Verteilung der Trägerkonzentration

Für die Verteilung der Trägerkonzentration gibt es insgesamt 92 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Verteilung der Trägerkonzentration die folgenden Kategorien: Halbleitermaterial, Prüfung von Metallmaterialien, Isolierflüssigkeit, Partikelgrößenanalyse, Screening, Messung des Flüssigkeitsflusses, Astronomie, Geodäsie, Geographie, Diskrete Halbleitergeräte, analytische Chemie, Luftqualität, Fluidsysteme und Komponenten für die Luft- und Raumfahrt, Luft- und Raumfahrtsysteme und Betriebsgeräte, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Leitermaterial, Kraftstoff, Metrologie und Messsynthese.

Professional Standard - Electron, Verteilung der Trägerkonzentration

SJ 3244.4-1989 Messmethoden für die Profilverteilung der Trägerkonzentration von Galliumarsenid- und Indiumphosphidmaterialien – Elektrochemische Spannungskapazitätsmethode
SJ 2757-1987 Methode zur Messung der Ladungsträgerkonzentration von stark dotierten Halbleitern mittels Infrarotreflexion
SJ 3248-1989 Methoden zur Messung der Trägerkonzentration von zugesetztem Galliumarsenid und Indiumphosphid durch Infrarotreflexion
SJ 3244.1-1989 Methoden zur Messung der Hall-Mobilität und Trägerkonzentration von Galliumarsenid und Indiumphosphid

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Verteilung der Trägerkonzentration

GB/T 8757-2006 Bestimmung der Trägerkonzentration in Galliumarsenid anhand des Plasmaresonanzminimums
GB/T 36705-2018 Testmethode für die Trägerkonzentration von Galliumnitrid-Substraten – Raman-Spektrum-Methode
GB/T 14146-1993 Siliziumepitaxieschichten – Bestimmung der Ladungsträgerkonzentration – Quecksilbersonden-Spannungskapazitätsmethode
GB/T 11068-2006 Galliumarsenid-Epitaxieschicht. Bestimmung der Ladungsträgerkonzentration durch Spannungs-Kapazitäts-Methode
GB/T 14146-2009 Siliziumepitaxieschichten – Bestimmung der Trägerkonzentration – Quecksilbersondenspannungen – Kapazitätsmethode
GB 11068-1989 GaAs-Epitaxieschicht-Trägerkonzentrations-Kapazitäts-Spannungs-Messverfahren
GB/T 14863-2013 Methode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Silizium-Epitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden
GB/T 14863-1993 Standardtestverfahren für die Nettoträgerdichte in Silizium-Eqitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden
GB/T 42732-2023 Größenverteilung und Konzentrationsmessung anorganischer Nanopartikel in wässrigen Phasen in der Nanotechnologie durch Einzelpartikel-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Verteilung der Trägerkonzentration

GB/T 14146-2021 Testverfahren für die Trägerkonzentration von Silizium-Epitaxieschichten – Kapazitäts-Spannungs-Verfahren
GB/T 39843-2021 Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

Group Standards of the People's Republic of China, Verteilung der Trägerkonzentration

T/IAWBS 003-2017 Bestimmung der Trägerkonzentration in der epitaktischen SiC-Schicht_Kapazitäts-Spannungs-Methode mit Quecksilbersonde
T/CASAS 010-2019 Bestimmung der Konzentration und Verteilung von Spurenverunreinigungen in GaN-Materialien durch Sekundärionen-Massenspektrometrie
T/CASAS 009-2019 Bestimmung der Konzentration und Verteilung von Spurenverunreinigungen in halbisolierenden SiC-Materialien durch Sekundärionen-Massenspektrometrie

British Standards Institution (BSI), Verteilung der Trägerkonzentration

PD IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Organische/nanoelektronische Dünnschichtgeräte. Messungen der Ladungsträgerkonzentration
BS ISO 21501-3:2007 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Methoden der Lichtwechselwirkung einzelner Teilchen. Lichtextinktionszähler für flüssigkeitsgetragene Partikel
BS ISO 21501-2:2007 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Methoden der Lichtwechselwirkung einzelner Teilchen. Lichtstreuender Partikelzähler in Flüssigkeiten
BS ISO 21501-3:2019 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Einzelpartikel-Lichtwechselwirkungsmethoden – Lichtextinktionszähler für flüssigkeitsgetragene Partikel
BS ISO 21501-2:2019 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Einzelpartikel-Lichtwechselwirkungsmethoden – Lichtstreuender Partikelzähler in Flüssigkeiten
19/30385918 DC BS ISO 21501-3. Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Methoden der Lichtwechselwirkung einzelner Teilchen. Teil 3. Lichtextinktionszähler für flüssigkeitsgetragene Partikel
19/30385915 DC BS ISO 21501-2. Bestimmung der Partikelgrößenverteilung. Methoden der Lichtwechselwirkung einzelner Teilchen. Teil 2. Lichtstreuender Partikelzähler in Flüssigkeiten
BS PD CEN/TR 13205-3:2014 Exposition am Arbeitsplatz. Bewertung der Leistung des Probenehmers zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft. Analyse von Daten zur Probenahmeeffizienz
BS EN IEC 61788-17:2021 Supraleitung. Elektronische Kennlinienmessungen. Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen
PD CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotechnologien. Größenverteilung und Konzentration anorganischer Nanopartikel in wässrigen Medien mittels Einzelpartikel-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
19/30391554 DC BS EN 61788-17. Supraleitung. Teil 17. Elektronische Kennlinienmessungen. Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

International Organization for Standardization (ISO), Verteilung der Trägerkonzentration

ISO/DIS 19430 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung und Anzahlkonzentration mittels Particle Tracking Analysis (PTA)
ISO 21501-3:2019 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung – Einzelpartikel-Lichtwechselwirkungsmethoden – Teil 3: Lichtextinktionszähler für flüssigkeitsgetragene Partikel
ISO 21501-2:2019 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung – Einzelpartikel-Lichtwechselwirkungsmethoden – Teil 2: Lichtstreuender Partikelzähler in Flüssigkeiten
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 14952-3:2003 Raumfahrtsysteme – Oberflächenreinheit von Fluidsystemen – Teil 3: Analytische Verfahren zur Bestimmung nichtflüchtiger Rückstände und Partikelverunreinigungen
ISO/TS 19590:2017 Nanotechnologien – Größenverteilung und Konzentration anorganischer Nanopartikel in wässrigen Medien mittels Einzelpartikel-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
ISO 28439:2011 Arbeitsplatzatmosphären - Charakterisierung ultrafeiner Aerosole/Nanoaerosole - Bestimmung der Größenverteilung und Anzahlkonzentration mittels differentieller Elektromobilitätsanalysesysteme

IN-BIS, Verteilung der Trägerkonzentration

IS 6339-1971 Analysemethoden für Sedimentkonzentration, Partikelgrößenverteilung und spezifisches Gewicht in Flüssen und Kanälen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Verteilung der Trägerkonzentration

KS B ISO 4365:2022 Flüssigkeitsströmung in offenen Kanälen – Sediment in Bächen und Kanälen – Bestimmung der Konzentration, Partikelgrößenverteilung und relativen Dichte
KS C IEC 60512-5-2:2003 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating
KS C IEC 60512-5-2-2003(2008) Steckverbinder für elektronische Geräte – Tests und Messungen – Teil 5 – 2: Strom – Belastbarkeitstests – Test 5b: Strom – Temperaturreduzierung
KS C IEC 60512-5-2:2014 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating
KS C IEC 61788-17:2020 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

KR-KS, Verteilung der Trägerkonzentration

KS B ISO 4365-2022 Flüssigkeitsströmung in offenen Kanälen – Sediment in Bächen und Kanälen – Bestimmung der Konzentration, Partikelgrößenverteilung und relativen Dichte
KS C IEC 61788-17-2020 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

International Electrotechnical Commission (IEC), Verteilung der Trägerkonzentration

IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 5-3: Organische/nanoelektronische Dünnschichtgeräte – Messungen der Ladungsträgerkonzentration
IEC TS 62607-6-16:2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-16: Zweidimensionale Materialien – Trägerkonzentration: Feldeffekttransistor-Methode
IEC 60512-5-2:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte - Prüfungen und Messungen - Teil 5-2: Prüfungen der Strombelastbarkeit; Test 5b: Strom-Temperatur-Derating
IEC 61788-17:2021 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen
IEC 61788-17:2021 RLV Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

RU-GOST R, Verteilung der Trägerkonzentration

GOST 25645.146-1989 Die Ionosphäre der Erde. Modell der globalen Verteilung von Konzentration, Temperatur und effektiver Kollisionsfrequenz von Elektronen
GOST R 25645.158-1994 Die oberste Ionosphäre der Erde. Modell der Verteilung der Elektronenkonzentration in der Ebene des geomagnetischen Äquators
GOST R 25645.157-1994 Die untere Ionosphäre der Erde. Modell der globalen Konzentrationsverteilung und effektiven Kollisionsfrequenz von Elektronen für die VLE-LF-Radiovorhersage
GOST R 8.775-2011 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Dispersionszusammensetzung von Gasatmosphären. Bestimmung der Nanopartikelgröße durch differenzielle elektrische Mobilitätsanalyse für Aerosolpartikel

American Society for Testing and Materials (ASTM), Verteilung der Trägerkonzentration

ASTM F398-92(1997) Standardtestmethode für die Mehrheitsträgerkonzentration in Halbleitern durch Messung der Wellenzahl oder Wellenlänge des Plasmaresonanzminimums
ASTM F1392-00 Standardtestmethode zur Bestimmung von Nettoträgerdichteprofilen in Siliziumwafern durch Kapazitäts-Spannungsmessungen mit einer Quecksilbersonde
ASTM D4438-13(2018)e1 Standardtestverfahren zur Partikelgrößenverteilung von Katalysatoren und Katalysatorträgern durch elektronische Zählung
ASTM D4438-13 Standardtestverfahren zur Partikelgrößenverteilung von Katalysatoren und Katalysatorträgern durch elektronische Zählung
ASTM D8049-17 Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration, Anzahl und Größenverteilung von Feststoffpartikeln und Wasser in Leicht- und Mitteldestillatbrennstoffen durch Direct Imaging Particle Analyzer
ASTM D8049-16 Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration, Anzahl und Größenverteilung von Feststoffpartikeln und Wasser in Leicht- und Mitteldestillatbrennstoffen durch Direct Imaging Particle Analyzer
ASTM D8049-16a Standardtestmethode zur Bestimmung der Konzentration, Anzahl und Größenverteilung von Feststoffpartikeln und Wasser in Leicht- und Mitteldestillatbrennstoffen durch Direct Imaging Particle Analyzer

Association Francaise de Normalisation, Verteilung der Trägerkonzentration

NF X43-283-4*NF EN 13205-4:2014 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 4: Laborleistungstest basierend auf Konzentrationsvergleichen
XP T16-401*XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotechnologien – Größenverteilung und Konzentration anorganischer Nanopartikel in wässrigen Medien mittels Einzelpartikel-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
NF X43-283-1*NF EN 13205-1:2014 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 1: Allgemeine Anforderungen
FD X43-711-2*FD CEN/TR 16013-2:2010 Exposition am Arbeitsplatz – Leitfaden für die Verwendung direkt ablesbarer Instrumente zur Aerosolüberwachung – Teil 2: Bewertung der Partikelkonzentrationen in der Luft mithilfe optischer Partikelzähler
NF C93-400-5-2*NF EN 60512-5-2:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating.
NF X43-283-6*NF EN 13205-6:2014 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 6: Transport- und Handhabungstests
XP CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotechnologien – Partikelgrößenverteilung und Konzentration anorganischer Nanopartikel in einem wässrigen Medium durch induzierte Plasmamassenspektrometrie im Einzelpartikelmodus
NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen
NF EN IEC 61788-17:2021 Supraleitung – Teil 17: Messungen elektronischer Eigenschaften – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

未注明发布机构, Verteilung der Trägerkonzentration

DIN EN 13205-4 E:2012-09 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 4: Laborleistungstest basierend auf Konzentrationsvergleichen
DIN EN 13205-1 E:2012-10 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 1: Allgemeine Anforderungen
DIN EN 13205-6 E:2012-09 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 6: Transport- und Handhabungstests
DIN CEN ISO/TS 19590:2019*DIN SPEC 19286:2019 Nanotechnologies - Size distribution and concentration of inorganic nanoparticles in aqueous media via single particle inductively coupled plasma mass spectrometry

CEN - European Committee for Standardization, Verteilung der Trägerkonzentration

CEN ISO/TS 19590:2019 Nanotechnologien – Größenverteilung und Konzentration anorganischer Nanopartikel in wässrigen Medien mittels Einzelpartikel-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma

German Institute for Standardization, Verteilung der Trägerkonzentration

DIN EN 13205-4:2014 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 4: Laborleistungstest basierend auf Konzentrationsvergleichen; Deutsche Fassung EN 13205-4:2014
DIN EN 60512-5-2:2003-01 Steckverbinder für elektronische Geräte - Prüfungen und Messungen - Teil 5-2: Prüfungen der Strombelastbarkeit; Test 5b: Strom-Temperatur-Derating (IEC 60512-5-2:2002); Deutsche Fassung EN 60512-5-2:2002 / Hinweis: DIN IEC 60512-3 (1994-05) bleibt weiterhin gültig...
DIN EN 13205-1:2014 Exposition am Arbeitsplatz – Bewertung der Leistung von Probenehmern zur Messung von Partikelkonzentrationen in der Luft – Teil 1: Allgemeine Anforderungen; Deutsche Fassung EN 13205-1:2014
DIN CEN ISO/TS 19590:2019-11*DIN SPEC 19286:2019-11 Nanotechnologien – Größenverteilung und Konzentration anorganischer Nanopartikel in wässrigen Medien mittels Einzelpartikel-Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ISO/TS 19590:2017); Deutsche Fassung CEN ISO/TS 19590:2019

Danish Standards Foundation, Verteilung der Trägerkonzentration

DS/CEN/TR 16013-2:2010 Exposition am Arbeitsplatz – Leitfaden für die Verwendung direkt ablesbarer Instrumente zur Aerosolüberwachung – Teil 2: Bewertung der Partikelkonzentrationen in der Luft mithilfe optischer Partikelzähler
DS/EN 60512-5-2:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating
DS/ISO 21501-4:2007 Bestimmung der Partikelgrößenverteilung – Einzelpartikel-Lichtwechselwirkungsmethoden – Teil 4: Lichtstreuender Luftpartikelzähler für Reinräume
DS/EN IEC 61788-17:2021 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen
DS/EN 61788-17:2013 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Verteilung der Trägerkonzentration

JIS C 5402-5-2:2005 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating

AENOR, Verteilung der Trägerkonzentration

UNE-EN 60512-5-2:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating.

European Committee for Standardization (CEN), Verteilung der Trägerkonzentration

EN ISO 28439:2011 Arbeitsplatzatmosphären – Charakterisierung von ultrafeinen Aerosolen/Nanoaerosolen – Bestimmung der Größenverteilung und Anzahlkonzentration mittels differentieller Elektromobilitätsanalysesysteme (ISO 28439:2011)

Lithuanian Standards Office , Verteilung der Trägerkonzentration

LST EN 60512-5-2-2003 Steckverbinder für elektronische Geräte. Tests und Messungen. Teil 5-2: Prüfungen der Strombelastbarkeit. Test 5b: Strom-Temperatur-Derating (IEC 60512-5-2:2002)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Verteilung der Trägerkonzentration

EN 60512-5-2:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen Teil 5-2: Strombelastbarkeitsprüfungen – Prüfung 5b: Strom-Temperatur-Derating
EN IEC 61788-17:2021 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen
EN 61788-17:2013 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen

ES-UNE, Verteilung der Trägerkonzentration

UNE-EN IEC 61788-17:2021 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Juli 2021.)
UNE-EN 61788-17:2013 Supraleitung – Teil 17: Elektronische Charakteristikmessungen – Lokale kritische Stromdichte und ihre Verteilung in großflächigen supraleitenden Filmen (Befürwortet von AENOR im Mai 2013.)