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Detección por espectrometría de masas de iones secundarios.

Detección por espectrometría de masas de iones secundarios., Total: 4 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Detección por espectrometría de masas de iones secundarios. son: Materiales semiconductores, Dispositivos semiconductores.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Detección por espectrometría de masas de iones secundarios.

  • GB/T 24580-2009 Método de prueba para medir la contaminación por boro en sustratos de silicio tipo n fuertemente dopados mediante espectrometría de masas de iones secundarios
  • GB/T 24575-2009 Método de prueba para medir sodio, aluminio, potasio y hierro en superficies sobre sustratos de silicio y epi mediante espectrometría de masas de iones secundarios

Group Standards of the People's Republic of China, Detección por espectrometría de masas de iones secundarios.

  • T/CASAS 010-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de GaN mediante espectrometría de masas de iones secundarios
  • T/CASAS 009-2019 Determinación de la concentración y distribución de trazas de impurezas en materiales de SiC semiaislantes mediante espectrometría de masas de iones secundarios




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