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Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios., Total: 102 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios. son: Química analítica, pruebas de metales, Materiales semiconductores, Dispositivos semiconductores, Pilas y baterías galvánicas., Métodos generales de pruebas y análisis para productos alimenticios., Calidad del aire.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

GB/T 40129-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
GB/T 39144-2020 Método de prueba para el contenido de magnesio en materiales de nitruro de galio: espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 41153-2021 Determinación del contenido de impurezas de boro, aluminio y nitrógeno en un monocristal de carburo de silicio: espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

International Organization for Standardization (ISO), Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

ISO 13084:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo.
ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
ISO/TS 22933:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para medir la resolución de masas en SIMS.
ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 14237:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
ISO 178:1975 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2013 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 178:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con recuento de iones individuales.
ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio
ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.
ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
ISO 22415:2019 Análisis químico de superficie. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
ISO 16740:2005 Aire en el lugar de trabajo. Determinación de cromo hexavalente en partículas suspendidas en el aire. Método mediante cromatografía iónica y medición espectrofotométrica utilizando difenil carbazida.
ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas

British Standards Institution (BSI), Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

BS ISO 13084:2011 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
BS ISO 13084:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
BS ISO 22048:2004 Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios.
BS ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
20/30409889 DC BS ISO 18114. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
BS ISO 17862:2022 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS ISO 18114:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
BS EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio
20/30409963 DC BS ISO 17862. Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
BS EN IEC 62485-5:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio
BS ISO 22415:2019 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para determinar el volumen de rendimiento en el perfilado de profundidad de pulverización catódica de racimos de argón de materiales orgánicos.
BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

JIS K 0157:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Calibración de la escala de masas para un espectrómetro de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
JIS K 0153:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidad relativa en espectrometría de masas de iones secundarios estática
JIS K 0168:2011 Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
JIS K 0155:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Linealidad de la escala de intensidad en analizadores de masas de tiempo de vuelo con conteo de iones individuales
JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
JIS K 0156:2018 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para la calibración en profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
JIS K 0169:2012 Análisis químico de superficie - Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) - Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta

American Society for Testing and Materials (ASTM), Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

ASTM E1504-11 Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1504-11(2019) Práctica estándar para informar datos espectrales de masas en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1162-87(2001) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1162-87(1996) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E2695-09 Guía estándar para la interpretación de datos espectrales de masas adquiridos con espectroscopía de masas de iones secundarios de tiempo de vuelo
ASTM E1162-11 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1635-95(2000) Práctica estándar para informar datos de imágenes en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1635-06(2019) Práctica estándar para informar datos de imágenes en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM E1162-11(2019) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
ASTM C1590-21 Práctica estándar para la calibración alternativa de actínidos para espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente
ASTM C1590-04(2014) Práctica estándar para la calibración alternativa de actínidos para espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente

Association Francaise de Normalisation, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

NF ISO 23830:2009 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Repetibilidad y constancia de la escala de intensidades relativas en espectrometría de masas estática de iones secundarios
NF X21-070*NF ISO 14237:2010 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
NF ISO 14237:2010 Analizar la química de las superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Dosificación de los átomos de diámetro interior del silicio con ayuda de materiales dopés uniformes
NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
NF C58-485-5*NF EN IEC 62485-5:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio.
NF ISO 23812:2009 Análisis químico de superficies: espectrometría de masas de iones secundarios: método para la calibración de profundidad del silicio utilizando múltiples materiales de referencia de capa delta
NF C58-485-6*NF EN IEC 62485-6:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.
NF X43-204*NF ISO 16740:2005 Aire en el lugar de trabajo. Determinación de cromo hexavalente en partículas suspendidas en el aire. Método mediante cromatografía iónica y medición espectrofotométrica utilizando difenil carbazida.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

GB/T 42263-2022 Determinación del contenido de nitrógeno en monocristal de silicio: método de espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 25186-2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones.
GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.
GB/T 24580-2009 Método de prueba para medir la contaminación por boro en sustratos de silicio tipo n fuertemente dopados mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 20176-2006 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente.
GB/T 24575-2009 Método de prueba para medir sodio, aluminio, potasio y hierro en superficies sobre sustratos de silicio y epi mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 29851-2013 Método de prueba para medir boro y aluminio en materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 29852-2013 Método de prueba para medir fósforo, arsénico y antimonio en materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 32281-2015 Método de prueba para medir oxígeno, carbono, boro y fósforo en obleas y materias primas de silicio solar. Espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 42274-2022 Determinación del contenido y distribución de oligoelementos (magnesio, galio) en materiales de nitruro de aluminio. Espectrometría de masas de iones secundarios.
GB/T 22572-2008 Un método para estimar parámetros resueltos en profundidad utilizando materiales de referencia en capas multidelta para espectrometría de masas de iones secundarios en química de superficies

Professional Standard - Electron, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

SJ/T 11493-2015 Método de prueba para medir la concentración de nitrógeno en sustratos de silicio mediante espectrometría de masas de iones secundarios
SJ/T 11498-2015 Método de prueba para medir la contaminación por oxígeno en sustratos de silicio fuertemente dopados mediante espectrometría de masas de iones secundarios

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

KS D ISO 22048-2005(2020) Análisis químico de superficies: formato de información para espectrometría de masas estática de iones secundarios
KS D ISO 18114-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Determinación de factores de sensibilidad relativa a partir de materiales de referencia implantados con iones
KS D ISO 20341-2005(2020) Análisis químico de superficie－Espectrometría de masas de iones secundarios－Método para estimar parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta
KS C IEC 62485-5:2022 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio.
KS C IEC 62485-6:2022 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.
KS I ISO 16740:2007 Aire en el lugar de trabajo－Determinación de cromo hexavalente en partículas suspendidas en el aire－Método mediante cromatografía iónica y medición espectrofotométrica utilizando difenil carbazida

未注明发布机构, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

BS ISO 22048:2004(2005) Análisis químico de superficies. Formato de información para espectrometría de masas de iones secundarios estáticos.
BS EN IEC 62485-5:2021(2022) Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio.
BS ISO 20341:2003(2010) Análisis químico de superficies. Secundario: espectrometría de masas de iones. Método para estimar los parámetros de resolución de profundidad con múltiples materiales de referencia de capa delta.

Group Standards of the People's Republic of China, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

T/CASAS 010-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de GaN mediante espectrometría de masas de iones secundarios
T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios

KR-KS, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

KS D ISO 17560-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de medición de la distribución de profundidad del boro en silicio
KS D ISO 14237-2003(2023) Análisis de geometría de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para medir la concentración de átomos de boro añadidos uniformemente en el silicio
KS C IEC 62485-5-2022 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio.
KS C IEC 62485-6-2022 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 6: Funcionamiento seguro de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

EN IEC 62485-5:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio.

International Electrotechnical Commission (IEC), Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

IEC 62485-5:2020 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio.
IEC 62485-5:2020/COR1:2022 Corrigendum 1 - Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías - Parte 5: Operación segura de baterías estacionarias de iones de litio
IEC 62485-6:2021/COR1:2023 Corrigendum 1 - Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías - Parte 6: Operación segura de baterías de iones de litio en aplicaciones de tracción

国家质量监督检验检疫总局, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

SN/T 4585-2016 Determinación de residuos de ácido metilarsónico y ácido dimetilarsínico en alimentos exportados mediante cromatografía líquida-espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente

Lithuanian Standards Office , Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

LST EN IEC 62485-5:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio (IEC 62485-5:2020)

PL-PKN, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

PN-EN IEC 62485-5-2021-08 E Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio (IEC 62485-5:2020)

German Institute for Standardization, Operaciones de espectrometría de masas de iones secundarios.

DIN EN IEC 62485-5:2021 Requisitos de seguridad para baterías secundarias e instalaciones de baterías. Parte 5: Funcionamiento seguro de baterías estacionarias de iones de litio (IEC 62485-5:2020); Versión alemana EN IEC 62485-5:2021