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métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

métodos de espectrometría de masas de iones secundarios, Total: 13 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en métodos de espectrometría de masas de iones secundarios son: Materiales semiconductores, Dispositivos semiconductores, Química analítica.

Professional Standard - Electron, métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

SJ/T 11493-2015 Método de prueba para medir la concentración de nitrógeno en sustratos de silicio mediante espectrometría de masas de iones secundarios
SJ/T 11498-2015 Método de prueba para medir la contaminación por oxígeno en sustratos de silicio fuertemente dopados mediante espectrometría de masas de iones secundarios

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

GB/T 24580-2009 Método de prueba para medir la contaminación por boro en sustratos de silicio tipo n fuertemente dopados mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 24575-2009 Método de prueba para medir sodio, aluminio, potasio y hierro en superficies sobre sustratos de silicio y epi mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 29851-2013 Método de prueba para medir boro y aluminio en materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 29852-2013 Método de prueba para medir fósforo, arsénico y antimonio en materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de iones secundarios
GB/T 32495-2016 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.

Group Standards of the People's Republic of China, métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

T/CASAS 010-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de GaN mediante espectrometría de masas de iones secundarios
T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

JIS K 0158:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos
JIS K 0164:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio

British Standards Institution (BSI), métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

BS ISO 20411:2018 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método de corrección para intensidad saturada en espectrometría de masas dinámica de iones secundarios con recuento de iones únicos

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, métodos de espectrometría de masas de iones secundarios

GB/T 40109-2021 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el boro en silicio.