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chip semiconductor

chip semiconductor, Total: 56 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en chip semiconductor son: Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos semiconductores, Herramientas de corte, Materiales aislantes, Materiales semiconductores, Juegos de caracteres y codificación de información., Aplicaciones de la tecnología de la información..


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, chip semiconductor

  • GB/T 35010.6-2018 Productos de matriz semiconductores. Parte 6: Requisitos relacionados con la simulación térmica.
  • GB/T 35010.2-2018 Productos de matrices semiconductoras: Parte 2: Formatos de datos de intercambio
  • GB/T 35010.5-2018 Productos de matriz semiconductores. Parte 5: Requisitos relacionados con la simulación eléctrica.
  • GB/T 35010.1-2018 Productos de matriz semiconductores. Parte 1: Requisitos de adquisición y uso.
  • GB/T 35010.7-2018 Productos de matrices semiconductoras: Parte 7: Esquema XML para el intercambio de datos
  • GB/T 35010.8-2018 Productos de matrices semiconductoras: Parte 8: Esquema del modelo EXPRESS para el intercambio de datos
  • GB/T 35010.4-2018 Productos de troqueles semiconductores. Parte 4: Requisitos para usuarios y proveedores de troqueles.
  • GB/T 35010.3-2018 Productos de matriz semiconductores. Parte 3: Guía para manipulación, embalaje y almacenamiento.

Danish Standards Foundation, chip semiconductor

ES-UNE, chip semiconductor

  • UNE-EN 62258-1:2010 Troqueles semiconductores -- Parte 1: Adquisición y utilización (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)
  • UNE-EN 62258-2:2011 Troqueles semiconductores - Parte 2: Formatos de datos de intercambio (Ratificada por AENOR en octubre de 2011.)
  • UNE-EN 62258-6:2006 Troqueles semiconductores -- Parte 6: Requisitos de información sobre simulación térmica (IEC 62258-6:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
  • UNE-EN 62258-5:2006 Troqueles semiconductores -- Parte 5: Requisitos de información relativa a la simulación eléctrica (IEC 62258-5:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Association Francaise de Normalisation, chip semiconductor

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, chip semiconductor

  • EN 62258-2:2005 Productos de matrices semiconductoras Parte 2: Formatos de datos de intercambio
  • EN 62258-2:2011 Productos de matrices semiconductoras - Parte 2: Formatos de datos de intercambio
  • ES 59008-4-3-1999 Requisitos de datos para matrices semiconductoras Parte 4-3: Requisitos y recomendaciones específicos - Térmicos
  • ES 59008-5-1-2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras Parte 5-1: Requisitos particulares y recomendaciones para tipos de matrices: matrices desnudas
  • ES 59008-4-4-1999 Requisitos de datos para matrices semiconductoras Parte 4-4: Requisitos específicos y recomendaciones Simulación eléctrica
  • ES 59008-4-2-2000 2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras - Parte 4-2: Requisitos y recomendaciones específicos Manejo y almacenamiento
  • ES 59008-5-3-2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras - Parte 5-3: Requisitos particulares y recomendaciones para tipos de matrices - Matrices con empaque mínimo

German Institute for Standardization, chip semiconductor

  • DIN EN 62258-2:2011-12 Productos de matrices semiconductoras. Parte 2: Formatos de datos de intercambio (IEC 62258-2:2011); Versión en inglés EN 62258-2:2011 / Nota: DIN EN 62258-2 (2005-12) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 29 de junio de 2014.
  • DIN EN 62258-6:2007-02 Productos de matriz semiconductores. Parte 6: Requisitos de información relativa a la simulación térmica (IEC 62258-6:2006); Versión alemana EN 62258-6:2006 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 62258-1 (2011-04), DIN EN 62258-2 (2011-12).
  • DIN EN 62258-5:2007-02 Productos de matriz semiconductores. Parte 5: Requisitos de información relativa a la simulación eléctrica (IEC 62258-5:2006); Versión alemana EN 62258-5:2006 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 62258-1 (2011-04), DIN EN 62258-2 (2011-12).
  • DIN 50441-2:1998 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 2: Ensayos del perfil de los bordes.
  • DIN EN 62258-2:2011 Productos de matrices semiconductoras. Parte 2: Formatos de datos de intercambio (IEC 62258-2:2011); Versión en inglés EN 62258-2:2011

British Standards Institution (BSI), chip semiconductor

  • PD IEC/TR 62258-7:2007 Productos de matrices semiconductoras. Esquema XML para el intercambio de datos.
  • PD IEC/TR 62258-8:2008 Productos de matrices semiconductoras. Esquema del modelo EXPRESS para el intercambio de datos.
  • BS PD CLC/TR 62258-4:2013 Productos de matrices semiconductoras. Cuestionario para usuarios y proveedores de troqueles.
  • PD ES 59008-4-1:2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras. Requisitos y recomendaciones específicas. Prueba y calidad
  • PD CLC/TR 62258-3:2007 Productos de matrices semiconductoras. Recomendaciones de buenas prácticas en manipulación, embalaje y almacenamiento
  • PD ES 59008-6-2:2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras. Intercambio de formatos de datos y diccionario de datos. Diccionario de datos
  • PD ES 59008-5-3:2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras. Requisitos y recomendaciones particulares para tipos de matrices. Troquel mínimamente empaquetado
  • PD ES 59008-5-2:2001 Requisitos de datos para matrices semiconductoras. Requisitos y recomendaciones particulares para tipos de matrices. Troquel desnudo con estructuras de conexión añadidas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, chip semiconductor

  • GB/T 43136-2023 Productos superabrasivos: muelas abrasivas para trazar con precisión chips semiconductores

SE-SIS, chip semiconductor

  • SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

Association of German Mechanical Engineers, chip semiconductor

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), chip semiconductor

  • CLC/TR 62258-4-2013 Productos de matrices semiconductores - Parte 4: Cuestionario para usuarios y proveedores de matrices
  • CLC/TR 62258-4:2013 Productos de matrices semiconductores - Parte 4: Cuestionario para usuarios y proveedores de matrices
  • CLC/TR 62258-7:2007 Productos de matrices semiconductoras - Parte 7: Esquema XML para el intercambio de datos
  • CLC/TR 62258-8:2008 Productos de matriz semiconductores - Parte 8: Esquema del modelo EXPRESS para el intercambio de datos
  • CLC/TR 62258-3:2007 Productos de matriz semiconductores - Parte 3: Recomendaciones de buenas prácticas en manipulación, embalaje y almacenamiento

Lithuanian Standards Office , chip semiconductor

  • LST EN 62258-2-2011 Productos de matrices semiconductoras. Parte 2: Formatos de datos de intercambio (IEC 62258-2:2011)

PT-IPQ, chip semiconductor

  • NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

未注明发布机构, chip semiconductor

  • BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, chip semiconductor

  • JEDEC JESD49A.01-2013 Estándar de adquisiciones para productos de matrices semiconductoras, incluidas matrices en buen estado (KGD) (Revisión menor de JESD49, SEPTIEMBRE de 2005, reafirmada en enero de 2009)

Group Standards of the People's Republic of China, chip semiconductor

Professional Standard - Electron, chip semiconductor

  • SJ/T 10416-1993 Apecificación genérica de chip para dispositivos semiconductores discretos.




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