von Halbleiterbauelementen
T/ZZB Q063-2022 Geräte zur intermittierenden Lebensdauerprüfung von Halbleiterbauelementen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

GJB 10196-2021 Beschleunigte Lebensdauertestmethode für Festkörper-Mikrowellenleistungsgeräte
GJB 9380-2018 Methode und Bewertungsanforderungen für die Lebensdauer von Lötverbindungen bei oberflächenmontierbaren Geräten
GJB 8349-2015 Allgemeine Anforderungen an Zufallsdokumente für militärische Testinstrumente

GB-REG, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

REG NASA-LLIS-0610--1999 Gelernte Erkenntnisse: Langzeitlebensdauertests von Raumfahrzeugkomponenten

International Organization for Standardization (ISO), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

ISO 17526:2003 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
ISO/IEC 24789-1:2012 Ausweise - Kartenlebensdauer - Teil 1: Anwendungsprofile und Anforderungen

Danish Standards Foundation, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

DS/EN ISO 17526:2003 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern
DS/EN 60749-23/A1:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
DS/EN 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
DS/EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

JP-JEITA, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

JEITA EDR-4704A-2007 Anwendungsleitfaden zum beschleunigten Lebensdauertest für Halbleiterbauelemente

Lithuanian Standards Office , Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

LST EN ISO 17526:2004 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern (ISO 17526:2003)
LST EN 60749-23-2004 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Teil 23: Betriebsdauer bei hohen Temperaturen (IEC 60749-23:2004)
LST EN 60749-23-2004/A1-2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen (IEC 60749-23:2004/A1:2011)

AENOR, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

UNE-EN ISO 17526:2004 Optik und optische Instrumente – Laser und laserbezogene Ausrüstung – Lebensdauer von Lasern (ISO 17526:2003)
UNE-EN 62005-7:2005 Zuverlässigkeit von Glasfaserverbindungsgeräten und passiven optischen Komponenten – Teil 7: Lebensstressmodellierung
UNE-EN 60749-23:2005 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
UNE-EN 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden. Teil 5: Dauertemperatur-Feuchtigkeits-Bias-Lebensdauertest

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

JEDEC JESD74A-2007 Verfahren zur Berechnung der Ausfallrate im frühen Lebenszyklus von Halbleiterkomponenten

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

DB61/T 1448-2021 Intermittierende Lebensdauertestverfahren für diskrete Halbleiterbauelemente mit hoher Leistung

European Committee for Standardization (CEN), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

EN ISO 17526:2003 Optik und optische Instrumente Laser und laserbezogene Ausrüstung Lebensdauer von Lasern ISO 17526:2003

RU-GOST R, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

GOST R ISO/IEC 24789-1-2016 Identifikationskarten. Lebensdauer der Karte. Teil 1. Anwendungsprofile und Anforderungen

American Welding Society (AWS), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

WRC 374:1992 Vorträge auf der Konferenz zum Thema „Lebensdauer von Druckbehältern“ 1989 von der französischen AFIAP abgehalten

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

ECA EIA/ECA-364-22B-2000 TP-22B Simuliertes Lebensdauertestverfahren für elektrische Steckverbinder

WRC - Welding Research Council, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

BULLETIN 374-1992 „Vorträge, die auf der von der französischen AFIAP im Jahr 1989 abgehaltenen Konferenz zum Thema „Lebensdauer von Druckbehältern“ vorgetragen wurden

Professional Standard - Building Materials, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

JC/T 551-1994 Toilettenzubehör für niedrigen Wassertank – Ablassventildichtung und Lebensdauertestmethode

ZA-SANS, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

SANS 15289:2007 System- und Software-Engineering – Inhalt von System- und Software-Lebenszyklusprozess-Informationsprodukten (Dokumentation)

Standard Association of Australia （SAA）, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

AS/NZS ISO/IEC 15289:2007 System- und Software-Engineering – Inhalt von System- und Software-Lebenszyklusprozess-Informationsprodukten (Dokumentation)

(U.S.) Telecommunications Industries Association , Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

TIA-1048-2005 Zuverlässigkeit von Glasfaser-Verbindungsgeräten und passiven Komponenten – Teil 7: Modellierung der Lebensdauerbelastung (angenommene IEC 62005-7)

International Electrotechnical Commission (IEC), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
IEC 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
IEC 60278:1968 Mitzuliefernde Dokumentation zu elektronischen Messgeräten
IEC 60749-23:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
IEC 62005-7:2004 Zuverlässigkeit von Glasfaserverbindungsgeräten und passiven optischen Komponenten – Teil 7: Lebensstressmodellierung
IEC 60749-5:2023 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
IEC 60749-5:2023 RLV Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

GB/T 4937.23-2023 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
GB/T 13972-2010 Allgemeine technische Spezifikationen für ozeanographische hydrologische Instrumente
GB/T 13972-1992 Allgemeine technische Spezifikationen für ozeanographische hydrologische Instrumente
GB/T 9359-2016 Grundbedingungen und Methoden der Umweltprüfung für hydrologische Instrumente
GB/T 9359-2001 Grundbedingungen und Methoden der Umweltprüfung für hydrologische Instrumente
GB/T 15966-2007 Primärer Parameter und allgemeine Spezifikation für hydrologische Instrumente
GB/T 15966-1995 Primärer Parameter und allgemeine Spezifikation für hydrologische Instrumente
GB/T 18522.2-2002 Allgemeine Spezifikation für hydrometrische Instrumente – Teil 2: Referenzbetriebszustand
GB/T 32749-2016 Allgemeine Spezifikationen für Geräte und Instrumente für hydrometrische Seilbahnmessungen

American Society for Testing and Materials (ASTM), Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

ASTM F3487-20 Standardhandbuch zur Beurteilung der Lebensdauer eines Bürstenteils, das zur Reinigung eines medizinischen Geräts bestimmt ist

Professional Standard - Electron, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

SJ/Z 9077-1987 Begleitdokumente des elektronischen Messgerätes
SJ/T 11461.5.3-2023 Displays mit organischen Leuchtdioden (OLED) – Teil 5-3: Messmethoden für Image Sticking und Lebensdauer
SJ 2259-1982 Vorbereitung zur Dokumentation der mitgelieferten elektronischen Messgeräte

工业和信息化部, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

SJ/T 11461.5.3-2016 Organische Leuchtdioden-Anzeigegeräte Teil 5-3: Prüfverfahren für Nachbild und Lebensdauer

Professional Standard - Geology, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

DZ 0038-1992 Vorschriften zur Prozessdokumentation geologischer Instrumentenprodukte
DZ/T 0163-1995 Klassifizierungs- und Nummerierungsmethode für Produktdesigndokumente geologischer Instrumente
DZ/T 0198.8-1997 Änderungen an den Prozessdokumenten der Richtlinien zur Prozessführung geologischer Instrumente
DZ 0042-1992 Regelungen zu Produktzeichnungen und technischen Unterlagen geologischer Instrumente
DZ/T 163-1995 Klassifizierungs- und Nummerierungsmethode für Produktdesigndokumente geologischer Instrumente
DZ/T 0042.4-1992 Methode zur Konservierung von Produktzeichnungen und technischen Dokumenten für geologische Instrumente
DZ/Z 5-1981 Allgemeine Regeln für die Erstellung von Produktzeichnungen und technischen Unterlagen geologischer Instrumente
DZ/T 0042.1-1992 Allgemeine Regeln für die Erstellung von Produktzeichnungen und technischen Unterlagen geologischer Instrumente
DZ/T 0042.3-1992 Verfahren zur Änderung von Produktzeichnungen und technischen Dokumenten geologischer Instrumente
DZ/Z 7-1981 Verfahren zur Änderung von Produktzeichnungen und technischen Dokumenten geologischer Instrumente
DZ/Z 8-1981 Methode zur Konservierung von Produktzeichnungen und technischen Dokumenten für geologische Instrumente
DZ/T 0042.2-1992 Anforderungen und Formate für Zeichnungen und technische Dokumente geologischer Instrumente
DZ/Z 6-1981 Anforderungen und Formate für Zeichnungen und technische Dokumente geologischer Instrumente
DZ/T 0138-1994 Standardisierungsüberprüfung von Produktzeichnungen und Konstruktionsdokumenten für geologische Instrumente

CZ-CSN, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

CSN 35 6506-1983 Elektronische Messgeräte. Mitgelieferte Dokumentation zur elektronischen Messung

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

GB/T 15966-2017 Primäre Parameter und allgemeine technische Bedingungen für hydrologische Instrumente

European Association of Aerospace Industries, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

AECMA PREN 2349-317-1999 Anforderungen und Testverfahren der Luft- und Raumfahrtserie für Relais und Schütze, Teil 317: Lebensdauer von Spulenschaltgeräten, Ausgabe 3E
AECMA PREN 2349-317-2000 Anforderungen und Testverfahren der Luft- und Raumfahrtserie für Relais und Schütze Teil 317: Lebensdauer von Spulenschaltgeräten Ausgabe P 1

RO-ASRO, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

STAS 11142-1978 MITGELIEFERTE DOKUMENTE ELEKTRONISCHER MESSGERÄTE. SPEZIFIKATIONEN FÜR IHRE AUSARBEITUNG

未注明发布机构, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

DIN EN 60749-5 E:2016-12 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

KE-KEBS, Dokumentation der Instrumentenlebensdauer

KS 09-533-1983 KENIA-STANDARDSPEZIFIKATION FÜR DIE MIT ELEKTRONISCHEN MESSGERÄTEN ZU LIEFERENDE DOKUMENTATION