ZH
EN
KR
JP
ES
RU

Oszillator

Für die Oszillator gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Oszillator die folgenden Kategorien: medizinische Ausrüstung, Ventil, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Umwelttests, Filter, Umfangreiche elektronische Komponenten, Integrierte Luft- und Raumfahrzeuge, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Telekommunikationsendgeräte, Einrichtungen im Gebäude, Wortschatz, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Diskrete Halbleitergeräte, Baumaterial, Gebäudestruktur, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Telekommunikationssystem, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Uhrmacherkunst, Messung von Zeit, Geschwindigkeit, Beschleunigung und Winkelgeschwindigkeit, Thermodynamik und Temperaturmessung, Rotierender Motor, Physik Chemie, Drahtlose Kommunikation, Zutaten für die Farbe, Metrologie und Messsynthese, Zahnheilkunde, Mechanische Komponenten für elektronische Geräte, Elektronenröhre, Komponenten elektrischer Geräte.


Professional Standard - Nuclear Industry, Oszillator

Professional Standard - Medicine, Oszillator

U.S. Military Regulations and Norms, Oszillator

TR-TSE, Oszillator

  • TS 2319-1976 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
  • TS 2268-1976 Quarzkristall-Einheitshalter für Oszillatoren und Stiftanschlüsse

Military Standards (MIL-STD), Oszillator

United States Navy, Oszillator

Professional Standard - Electron, Oszillator

  • SJ/T 10104-1991 Pegeloszillatoren für Typ YX5071
  • SJ/Z 9155.2-1987 Quarzkristalloszillator Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalloszillatoren
  • SJ 2942-1988 Messmethoden für Pegeloszillatoren
  • SJ 1852-1981 Begriffe für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
  • SJ 51648/5-1997 Typ ZC 503,Oszillatoren,Quarz,Detailspezifikation für
  • SJ 2941-1988 Allgemeine Spezifikation für Pegeloszillatoren
  • SJ/T 10638-1995 Messmethoden für Quarzkristalloszillatoren
  • SJ 51648.4-1995 Oszillator, Quarz, Typ ZC505E, detaillierte Spezifikation für
  • SJ 2762-1987 Begriffe für Oberflächenwellen-Oszillatoren (SAW).
  • SJ 2763-1987 Begriffe für Oberflächenwellen-Oszillatoren (SAW).
  • SJ 51648/1-1994 Oszillator, Quarz, Typ ZF507, Detailspezifikation für
  • SJ 51648/2-1994 Oszillator, Quarztyp ZD509, detaillierte Spezifikation für
  • SJ/T 9570.3-1995 Qualitätsbewertungsstandard für Quarzkristalloszillatoren
  • SJ 20803-2001 Mikrowellenschaltungen Messmethoden für spannungsgesteuerte Oszillatoren
  • SJ 51648/3-1994 Oszillator, Quarz, Typ ZC505(A～D) Detailspezifikation für
  • SJ 20527.2-1995 Mikrowellenbaugruppe. Detailspezifikation für den spannungsgesteuerten Oszillator Modell WFZ817
  • SJ 20527.3-2001 Detaillierte Spezifikation der Mikrowellenbaugruppe für den spannungsgesteuerten Oszillator Modell WFZ816A
  • SJ 20527.7-2003 Mikrowellenbaugruppe Detailspezifikation für den phasenstarren dielektrischen Resonator-Oszillator Modell WFZ1006
  • SJ/T 11256-2001 Quarzkristall-Kratal-gesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 1: Allgemeine Spezifikation
  • SJ/T 11457.2-2022 Dielektrische Wellenleiterresonatoren Teil 2: Nutzungsrichtlinien für Oszillatoren und Filter
  • SJ/T 11257-2001 Quarzkristall-gesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 5: Rahmenspezifikation, Qualifikationszulassung
  • SJ/T 11258-2001 Quarzkristall-Kratal-gesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität, Teil 5-1: Blanko-Bauartspezifikation, Qualifikationsgenehmigung

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Oszillator

  • KS C 6503-1999 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
  • KS C 6503-1984 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
  • KS C IEC 60679-2:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • KS C IEC 60679-2-2023 Quarzkristall-Oszillator Teil 2: Eine Anleitung zur Verwendung eines Quarzkristall-Oszillators
  • KS C 6509-1991 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
  • KS C 6508-2013 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
  • KS C 6509-1991(2011) Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
  • KS C IEC 60679-6:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • KS C IEC 60679-6-2023 Qualifizierte Quarzkristalloszillatoren Teil 6: Anwendungsrichtlinien für Phasenjitter-Messmethoden für Quarzkristalloszillatoren und Oberflächenwellenoszillatoren
  • KS C 6504-1987 Öfen für Quarzkristalleinheiten
  • KS C 6508-1990 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
  • KS C 6503-1999(2009) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren
  • KS C 6509-2013 Allgemeine Regeln für quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
  • KS C 6508-1990(2010) Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200∼1000kHz)
  • KS C IEC 60122-2-1-2021 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
  • KS B ISO 3159-2013 Zeitmessinstrumente – Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
  • KS C IEC 62860-1:2018 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
  • KS C IEC 61338-2:2018 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • KS C IEC 61338-2-2023 Dielektrische Wellenleiterresonatoren Teil 2: Anwendungshandbuch für Oszillatoren und Filter
  • KS C IEC 62860-1-2023 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
  • KS C IEC 60679-1:2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • KS C IEC 60679-1-2023 Qualifizierte piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Teil 1: Allgemeine Spezifikationen
  • KS C IEC 60679-5:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • KS C IEC 60679-4:2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • KS C IEC 60679-4-2023 Bewertung der Qualität von Quarzkristalloszillatoren Teil 4: Zertifizierung der Kompetenz zur Segmentierung von Spezifikationen
  • KS C IEC 60679-5-2023 Bewertung der Qualität von Quarzkristalloszillatoren Teil 5: Teilweise Spezifikationsqualifizierung
  • KS C IEC 60679-3:2021 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • KS C IEC 62884-1:2019 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger – Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung
  • KS C IEC 62884-2:2019 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Methode zur Messung des Phasenjitters
  • KS C IEC 60679-5-1-2002(2017) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5 – 1: Blanko-Bauartspezifikation – Qualifikationsgenehmigung
  • KS C IEC 60679-4-1-2002(2017) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4 – 1: Blanko-Bauartspezifikation – Leistungsgenehmigung

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Oszillator

工业和信息化部/国家能源局, Oszillator

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Oszillator

  • CNS 12253-1988 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 1 MHz – 125 MHz)
  • CNS 12254-1988 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren (für 200-1000 kHz)

International Electrotechnical Commission (IEC), Oszillator

  • IEC 60679-2:1981 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • IEC PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
  • IEC 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden
  • IEC 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • IEC 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 CSV Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • IEC 60679-1:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 62860-1:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
  • IEC 60679-3:1989 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen
  • IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Änderung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 Berichtigung 1 – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • IEC 60679-1/AMD1:2002 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation; Änderung 1
  • IEC 60122-3:2010 Quarzkristalleinheiten bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 60679-4:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • IEC 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 60679-1:1980 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
  • IEC 60679-1/AMD1:1985 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
  • IEC 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • IEC 62884-1:2017 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger - Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung
  • IEC 60679-1/AMD2:2003 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation; Änderung 2
  • IEC 62884-3:2018 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 3: Frequenzalterungsprüfmethoden
  • IEC 60679-3:2012 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Phasenjitter-Messverfahren
  • IEC 60679-4-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4-1: Vordruck für Bauartspezifikation – Fähigkeitszulassung
  • IEC 60679-3:2001 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 60679-5-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5-1: Vordruck für Bauartspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • IEC TS 61994-3:2004 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 3: Piezoelektrische und dielektrische Oszillatoren

British Standards Institution (BSI), Oszillator

  • BS EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von bewerteter Qualität. Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsrichtlinien
  • BS EN 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Halbleiterbauelemente – Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
  • BS EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
  • BS ISO 3159:2009 Zeitmessgeräte. Armbandchronometer mit Federunruh-Oszillator
  • BS EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Allgemeine Spezifikation
  • BS ISO 3159:2010 Zeitmessgeräte - Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
  • BS IEC 62860-1:2013 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
  • BS EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren von geprüfter Qualität. Allgemeine Spezifikation
  • BS 9620:1975 Spezifikation für Quarzkristalloszillatoren mit bewerteter Qualität: allgemeine Daten und Prüfmethoden
  • BS EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Standardumrisse und Anschlussverbindungen
  • BS EN 62884-1:2017 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger – Grundlegende Methoden zur Messung
  • BS EN 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Phasenjitter-Messmethode
  • BS EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger. Testmethoden für Frequenzalterung
  • BS EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Abschnittsspezifikation. Fähigkeitsgenehmigung
  • BS EN 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Abschnittsspezifikation. Qualifikationsgenehmigung
  • 19/30393894 DC BS EN 60747-16-5 AMD1. Halbleiterbauelemente. Teil 16-5. Integrierte Mikrowellenschaltungen. Oszillatoren
  • BS EN 169000:1993 Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Allgemeine Spezifikation. Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
  • BS EN 60679-4-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Leere Detailspezifikation. Fähigkeitsgenehmigung
  • BS EN 60679-5-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren von geprüfter Qualität. Leere Detailspezifikation. Qualifikationsgenehmigung
  • BS EN IEC 62884-4:2019 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Oszillatoren – Kurzzeit-Frequenzstabilitätstestmethoden
  • BS EN 169200:1996(2000) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten – Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Oszillator

  • GJB 3160-1998 Allgemeine Spezifikationen für gyromagnetische Oszillatoren
  • GJB 1648-1993 Allgemeine Spezifikationen für Quarzoszillatoren
  • GJB 1648-2-2011 Allgemeine Spezifikation für Quarzoszillatoren
  • GJB 1648A-2011 Allgemeine Spezifikation für Quarzoszillatoren
  • GJB 3515-1999 Allgemeine Spezifikation für Oberflächenwellenoszillatoren
  • GJB 1648/1-2011 Detailspezifikation für den Quarzoszillator Typ ZA511(ZPB-5).
  • GJB/Z 45.2-1993 Militärischer Spektrum-Kristalloszillator der piezoelektrischen Geräteserie
  • GJB 1648/2-2011 Detailspezifikation für temperaturkompensierte Quarzoszillatoren vom Typ ZC547(ZWB-1).
  • GJB 1648/3-2011 Detailspezifikation für den temperaturkompensierten Quarzoszillator vom Typ ZC545 (ZWC-6B-1/2).
  • GJB 2438/25-2021 Detaillierte Spezifikationen für den integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillator WHZD6500M-11 mit integriertem Hybridschaltkreis
  • GJB 2438/23-2021 Detaillierte Spezifikationen des integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillators vom Typ WHZD950M1050M-10 des integrierten Hybridschaltkreises
  • GJB 2438/24-2021 Detaillierte Spezifikationen für den integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillator vom Typ WHZD800M1100M-10 des integrierten Hybridschaltkreises
  • GJB 2438/28-2021 Detaillierte Spezifikationen für den integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillator vom Typ WHZD2200M2600M-10 des integrierten Hybridschaltkreises
  • GJB 2438/21-2021 Detaillierte Spezifikationen des integrierten spannungsgesteuerten Mikrowellen-Hybrid-Oszillators vom Typ WHZD8240M8600M-10 des integrierten Hybridschaltkreises

Association Francaise de Normalisation, Oszillator

  • NF EN 60679-6:2011 Qualitätsgesicherte Quarzoszillatoren – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzoszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • NF C93-620-6*NF EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • NF EN ISO 1797:2017 Oralmedizin - Schäfte für rotierende und oszillierende Instrumente
  • NF UTE C93-611:1975 Piezoelektrische Geräte - Quarzoszillatoren - Sammlung spezieller Blätter.
  • NF C93-611:1975 Komponenten für elektronische Geräte. Piezoelektrische Geräte. Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren.
  • NF C96-627-2*NF EN 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • NF C96-016-5*NF EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • NF EN 60747-16-5/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • NF EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • NF EN 61338-2:2004 Modengeführte dielektrische Resonatoren – Teil 2: Leitfaden für die Anwendung auf Filter und Oszillatoren
  • NF C93-620-1:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • UTE C93-611U*UTE C93-611:1975 Komponenten für elektrische Geräte. Piezoelektrische Geräte. Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren.
  • NF EN 60679-4-1:1999 Quarzgesteuerte Oszillatoren in der Qualitätssicherung – Teil 4-1: Besondere Rahmenspezifikation. Anerkennung von Know-how.
  • NF EN 60679-5:1999 Quarzoszillatoren in der Qualitätssicherung – Teil 5: Zwischenspezifikation – Zulassung
  • NF EN 60679-5-1:2000 Quarzgesteuerte Oszillatoren unter Qualitätssicherung - Teil 5-1: Besondere Rahmenspezifikation - Zulassung
  • NF EN 60679-3:2013 Quarzgesteuerte Oszillatoren in der Qualitätssicherung – Teil 3: Genormte Abmessungen und Ausgangsanschlüsse
  • NF EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren unter Qualitätssicherung – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • NF C93-620-4*NF EN 60679-4:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • NF EN 62884-1:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Schwinger – Teil 1: Grundlegende Messmethoden
  • NF C93-684-3*NF EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 3: Frequenzalterungstestmethoden
  • NF C93-684-2*NF EN 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Phasenjitter-Messverfahren
  • UTE C93-611/A1U*UTE C93-611/A1:1979 KOMPONENTEN FÜR ELEKTRISCHE GERÄTE. PIEZOELEKTRISCHE GERÄTE. Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren. Relevante Artikelblätter.
  • NF EN 60679-4:1999 Quarzgesteuerte Oszillatoren in der Qualitätssicherung – Teil 4: Zwischenspezifikation – Anerkennung von Know-how
  • NF EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Schwinger Teil 3: Frequenzalterungsprüfverfahren
  • NF EN 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Phasenjitter-Messverfahren
  • NF C93-620-5*NF EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • NF C93-620-3:2002 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen.
  • NF C93-620-3*NF EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen

SCC, Oszillator

  • BS DD IEC/PAS 60679-6:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Phasenjitter-Messmethode für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren. Anwendungsleitfaden
  • CEI EN 60679-6:2015 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • DANSK DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • IEC 60122-2:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen
  • AWWA C713-2019 Kaltwasserzähler – Fluid-Oszillator-Typ
  • AWWA C713-2005 Kaltwasserzähler: Fluidoszillatortyp
  • IEC 60122-2:1962/AMD1:1969 Änderung 1 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzoszillatorkristallen
  • DIN EN 60679-6 E:2009 Entwurf eines Dokuments – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden (IEC 49/811/CDV:2008); Deutsche Fassung FprEN 60679-6:2008
  • NS-EN ISO 1797:2017 Zahnmedizin – Schäfte für rotierende und oszillierende Instrumente (ISO 1797:2017)
  • DANSK DS/EN ISO 1797:2017 Zahnmedizin – Schäfte für rotierende und oszillierende Instrumente (ISO 1797:2017)
  • DIN EN ISO 1797 E:2016 Entwurf eines Dokuments – Zahnmedizin – Schäfte für rotierende und oszillierende Instrumente (ISO/DIS 1797.2:2016); Deutsche und englische Version prEN ISO 1797:2016
  • IEC 60122-3:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
  • CEI EN 61338-2:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • DANSK DS/EN 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • CEI EN IEC 60747-16-5/A1:2021 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • CEI EN 60747-16-5:2014 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • DANSK DS/EN 60747-16-5/A1:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • DANSK DS/EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • BS EN 60679-1:1998 Quarzgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Fachgrundspezifikation
  • IEC 60122-3B:1962 Ergänzung 2 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
  • IEC 60122-3A:1962 Ergänzung 1 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
  • IEC 60122-3C:1962 Beilage 3 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
  • IEC 60122-3D:1962 Beilage 4 – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Teil 3: Standardskizzen
  • IEC 60747-16-5:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren KONSOLIDIERTE AUSGABE
  • DANSK DS/EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • CEI EN 60679-1:2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • BS EN 60679-3:2002 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit geprüfter Qualität – Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 60122-3A:1962/COR1:1969 Berichtigung 1 – Ergänzung A – Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Abschnitt 5: Pin-Anschlüsse
  • DANSK DS/EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • DIN IEC 60747-16-5 E:2009 Entwurf eines Dokuments – Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 47E/374/CD:2008)
  • IEC 60679-1:1997/AMD2:2003 Änderung 2 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • IEC 60679-3:1989/AMD1:1994 Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen
  • IEC 60679-1:1997/AMD1:2002 Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • DANSK DS/EN 62884-1:2017 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger – Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung
  • CEI EN 62884-1:2018 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung
  • DANSK DS/EN 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Phasenjitter-Messverfahren
  • DANSK DS/EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 3: Frequenzalterungstestmethoden
  • CEI EN 62884-2:2018 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Oszillatoren Teil 2: Phasenjitter-Messmethode
  • CEI EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Oszillatoren Teil 3: Frequenzalterungstestmethoden
  • CEI EN 60679-3:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • DANSK DS/EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • IEC 60679-1:1980/AMD1:1985 Änderung 1 – Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 1: Allgemeine Informationen, Testbedingungen und -methoden
  • IEC 60122-1:1962 Quarzkristalleinheiten für Oszillatoren – Abschnitt 1: Richtwerte und Bedingungen – Abschnitt 2: Prüfbedingungen

KR-KS, Oszillator

  • KS C IEC 60679-2-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • KS C IEC 60679-2-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • KS C IEC 60679-6-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • KS C IEC 60679-6-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • KS B ISO 3159-2008 Zeitmessinstrumente – Armbandchronometer mit Federwaage-Oszillator
  • KS C IEC 62860-1-2018 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
  • KS C IEC 61338-2-2018 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • KS C IEC 61338-2-2018(2023) Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • KS C IEC 62860-1-2018(2023) Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren
  • KS C IEC 60679-1-2018 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • KS C IEC 60679-1-2018(2023) Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • KS C IEC 60679-4-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • KS C IEC 60679-5-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • KS C IEC 60679-5-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • KS C IEC 60679-4-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • KS C IEC 62884-1-2019 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger – Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung
  • KS C IEC 60679-3-2021 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • KS C IEC 62884-2-2019 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Methode zur Messung des Phasenjitters
  • KS C IEC 62884-3-2023 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 3: Frequenzalterungstestmethoden

GSO, Oszillator

  • GSO IEC 60679-6:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • BH GSO IEC 60679-6:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • OS GSO IEC 60679-6:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • GSO IEC 60679-2:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • BH GSO IEC 60679-2:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • OS GSO IEC 60679-2:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • OS GSO ISO 3159:2007 ZEITMESSER-ARMBANDUHR-CHRONOMETER MIT FEDERBALANCE-OSZILLATOR
  • GSO IEC 61338-2:2014 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • BH GSO IEC 61338-2:2016 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • OS GSO IEC 61338-2:2014 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • GSO IEC 60747-16-5:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • OS GSO IEC 60747-16-5:2017 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • GSO ISO 8780-2:2014 Pigmente und Füllstoffe – Dispergierverfahren zur Beurteilung der Dispergiereigenschaften – Teil 2: Dispergierung mit einer Schwingschüttelmaschine
  • GSO IEC 60235-5:2014 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren. Teil 5: Oszillator-Klystrone mit geringer Leistung
  • GSO IEC 60235-8:2014 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren. Teil 8: Rückwärtswellenoszillatorröhren – '0' Typ
  • OS GSO IEC 60235-8:2014 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren. Teil 8: Rückwärtswellenoszillatorröhren – '0' Typ
  • OS GSO IEC 60235-5:2014 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren. Teil 5: Oszillator-Klystrone mit geringer Leistung
  • BH GSO IEC 60679-1:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • BH GSO IEC 60235-8:2016 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren. Teil 8: Rückwärtswellenoszillatorröhren – '0' Typ
  • OS GSO IEC 60679-1:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • GSO IEC 60679-1:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • GSO IEC 60235-8A:2014 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 8: Rückwärtswellenoszillatorröhren – „O“ Typ - Erste Ergänzung
  • GSO IEC 60679-4:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • GSO IEC 60679-5:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • BH GSO IEC 60679-5:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • BH GSO IEC 60679-4:2016 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • OS GSO IEC 60679-5:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • OS GSO IEC 60679-4:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • GSO IEC 60679-3:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • OS GSO IEC 60235-8A:2014 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 8: Rückwärtswellenoszillatorröhren – „O“ Typ - Erste Ergänzung
  • BH GSO IEC 60235-8A:2016 Messung der elektrischen Eigenschaften von Mikrowellenröhren – Teil 8: Rückwärtswellenoszillatorröhren – „O“ Typ - Erste Ergänzung
  • OS GSO IEC 60679-3:2014 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Oszillator

Professional Standard - Post and Telecommunication, Oszillator

  • YD 301-1983 Prüfverfahren für Pegeloszillator
  • YD/T 650-1994 Qualitätsbewertungskriterien eines 620-kHz-Pegeloszillators
  • YD/T 294-1982 Technische Hauptvoraussetzung für 620-kHz-Pegeloszillatoren

American National Standards Institute （ANSI), Oszillator

Group Standards of the People's Republic of China, Oszillator

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Oszillator

  • JJF 1982-2022 Kalibrierungsspezifikationen für Pegeloszillatoren
  • JJF(纺织) 105-2023 Kalibrierungsspezifikationen für Wasserbadoszillatoren mit konstanter Temperatur
  • JJF(纺织)105-2023 Kalibrierungsspezifikation für einen Wasserbadoszillator mit konstanter Temperatur
  • JJF 1984-2022 Spezifikation zur Kalibrierung von Quarzoszillatoren in elektronischen Messgeräten

IEC - International Electrotechnical Commission, Oszillator

  • PAS 60679-6-2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsleitfaden (Ausgabe 1.0)

Danish Standards Foundation, Oszillator

  • DS/EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • DS/EN 169200:1998 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
  • DS/EN 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • DS/EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • DS/EN 169201:1998 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationsgenehmigung)
  • DS/EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • DS/EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • DS/EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • DS/EN 60679-3:2002 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • DS/EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Oszillator

  • EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien
  • EN 169200:1995 Abschnittsspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung)
  • EN 169201:1995 Blank Detail Specification: Quartz Crystal Controlled Oscillators (Qualification Approval)
  • EN 60679-1:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität Teil 1: Fachgrundspezifikation (Enthält Änderung A1: 2002)
  • EN 60679-3:2001 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit geprüfter Qualität Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen
  • EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 3: Frequenzalterungstestmethoden

German Institute for Standardization, Oszillator

  • DIN IEC 60679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
  • DIN EN ISO 1797:2017-09 Zahnmedizin – Schäfte für rotierende und oszillierende Instrumente (ISO 1797:2017); Deutsche Fassung EN ISO 1797:2017
  • DIN 4235-1:1978 Verdichten von Beton durch Rütteln; Vibratoren und Vibrationsmechanik
  • DIN IEC 60679-2:1997-09 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
  • DIN EN 60679-6:2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011); Deutsche Fassung EN 60679-6:2011
  • DIN EN 169200:1996 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169200:1995
  • DIN EN 169200:1996-05 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169200:1995
  • DIN EN 169201:1996 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169201:1995
  • DIN EN 61338-2:2005 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen (IEC 61338-2:2004); Deutsche Fassung EN 61338-2:2004
  • DIN EN 61338-2:2005-02 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen (IEC 61338-2:2004); Deutsche Fassung EN 61338-2:2004
  • DIN EN 60747-16-5:2021-08 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Deutsche Fassung EN 60747-16-5:2013 + A1:2020 / Hinweis: DIN EN 60747-16-5 (2014-04) bleibt neben dieser Norm bis 2023 gültig...
  • DIN 4235-5:1978 Verdichten von Beton durch Rütteln; Verdichtung durch Flächenrüttler
  • DIN EN 169201:1996-05 Vordruck für Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Qualifikationszulassung); Deutsche Fassung EN 169201:1995
  • DIN EN 60679-1:2008 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2007); Deutsche Fassung EN 60679-1:2007
  • DIN 4235-4:1978 Verdichten von Beton durch Rütteln; Verdichtung vor Ort durch Schalungsrüttler
  • DIN EN 60679-5:1999-05 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5: Rahmenspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5:1998
  • DIN 4235-2:1978 Verdichten von Beton durch Rütteln; Verdichten durch Innenrüttler
  • DIN EN 60679-1:2018-04 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2017); Deutsche Fassung EN 60679-1:2017 / Hinweis: DIN EN 60679-1 (2008-02) bleibt neben dieser Norm bis zum 30.08.2020 gültig.
  • DIN EN 60747-16-5/A1:2019 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 47E/649/CD:2019); Text in Deutsch und Englisch
  • DIN EN 60679-5-1:1999-05 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5-1: Vordruck für Bauartspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5-1:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5-1:1998 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 60679-1 (1998-09), DIN EN 60679-5...
  • DIN EN 60679-4-1:1998-12 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4-1: Vordruck für Bauartspezifikation; Fähigkeitsgenehmigung (IEC 60679-4-1:1998); Deutsche Fassung EN 60679-4-1:1998 / Hinweis: Gilt in Verbindung mit DIN EN 60679-1 (2008-02), DIN EN 60679-4 (1...)
  • DIN EN 60679-4:1998-11 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4: Rahmenspezifikation - Fähigkeitszulassung (IEC 60679-4:1997); Deutsche Fassung EN 60679-4:1998
  • DIN 4235-3:1978 Verdichten von Beton durch Rütteln; Verdichtung durch Außenrüttler bei der Herstellung von Fertigteilen
  • DIN EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 4: Rahmenspezifikation - Fähigkeitszulassung (IEC 60679-4:1997); Deutsche Fassung EN 60679-4:1998
  • DIN EN 62884-1:2018-02 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Schwinger - Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung (IEC 62884-1:2017); Deutsche Fassung EN 62884-1:2017
  • DIN EN 60679-5:1999 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 5: Rahmenspezifikation; Qualifikationszulassung (IEC 60679-5:1998); Deutsche Fassung EN 60679-5:1998
  • DIN EN 62884-2:2018-05 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 2: Phasenjitter-Messverfahren (IEC 62884-2:2017); Deutsche Fassung EN 62884-2:2017
  • DIN EN 60679-3:2014-01 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität - Teil 3: Normskizzen und Leitungsanschlüsse (IEC 60679-3:2012); Deutsche Fassung EN 60679-3:2013 / Hinweis: DIN EN 60679-3 (2002-07) bleibt neben dieser Norm bis zum 18.01.2016 gültig.
  • DIN EN IEC 62884-3:2018-10 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 3: Frequenzalterungsprüfverfahren (IEC 62884-3:2018); Deutsche Fassung EN IEC 62884-3:2018

Defense Logistics Agency, Oszillator

未注明发布机构, Oszillator

  • DIN IEC 679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 2; Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
  • DIN EN 60679-1 E:2013-08 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • DIN EN 62884-1 E:2015-09 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger - Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung

SE-SIS, Oszillator

RU-GOST R, Oszillator

  • GOST 22866-1977 Quarzoszillatoren. Begriffe und Definitionen
  • GOST 16165-1980 Transistor-Ultraschallosillatoren für technologische Anlagen. Allgemeine Spezifikation
  • GOST 12152-1966 Frequenzgangmessgeräte und Generatoren mit schwankender Frequenz. Kontrollmethoden
  • GOST 16863-1971 Messgeneratoren für den Frequenzbereich 0,1-35 MHz. Methoden und Mittel zur Überprüfung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Oszillator

  • GB 12274-1990 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren Allgemeine Spezifikation für
  • GB 12275-1990 Nomenklatur des Quarzkristalloszillatormodells
  • GB/T 20870.5-2023 Halbleiterbauelemente Teil 16-5: Oszillatoren für integrierte Mikrowellenschaltungen
  • GB/T 12274.1-2012 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität. Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • GB/T 32710.13-2016 Sicherheitsanforderungen für Umweltprüf- und Konditionierungsgeräte. Teil 13: Schüttler, Schüttelwasserbäder und Schüttelinkubatoren
  • GB/T 43024.2-2023 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren Teil 2: Phasenjitter-Messmethoden
  • GB/T 12274.401-2023 Qualifizierte Quarzkristalloszillatoren Teil 4-1: Blanko-Detailspezifikation für die Fähigkeitsgenehmigung

American Water Works Association (AWWA), Oszillator

Lithuanian Standards Office , Oszillator

  • LST EN 60679-6-2011 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 6: Phasenjitter-Messverfahren für Quarzkristalloszillatoren und SAW-Oszillatoren – Anwendungsrichtlinien (IEC 60679-6:2011)
  • LST EN 169000+A1-2001 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren
  • LST EN 169200-2001 Abschnittsspezifikation. Quarzoszillatoren (Qualifikationszulassung)
  • LST EN 168200-2002/A1-2005 Abschnittsspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
  • LST EN 168200-2002 Abschnittsspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
  • LST EN 169100-2003 Rahmenspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
  • LST EN 169201-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzoszillatoren (Qualifikationszulassung)
  • LST EN 168201-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Qualifizierungszulassung)
  • LST EN 168101-2001 Leere Detailspezifikation. Quarzkristalleinheiten (Fähigkeitsnachweis)
  • LST EN 169101-2003 Blanko-Bauartspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung)
  • LST EN 61338-2-2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp. Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen (IEC 61338-2:2004)
  • LST EN 60747-16-5/A1-2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (IEC 60747-16-5:2013/A1:2020)
  • LST EN 60679-1-2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation (IEC 60679-1:2007)

PL-PKN, Oszillator

IET - Institution of Engineering and Technology, Oszillator

ES-UNE, Oszillator

  • UNE-EN ISO 1797:2017 Zahnmedizin – Schäfte für rotierende und oszillierende Instrumente (ISO 1797:2017) (Von der spanischen Normungsvereinigung im Juli 2017 gebilligt.)
  • UNE-EN 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen (Genehmigt von AENOR im November 2004.)
  • UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • UNE-EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren (Befürwortet von AENOR im Oktober 2013.)
  • UNE-EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Allgemeine Spezifikation (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Dezember 2017.)
  • UNE-EN 62884-1:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 1: Grundlegende Messmethoden (Von der spanischen Normungsvereinigung im November 2017 gebilligt.)
  • UNE-EN 60679-4:1998 QUARZKRISTALLGESTEUERTE OSZILLATOREN VON GEPRÜFTER QUALITÄT. TEIL 4: SEKTORIALE SPEZIFIKATION. FÄHIGKEITSGENEHMIGUNG. (Von AENOR im Juni 1998 bestätigt.)
  • UNE-EN 60679-5:1998 QUARZKRISTALLGESTEUERTE OSZILLATOREN VON GEPRÜFTER QUALITÄT. TEIL 5: ABSCHNITTSPEZIFIKATION. QUALIFIZIERUNGSGENEHMIGUNG (Von AENOR im November 1998 bestätigt.)
  • UNE-EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen (Genehmigt von AENOR im August 2013.)
  • UNE-EN 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Phasenjitter-Messmethode (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Januar 2018.)
  • UNE-EN IEC 62884-3:2018 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 3: Frequenzalterungstestmethoden (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Juni 2018.)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Oszillator

  • GB/T 35011-2018 Mikrowellenschaltungen – Messmethoden für spannungsgesteuerte Oszillatoren

Professional Standard - Aerospace, Oszillator

  • QJ 3047-1998 Detaillierte Spezifikationen für die spannungsgesteuerten Quarzoszillatoren Z602
  • QJ 3046-1998 Detaillierte Spezifikationen für die spannungsgesteuerten Quarzoszillatoren Z601
  • QJ 2658-1994 Detailspezifikation für den integrierten Halbleiterschaltkreis TTL-Megahertz-Hauptfrequenzoszillator MF05

CZ-CSN, Oszillator

IN-BIS, Oszillator

  • IS 9018-1978 Allgemeine Anforderungen und Prüfungen für Quarzkristalloszillatoren
  • IS 6134 Pt.2-1973 Messmethoden für Mikrowellenröhren Teil Ⅱ Oszillatorröhren
  • IS 2916 Pt.8-1976 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren Teil VIII Typ AA-07 verwendet werden
  • IS 2916 Pt.9-1976 Spezifikation für Quarzkristallgeräte, die in Oszillatoren Teil IX Typ AA-08 verwendet werden
  • IS 2916 Pt.10-1977 Spezifikation für Quarzkristalleinheiten, die in Oszillatoren Teil X Typ AA-09 verwendet werden
  • IS 6134 Pt.6-1981 Messmethoden für elektrische Eigenschaften von Mikrowellenröhren Teil 6 Oszillator mit geringer Leistung Klystron

RO-ASRO, Oszillator

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Oszillator

  • EN 60747-16-5:2013 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • EN 60747-16-5:2013/A1:2020 Halbleiterbauelemente – Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen – Oszillatoren
  • EN 169101:1993 Blanko-Detailspezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Fähigkeitsgenehmigung) (bleibt aktuell)
  • EN 60679-1:2007 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • EN 60679-1:2017 Piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 1: Fachgrundspezifikation
  • EN 61338-2:2004 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp Teil 2: Richtlinien für Oszillator- und Filteranwendungen
  • EN 60679-5:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 5: Rahmenspezifikation – Qualifizierungszulassung
  • EN 60679-4:1998 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungszulassung
  • EN 169000:1998 Allgemeine Spezifikation: Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren (Enthält Änderung A1: 1998)
  • EN 62884-1:2017 Messtechniken piezoelektrischer, dielektrischer und elektrostatischer Schwinger - Teil 1: Grundlegende Methoden zur Messung
  • EN 62884-2:2017 Messtechniken für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren – Teil 2: Phasenjitter-Messverfahren
  • EN 60679-3:2013 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren bewerteter Qualität - Teil 3: Standardkonturen und Anschlussverbindungen

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Oszillator

AT-OVE/ON, Oszillator

  • OVE EN 60747-16-5-2021 Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltungen - Oszillatoren (deutsche Version)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Oszillator

  • GB/T 12274.4-2021 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren mit bewerteter Qualität – Teil 4: Rahmenspezifikation – Eignungsgenehmigung

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Oszillator

  • IEEE 1620.1-2006 Testmethoden zur Charakterisierung organischer Transistor-basierter Ringoszillatoren (IEEE Computer Society)

  Oszillator, Oszillator+, Mischoszillator, Oszillator mit konstanter Temperatur, Wellenoszillator, Verwendung des Oszillators, kleiner Oszillator, Rotationsoszillator, Wirbelstromoszillator, Wirbelstromoszillator, Rotationsoszillator, Mikrooszillator, Oszillator mit konstanter Temperatur, Andere Oszillatoren, Oszillatorthermostat, Multibit-Oszillator, Oszillator-Mix, Hocheffizienter Oszillator, Hochfrequenzoszillator, Geräteoszillator.

 



©2007-2024Alle Rechte vorbehalten