Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

Für die Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus? gibt es insgesamt 19 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus? die folgenden Kategorien: Prüfung von Metallmaterialien, Isolierflüssigkeit, Halbleitermaterial, analytische Chemie.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

GB/T 8757-2006 Bestimmung der Trägerkonzentration in Galliumarsenid anhand des Plasmaresonanzminimums
GB/T 36705-2018 Testmethode für die Trägerkonzentration von Galliumnitrid-Substraten – Raman-Spektrum-Methode
GB/T 14146-1993 Siliziumepitaxieschichten – Bestimmung der Ladungsträgerkonzentration – Quecksilbersonden-Spannungskapazitätsmethode
GB/T 11068-2006 Galliumarsenid-Epitaxieschicht. Bestimmung der Ladungsträgerkonzentration durch Spannungs-Kapazitäts-Methode
GB/T 14146-2009 Siliziumepitaxieschichten – Bestimmung der Trägerkonzentration – Quecksilbersondenspannungen – Kapazitätsmethode
GB 11068-1989 GaAs-Epitaxieschicht-Trägerkonzentrations-Kapazitäts-Spannungs-Messverfahren
GB/T 14863-2013 Methode zur Bestimmung der Nettoträgerdichte in Silizium-Epitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden
GB/T 14863-1993 Standardtestverfahren für die Nettoträgerdichte in Silizium-Eqitaxieschichten durch Spannungs-Kapazität von gesteuerten und nicht gesteuerten Dioden

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

GB/T 14146-2021 Testverfahren für die Trägerkonzentration von Silizium-Epitaxieschichten – Kapazitäts-Spannungs-Verfahren

Professional Standard - Electron, Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

SJ 2757-1987 Methode zur Messung der Ladungsträgerkonzentration von stark dotierten Halbleitern mittels Infrarotreflexion
SJ 3248-1989 Methoden zur Messung der Trägerkonzentration von zugesetztem Galliumarsenid und Indiumphosphid durch Infrarotreflexion
SJ 3244.1-1989 Methoden zur Messung der Hall-Mobilität und Trägerkonzentration von Galliumarsenid und Indiumphosphid
SJ 3244.4-1989 Messmethoden für die Profilverteilung der Trägerkonzentration von Galliumarsenid- und Indiumphosphidmaterialien – Elektrochemische Spannungskapazitätsmethode

Group Standards of the People's Republic of China, Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

T/IAWBS 003-2017 Bestimmung der Trägerkonzentration in der epitaktischen SiC-Schicht_Kapazitäts-Spannungs-Methode mit Quecksilbersonde

British Standards Institution (BSI), Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

PD IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Organische/nanoelektronische Dünnschichtgeräte. Messungen der Ladungsträgerkonzentration

International Electrotechnical Commission (IEC), Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

IEC TS 62607-5-3:2020 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 5-3: Organische/nanoelektronische Dünnschichtgeräte – Messungen der Ladungsträgerkonzentration
IEC TS 62607-6-16:2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-16: Zweidimensionale Materialien – Trägerkonzentration: Feldeffekttransistor-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

ASTM F398-92(1997) Standardtestmethode für die Mehrheitsträgerkonzentration in Halbleitern durch Messung der Wellenzahl oder Wellenlänge des Plasmaresonanzminimums

International Organization for Standardization (ISO), Wie sieht es mit der Trägerkonzentration aus?

ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie